AtomExplorer: Kính hiển vi quét đầu dò độ chính xác cao (SPM/AFM)

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản là một kính hiển vi nano tiên tiến được thiết kế để cung cấp khả năng chụp ảnh có độ chính xác cao và đo lường đa chức năng cho nhiều ứng dụng khoa học và công nghiệp. Dụng cụ tiên tiến này sử dụng phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ, cho phép người dùng phân tích tỉ mỉ bề mặt mẫu với độ chính xác và chi tiết đặc biệt. Cho dù bạn đang tiến hành nghiên cứu trong lĩnh vực khoa học vật liệu, sinh học hay công nghệ nano, kính hiển vi lực nguyên tử này đều cung cấp tính linh hoạt và hiệu suất cần thiết để đáp ứng các yêu cầu khắt khe của bạn.

Một trong những tính năng nổi bật của kính hiển vi nano này là bộ công cụ đo lường đa chức năng toàn diện. Nó hỗ trợ Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Phạm vi khả năng này cho phép người dùng khám phá không chỉ địa hình của các mẫu mà còn cả các đặc tính điện, áp điện và từ của chúng. Việc bao gồm Kính hiển vi lực từ MFM đặc biệt có giá trị đối với các nhà nghiên cứu đang nghiên cứu vật liệu từ tính, màng mỏng và cấu trúc nano, cung cấp những hiểu biết chi tiết về các miền từ và tương tác ở quy mô nano.

Các chế độ hoạt động có sẵn trên kính hiển vi lực nguyên tử này giúp tăng cường khả năng thích ứng và dễ sử dụng của nó. Người dùng có thể chọn từ Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha tùy thuộc vào bản chất của mẫu và loại dữ liệu cần thiết. Chế độ Chạm lý tưởng để chụp ảnh các mẫu mềm hoặc mỏng manh với thiệt hại tối thiểu, trong khi Chế độ Tiếp xúc cung cấp khả năng chụp ảnh độ phân giải cao cho các bề mặt cứng hơn. Chế độ Nâng tạo điều kiện cho các phép đo không tiếp xúc như lực từ và tĩnh điện, giảm hao mòn đầu dò và nhiễu mẫu. Chế độ Chụp ảnh Pha cung cấp thêm độ tương phản dựa trên các đặc tính vật liệu, cho phép lập bản đồ thành phần chi tiết.

Để đảm bảo tuổi thọ và độ tin cậy của đầu dò kính hiển vi, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản kết hợp Công nghệ bảo vệ đầu dò sáng tạo được gọi là Chế độ chèn kim an toàn. Tính năng này giảm thiểu rủi ro hư hỏng đầu dò trong quá trình chèn và thiết lập, điều này rất quan trọng để duy trì chất lượng hình ảnh nhất quán và giảm chi phí vận hành. Quy trình chèn kim an toàn cũng đơn giản hóa việc chuẩn bị mẫu và vận hành kính hiển vi, giúp nó dễ tiếp cận cho cả người dùng có kinh nghiệm và những người mới làm quen với kính hiển vi lực nguyên tử.

Chất lượng và độ phân giải hình ảnh là những yếu tố quan trọng trong kính hiển vi nano và dụng cụ này vượt trội với phạm vi lấy mẫu hình ảnh ấn tượng từ 32*32 đến 4096*4096 điểm. Phạm vi rộng này cho phép người dùng cân bằng tốc độ quét và chi tiết hình ảnh theo nhu cầu cụ thể của họ, từ quét tổng quan nhanh đến chụp ảnh siêu phân giải cao. Khả năng lấy mẫu mật độ cao đảm bảo rằng ngay cả các đặc điểm và biến thể bề mặt nhỏ nhất cũng có thể được chụp và phân tích chính xác.

