AtomExplorer: Mikroskop Probe Pindai Presisi Tinggi (SPM/AFM)

Deskripsi produk:

The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsInstrumen canggih ini menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, yang memungkinkan pengguna untuk menganalisis permukaan sampel dengan cermat dan detail yang luar biasa.Apakah Anda melakukan penelitian dalam ilmu material, biologi, atau nanoteknologi, mikroskop kekuatan atom ini menawarkan fleksibilitas dan kinerja yang dibutuhkan untuk memenuhi persyaratan yang menuntut.

Salah satu fitur menonjol dari mikroskop nanoscale ini adalah rangkaian komprehensif dari mode pengukuran multifungsi.Pemindaian Mikroskopi Probe Kelvin (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM).piezoelektrik, dan sifat magnetik. Penggabungan Mikroskopi Kekuatan Magnetik MFM sangat berharga bagi para peneliti yang mempelajari bahan magnetik, film tipis, dan nanostruktur,memberikan wawasan rinci tentang domain magnetik dan interaksi pada skala nanometer.

Modus operasi yang tersedia pada mikroskop kekuatan atom ini meningkatkan kemampuan beradaptasi dan kemudahan penggunaannya.dan Mode Pencitraan Fase tergantung pada sifat sampel mereka dan jenis data yang diperlukan. Tap Mode sangat ideal untuk pencitraan sampel lunak atau halus dengan kerusakan minimal, sementara Mode Kontak menawarkan pencitraan resolusi tinggi untuk permukaan yang lebih keras.Lift Mode memfasilitasi pengukuran non-kontak seperti kekuatan magnetik dan elektrostatikMode Imaging Fase memberikan kontras tambahan berdasarkan sifat material, memungkinkan pemetaan komposisi yang terperinci.

Memastikan umur panjang dan keandalan probe mikroskop, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic menggabungkan Teknologi Perlindungan Ujung inovatif yang dikenal sebagai Safe Needle Insertion Mode.Fitur ini meminimalkan risiko kerusakan ujung selama penyisipan dan pengaturan, yang sangat penting untuk menjaga kualitas pencitraan yang konsisten dan mengurangi biaya operasi.membuatnya dapat diakses baik untuk pengguna berpengalaman dan mereka yang baru untuk mikroskop kekuatan atom.

Kualitas gambar dan resolusi merupakan faktor penting dalam mikroskop nanoskala, dan instrumen ini unggul dengan rentang pengambilan sampel gambar yang mengesankan dari 32*32 hingga 4096*4096 poin.Rentang yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menyeimbangkan kecepatan pemindaian dan detail gambar sesuai dengan kebutuhan spesifik mereka, dari pemindaian gambaran cepat ke pencitraan resolusi ultra tinggi.Kemampuan pengambilan sampel dengan kepadatan tinggi memastikan bahwa bahkan fitur dan variasi permukaan terkecil dapat ditangkap dan dianalisis dengan akurat.

Untuk para peneliti dan profesional yang ingin membeli mikroskop kekuatan atom yang menggabungkan fleksibilitas, presisi, dan fitur user-friendly,Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar adalah pilihan yang sangat baikSistem pemindaian yang kuat, mode pengukuran multifungsi termasuk Magnetic Force Microscopy MFM,dan teknologi perlindungan ujung canggih secara kolektif memberikan platform yang kuat untuk penyelidikan nanoscaleApakah fokus Anda pada penelitian dasar atau pengembangan terapan, mikroskop skala nano ini menyediakan alat penting untuk membuka wawasan baru dan mendorong inovasi.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic menonjol sebagai instrumen yang dapat diandalkan dan multifungsi yang dilengkapi dengan pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, berbagai mode operasi,dan kemampuan pengukuran khusus seperti EFM, KPFM, PFM, dan MFM. Safe Needle Insertion Mode memastikan perlindungan probe, dan rentang pengambilan sampel gambar yang luas menjamin pencitraan yang rinci dan akurat.Jika Anda ingin membeli teknologi mikroskop kekuatan atom yang memenuhi standar tertinggi dari analisis nanoscale, produk ini dirancang untuk melampaui harapan Anda dan mendukung upaya penelitian Anda dengan presisi dan kepercayaan.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar
• AFM resolusi sub-nanometer untuk analisis permukaan yang tepat
• Jangkauan pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Pengukuran multifungsi termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), dan Magnetic Force Microscope (MFM)
• Titik Sampling Gambar: dari 32 * 32 hingga 4096 * 4096 untuk pencitraan resolusi tinggi
• XYZ Metode Pemindaian Sampel Penuh Tiga Poros untuk penutup permukaan yang komprehensif
• Mode Operasi: Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, dan Mode Pembuatan Gambar Fase
• AFM ideal untuk penelitian ilmiah dan karakteristik permukaan bahan canggih

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomExplorer Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM), berasal dari Cina,adalah instrumen pengukuran multifungsi canggih yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industriDengan kemampuan serbaguna termasuk Electrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM),model AFM ini menawarkan solusi komprehensif untuk karakteristik dan analisis permukaan nanoscale.

AtomExplorer sangat cocok untuk laboratorium penelitian dan pengembangan yang terlibat dalam analisis struktur nano.AFM resolusi sub-nanometernya memungkinkan para peneliti untuk memvisualisasikan dan mengukur topografi permukaan dengan presisi yang luar biasa, menangkap titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 sampai 4096*4096. resolusi tinggi ini penting untuk mempelajari nanomaterial halus, film tipis,dan kumpulan molekul yang kompleks di mana informasi permukaan yang rinci sangat penting.

Selain pencitraan topografi, fungsi Mikroskopi Kekuatan Elektrostatik (EFM) dari AtomExplorer memungkinkan para ilmuwan untuk menyelidiki sifat listrik pada skala nano,seperti distribusi muatan dan variasi potensial permukaanHal ini membuatnya menjadi alat yang sangat berharga untuk ilmu material, penelitian semikonduktor, dan nanoelektronika, di mana memahami interaksi elektrostatik adalah kunci untuk kinerja perangkat dan inovasi.

Opsi rentang pemindaian instrumen 100 μm*100 μm*10 μm dan 30 μm*30 μm*5 μm mengakomodasi berbagai ukuran sampel dan kebutuhan pengukuran, dengan ukuran sampel maksimum Φ 25 mm.Tingkat kebisingan sumbu Z rendah 0.04 nm lebih meningkatkan akurasi pengukuran, memastikan akuisisi data yang stabil dan dapat diandalkan bahkan di bawah kondisi eksperimen yang menantang.

Desain kompak dan multifungsi AtomExplorer juga membuatnya ideal untuk lembaga pendidikan dan lingkungan kontrol kualitas di mana fleksibilitas dan presisi diperlukan.Harganya bisa dinegosiasikan, membuatnya dapat diakses oleh pengguna yang mencari teknologi AFM berkinerja tinggi tanpa mengorbankan pertimbangan anggaran.

Secara keseluruhan Truth Instruments AtomExplorer AFM tipe dasar adalah alat yang kuat dan fleksibel untuk siapa saja yang terlibat dalam analisis struktur nano, mikroskop gaya elektrostatik (EFM),dan teknik penginderaan canggih lainnyaHal ini memberdayakan pengguna untuk mengeksplorasi dan mengukur fenomena nanoskala dengan percaya diri dan kejelasan.