AtomExplorer: Mikroskop Probe Pindai Presisi Tinggi (SPM/AFM)

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar adalah mikroskop skala nano canggih yang dirancang untuk memberikan pencitraan presisi tinggi dan kemampuan pengukuran multifungsi untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Instrumen canggih ini menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, yang memungkinkan pengguna untuk menganalisis permukaan sampel secara cermat dengan akurasi dan detail yang luar biasa. Baik Anda melakukan penelitian di bidang ilmu material, biologi, atau nanoteknologi, mikroskop gaya atom ini menawarkan keserbagunaan dan kinerja yang dibutuhkan untuk memenuhi persyaratan Anda yang menuntut.

Salah satu fitur unggulan dari mikroskop skala nano ini adalah rangkaian lengkap mode pengukuran multifungsinya. Ia mendukung Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM). Berbagai kemampuan ini memungkinkan pengguna untuk menjelajahi tidak hanya topografi sampel tetapi juga sifat listrik, piezoelektrik, dan magnetiknya. Penyertaan Mikroskopi Gaya Magnetik MFM sangat berharga bagi para peneliti yang mempelajari bahan magnetik, film tipis, dan nanostruktur, memberikan wawasan terperinci tentang domain magnetik dan interaksi pada skala nano.

Mode pengoperasian yang tersedia pada mikroskop gaya atom ini meningkatkan kemampuan adaptasi dan kemudahan penggunaannya. Pengguna dapat memilih dari Mode Ketuk, Mode Kontak, Mode Angkat, dan Mode Pencitraan Fase tergantung pada sifat sampel mereka dan jenis data yang diperlukan. Mode Ketuk sangat ideal untuk pencitraan sampel lunak atau halus dengan kerusakan minimal, sementara Mode Kontak menawarkan pencitraan resolusi tinggi untuk permukaan yang lebih keras. Mode Angkat memfasilitasi pengukuran non-kontak seperti gaya magnetik dan elektrostatik, mengurangi keausan ujung dan gangguan sampel. Mode Pencitraan Fase memberikan kontras tambahan berdasarkan sifat material, memungkinkan pemetaan komposisi yang detail.

Memastikan umur panjang dan keandalan probe mikroskop, Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar menggabungkan Teknologi Perlindungan Ujung yang inovatif yang dikenal sebagai Mode Penyisipan Jarum Aman. Fitur ini meminimalkan risiko kerusakan ujung selama penyisipan dan pengaturan, yang sangat penting untuk menjaga kualitas pencitraan yang konsisten dan mengurangi biaya operasional. Proses penyisipan jarum yang aman juga menyederhanakan persiapan sampel dan pengoperasian mikroskop, membuatnya dapat diakses oleh pengguna berpengalaman maupun mereka yang baru mengenal mikroskopi gaya atom.

Kualitas dan resolusi gambar adalah faktor penting dalam mikroskopi skala nano, dan instrumen ini unggul dengan rentang pengambilan gambar yang mengesankan dari 32*32 hingga 4096*4096 titik. Rentang yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menyeimbangkan kecepatan pemindaian dan detail gambar sesuai dengan kebutuhan spesifik mereka, mulai dari pemindaian ikhtisar cepat hingga pencitraan resolusi ultra-tinggi. Kemampuan pengambilan sampel kepadatan tinggi memastikan bahwa bahkan fitur dan variasi permukaan terkecil pun dapat ditangkap dan dianalisis secara akurat.

Bagi para peneliti dan profesional yang ingin membeli mikroskop gaya atom yang menggabungkan keserbagunaan, presisi, dan fitur yang mudah digunakan, Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar adalah pilihan yang sangat baik. Sistem pemindaiannya yang kuat, mode pengukuran multifungsi termasuk Mikroskopi Gaya Magnetik MFM, dan teknologi perlindungan ujung canggih secara kolektif memberikan platform yang kuat untuk penyelidikan skala nano. Baik fokus Anda pada penelitian dasar atau pengembangan terapan, mikroskop skala nano ini menyediakan alat penting untuk membuka wawasan baru dan mendorong inovasi.