Đối với các nhà nghiên cứu và các chuyên gia đang tìm mua một kính hiển vi lực nguyên tử kết hợp tính linh hoạt, độ chính xác và các tính năng thân thiện với người dùng, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản là một lựa chọn tuyệt vời. Hệ thống quét mạnh mẽ, các chế độ đo lường đa chức năng bao gồm Kính hiển vi lực từ MFM và công nghệ bảo vệ đầu dò tiên tiến của nó cùng nhau cung cấp một nền tảng mạnh mẽ để điều tra ở quy mô nano. Cho dù bạn tập trung vào nghiên cứu cơ bản hay phát triển ứng dụng, kính hiển vi nano này cung cấp các công cụ thiết yếu để mở ra những hiểu biết mới và thúc đẩy sự đổi mới.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản nổi bật là một dụng cụ đáng tin cậy và đa chức năng được trang bị khả năng quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ, nhiều chế độ hoạt động và các khả năng đo lường chuyên biệt như EFM, KPFM, PFM và MFM. Chế độ chèn kim an toàn của nó đảm bảo bảo vệ đầu dò và phạm vi lấy mẫu hình ảnh rộng đảm bảo chụp ảnh chi tiết và chính xác. Nếu bạn muốn mua công nghệ kính hiển vi lực nguyên tử đáp ứng các tiêu chuẩn cao nhất về phân tích nano, sản phẩm này được thiết kế để vượt quá mong đợi của bạn và hỗ trợ các nỗ lực nghiên cứu của bạn với độ chính xác và sự tự tin.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản
• AFM độ phân giải dưới nano để phân tích bề mặt chính xác
• Phạm vi quét: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Các phép đo đa chức năng bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM)
• Điểm lấy mẫu hình ảnh: từ 32 * 32 đến 4096 * 4096 để chụp ảnh độ phân giải cao
• Phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ để bao phủ bề mặt toàn diện
• Chế độ hoạt động: Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha
• AFM lý tưởng cho nghiên cứu khoa học và đặc tính bề mặt vật liệu tiên tiến

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản Truth Instruments AtomExplorer, có nguồn gốc từ Trung Quốc, là một dụng cụ đo lường đa chức năng tiên tiến được thiết kế cho nhiều ứng dụng khoa học và công nghiệp. Với các khả năng đa dạng của nó bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi đầu dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM), mẫu AFM này cung cấp các giải pháp toàn diện để đặc tính và phân tích bề mặt ở quy mô nano.

AtomExplorer đặc biệt phù hợp với các phòng thí nghiệm nghiên cứu và phát triển tham gia vào phân tích cấu trúc nano. AFM độ phân giải dưới nano của nó cho phép các nhà nghiên cứu hình dung và đo địa hình bề mặt với độ chính xác đặc biệt, chụp các điểm lấy mẫu hình ảnh từ 32*32 đến 4096*4096. Độ phân giải cao này là điều cần thiết để nghiên cứu các vật liệu nano mỏng manh, màng mỏng và các cụm phân tử phức tạp, nơi thông tin bề mặt chi tiết là rất quan trọng.

Ngoài việc chụp ảnh địa hình, chức năng Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM) của AtomExplorer cho phép các nhà khoa học điều tra các đặc tính điện ở quy mô nano, chẳng hạn như phân bố điện tích và các biến thể thế bề mặt. Điều này làm cho nó trở thành một công cụ vô giá cho khoa học vật liệu, nghiên cứu chất bán dẫn và nanoelectronics, nơi hiểu các tương tác tĩnh điện là chìa khóa cho hiệu suất và sự đổi mới của thiết bị.

Các tùy chọn phạm vi quét của dụng cụ là 100 μm*100 μm*10 μm và 30 μm*30 μm*5 μm phù hợp với nhiều kích thước mẫu và nhu cầu đo lường, với kích thước mẫu tối đa là Φ 25 mm. Mức ồn trục Z thấp là 0,04 nm giúp tăng cường hơn nữa độ chính xác đo lường, đảm bảo thu thập dữ liệu ổn định và đáng tin cậy ngay cả trong các điều kiện thử nghiệm đầy thách thức.

Thiết kế nhỏ gọn và tính đa chức năng của AtomExplorer cũng làm cho nó trở nên lý tưởng cho các tổ chức giáo dục và môi trường kiểm soát chất lượng, nơi cần có tính linh hoạt và độ chính xác. Giá cả có thể thương lượng, giúp nó có thể tiếp cận với nhiều người dùng đang tìm kiếm công nghệ AFM hiệu suất cao mà không ảnh hưởng đến các cân nhắc về ngân sách.

Nhìn chung, AFM loại Cơ bản Truth Instruments AtomExplorer là một công cụ mạnh mẽ và linh hoạt cho bất kỳ ai tham gia vào phân tích cấu trúc nano, kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM) và các kỹ thuật thăm dò quét tiên tiến khác. Nó trao quyền cho người dùng khám phá và định lượng các hiện tượng ở quy mô nano với sự tự tin và rõ ràng.