AtomExplorer: высокоточный сканирующий микроскоп (SPM/AFM)

Описание продукта:

The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsЭтот передовой инструмент использует трехосевой метод сканирования полного образца XYZ, что позволяет пользователям тщательно анализировать поверхности образца с исключительной точностью и детализацией.Проводят ли вы исследования в области материаловедения, биологии или нанотехнологии, этот микроскоп атомной силы предлагает универсальность и производительность, необходимые для удовлетворения ваших требований.

Одной из отличительных особенностей этого микроскопа на наномасштабе является его комплексный набор многофункциональных режимов измерения.Сканирующая микроскопия с помощью зонды Кельвина (KPFM)Этот спектр возможностей позволяет пользователям исследовать не только топографию образцов, но и их электрическую, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магнитную, магпиезоэлектрическиеВключение микроскопии магнитных сил MFM является особенно ценным для исследователей, изучающих магнитные материалы, тонкие пленки и наноструктуры.предоставление подробных сведений о магнитных областях и взаимодействиях на наноуровне.

Режимы работы, доступные на этом микроскопе атомной силы, повышают его адаптивность и простоту использования.и режима фазовой визуализации в зависимости от характера образцов и типа требуемых данных.. Tap Mode идеально подходит для получения изображений мягких или деликатных образцов с минимальными повреждениями, в то время как Contact Mode предлагает изображения с высоким разрешением для более твердых поверхностей.Режим подъема облегчает бесконтактные измерения, такие как магнитные и электростатические силыРежим фазового изображения обеспечивает дополнительный контраст на основе свойств материала, что позволяет детально отобразить композицию.

Обеспечивая долговечность и надежность зонды микроскопа, микроскоп атомной силы базового типа включает в себя инновационную технологию защиты кончиков, известную как режим безопасного введения иглы.Эта функция минимизирует риск повреждения кончиков во время вставки и установкиПроцесс безопасного введения иглы также упрощает подготовку образца и работу микроскопа.что делает его доступным как для опытных пользователей, так и для тех, кто новичок в атомной силовой микроскопии.

Качество изображения и разрешение являются важными факторами в наномикроскопии, и этот инструмент превосходит с впечатляющим диапазоном отбора образцов от 32*32 до 4096*4096 пунктов.Этот широкий диапазон позволяет пользователям сбалансировать скорость сканирования и детализацию изображения в соответствии с их конкретными потребностями, от быстрого обзора сканирования до сверхвысокого разрешения.Возможность отбора проб с высокой плотностью гарантирует, что даже самые маленькие признаки поверхности и изменения могут быть точно захвачены и проанализированы..

Для исследователей и профессионалов, желающих купить микроскоп атомной силы, сочетающий в себе универсальность, точность и удобство использования,Микроскоп атомной силы базового типа - отличный выбор.Его надежная система сканирования, многофункциональные режимы измерения, включая магнитное микроскопическое микроскопическое измерение,и передовые технологии защиты кончиков коллективно обеспечивают мощную платформу для исследований на наномасштабеНезависимо от того, занимаетесь ли вы фундаментальными исследованиями или прикладной разработкой, этот микроскоп на наномасштабе предоставляет необходимые инструменты для открытия новых возможностей и стимулирования инноваций.

Подводя итог, атомный микроскоп базового типа выделяется как надежный и многофункциональный инструмент, оснащенный трехосновым сканированием полного образца XYZ, различными режимами работы,и специализированные возможности измерений, такие как EFMЕго режим безопасного введения иглы обеспечивает защиту зонды, а широкий диапазон отбора образцов гарантирует детальное и точное изображение.Если вы хотите купить технологию атомного силового микроскопа, которая отвечает самым высоким стандартам наноразмера анализа, этот продукт предназначен для того, чтобы превзойти ваши ожидания и поддержать ваши исследования с точностью и уверенностью.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы базового типа
• AFM с разрешением до нанометра для точного анализа поверхности
• Диапазон сканирования: 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм / 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм
• Многофункциональные измерения, включая электростатический силовой микроскоп (ЭФМ), сканирующий Кельвинский силовой микроскоп (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM) и магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Точки отбора образцов изображения: от 32 * 32 до 4096 * 4096 для изображения с высоким разрешением
• XYZ Метод сканирования с использованием трехосяного полного образца для полного покрытия поверхности
• Режимы работы: режим нажатия, контактный режим, режим подъема и режим фазовой визуализации
• Идеальный AFM для научных исследований и продвинутой характеристики поверхности материала

Технические параметры:

Применение:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM), изготовленный в Китае,является передовым многофункциональным измерительным прибором, предназначенным для широкого спектра научных и промышленных примененийС его универсальными возможностями, включая электростатическую микроскопию силы (EFM), сканирование Кельвина микроскопию исследования (KPFM), пиезоэлектрическую микроскопию силы (PFM), и магнитную микроскопию силы (MFM),эта модель AFM предлагает комплексные решения для наномасштабной характеристики и анализа поверхности.

AtomExplorer особенно подходит для исследовательских и разработчических лабораторий, занимающихся анализом наноструктуры.Его AFM с разрешением ниже нанометра позволяет исследователям визуализировать и измерить топографию поверхности с исключительной точностьюЭто высокое разрешение имеет важное значение для изучения тонких наноматериалов, тонких пленок,и сложные молекулярные сборы, где подробная информация о поверхности имеет решающее значение.

В дополнение к топографической визуализации, функция электростатической силовой микроскопии (EFM) AtomExplorer позволяет ученым исследовать электрические свойства в наномасштабе,такие как распределение заряда и вариации поверхностного потенциалаЭто делает его неоценимым инструментом для материаловедения, исследования полупроводников и наноэлектроники, где понимание электростатических взаимодействий является ключом к производительности устройства и инновациям.

Опции диапазона сканирования прибора в 100 мкм*100 мкм*10 мкм и 30 мкм*30 мкм*5 мкм удовлетворяют различным размерам образцов и потребностям измерений, при этом максимальный размер образца Φ 25 мм.Низкий уровень шума по оси Z 00,04 нм дополнительно повышает точность измерений, обеспечивая стабильное и надежное получение данных даже в сложных экспериментальных условиях.

Компактный дизайн и многофункциональность AtomExplorer также делают его идеальным для образовательных учреждений и среды контроля качества, где требуется универсальность и точность.Цена обсуждаемая., что делает его доступным для широкого спектра пользователей, которые ищут высокопроизводительную технологию AFM без ущерба для бюджетных соображений.

В целом Truth Instruments AtomExplorer Basic-type AFM является мощным и гибким инструментом для всех, кто занимается анализом наноструктуры, электростатической силовой микроскопией (ЭФМ),и другие передовые методы сканирования зондовОн позволяет пользователям исследовать и количественно оценивать наномасштабные явления с уверенностью и ясностью.