Sebagai ringkasan, Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar menonjol sebagai instrumen yang andal dan multifungsi yang dilengkapi dengan pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, berbagai mode pengoperasian, dan kemampuan pengukuran khusus seperti EFM, KPFM, PFM, dan MFM. Mode Penyisipan Jarum Amannya memastikan perlindungan probe, dan rentang pengambilan gambar yang luas menjamin pencitraan yang detail dan akurat. Jika Anda ingin membeli teknologi mikroskop gaya atom yang memenuhi standar tertinggi analisis skala nano, produk ini dirancang untuk melampaui harapan Anda dan mendukung upaya penelitian Anda dengan presisi dan keyakinan.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar
• AFM resolusi sub-nanometer untuk analisis permukaan yang presisi
• Rentang Pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Pengukuran Multifungsi termasuk Mikroskop Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Gaya Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskop Gaya Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskop Gaya Magnetik (MFM)
• Titik Pengambilan Sampel Gambar: dari 32 * 32 hingga 4096 * 4096 untuk pencitraan resolusi tinggi
• Metode Pemindaian Sampel Penuh Tiga Sumbu XYZ untuk cakupan permukaan yang komprehensif
• Mode Pengoperasian: Mode Ketuk, Mode Kontak, Mode Angkat, dan Mode Pencitraan Fase
• AFM ideal untuk penelitian ilmiah dan karakterisasi permukaan material canggih

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom (AFM) tipe-Dasar Truth Instruments AtomExplorer, yang berasal dari China, adalah instrumen pengukuran multifungsi canggih yang dirancang untuk berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Dengan kemampuan serbagunanya termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), Mikroskopi Probe Kelvin Pindai (KPFM), Mikroskopi Gaya Piezoelektrik (PFM), dan Mikroskopi Gaya Magnetik (MFM), model AFM ini menawarkan solusi komprehensif untuk karakterisasi dan analisis permukaan skala nano.

AtomExplorer sangat cocok untuk laboratorium penelitian dan pengembangan yang terlibat dalam analisis struktur nano. AFM resolusi sub-nanometernya memungkinkan para peneliti untuk memvisualisasikan dan mengukur topografi permukaan dengan presisi yang luar biasa, menangkap titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 hingga 4096*4096. Resolusi tinggi ini sangat penting untuk mempelajari nanomaterial yang halus, film tipis, dan rakitan molekul kompleks di mana informasi permukaan yang detail sangat penting.

Selain pencitraan topografi, fungsi Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM) dari AtomExplorer memungkinkan para ilmuwan untuk menyelidiki sifat listrik pada skala nano, seperti distribusi muatan dan variasi potensial permukaan. Ini menjadikannya alat yang sangat berharga untuk ilmu material, penelitian semikonduktor, dan nanoelektronik, di mana pemahaman tentang interaksi elektrostatik adalah kunci untuk kinerja dan inovasi perangkat.

Opsi rentang pemindaian instrumen 100 μm*100 μm*10 μm dan 30 μm*30 μm*5 μm mengakomodasi berbagai ukuran sampel dan kebutuhan pengukuran, dengan ukuran sampel maksimum Φ 25 mm. Tingkat kebisingan sumbu-Z yang rendah sebesar 0,04 nm selanjutnya meningkatkan akurasi pengukuran, memastikan akuisisi data yang stabil dan andal bahkan dalam kondisi eksperimen yang menantang.

Desain ringkas dan multifungsi AtomExplorer juga membuatnya ideal untuk lembaga pendidikan dan lingkungan kontrol kualitas di mana keserbagunaan dan presisi diperlukan. Harga dapat dinegosiasikan, membuatnya dapat diakses oleh spektrum pengguna yang luas yang mencari teknologi AFM berkinerja tinggi tanpa mengorbankan pertimbangan anggaran.

Secara keseluruhan, AFM tipe-Dasar Truth Instruments AtomExplorer adalah alat yang kuat dan fleksibel bagi siapa saja yang terlibat dalam analisis struktur nano, mikroskopi gaya elektrostatik (EFM), dan teknik probe pemindaian canggih lainnya. Ini memberdayakan pengguna untuk menjelajahi dan mengukur fenomena skala nano dengan percaya diri dan kejelasan.