AtomExplorer: Microscópio de Sonda de Varredura (SPM/AFM) de Alta Precisão

Descrição do produto:

The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsEste instrumento avançado utiliza um método de varredura de amostras completas XYZ de três eixos, permitindo aos utilizadores analisar meticulosamente as superfícies das amostras com uma precisão e detalhe excepcionais.Se está a realizar investigação em ciência dos materiais, biologia, ou nanotecnologia, este microscópio de força atómica oferece a versatilidade e desempenho necessários para atender às suas exigências.

Uma das características destacadas deste microscópio em nanoescala é o seu conjunto abrangente de modos de medição multifuncionais.Microscopia de sonda de escaneamento Kelvin (KPFM)Esta gama de capacidades permite aos utilizadores explorar não só a topografia das amostras, mas também as suas características elétricas, geométricas e geométricas.piezoelétricoA inclusão da Microscopia de Força Magnética MFM é particularmente valiosa para investigadores que estudam materiais magnéticos, películas finas e nanoestruturas,fornecendo informações detalhadas sobre domínios magnéticos e interações em nanoescala.

Os modos de funcionamento disponíveis neste microscópio de força atómica aumentam a sua adaptabilidade e facilidade de utilização.e Modo de Imagem de Fase, consoante a natureza das amostras e o tipo de dados necessários.O modo de toque é ideal para a obtenção de imagens de amostras moles ou delicadas com danos mínimos, enquanto o modo de contato oferece imagens de alta resolução para superfícies mais duras.Modo de elevação facilita medições sem contato, como forças magnéticas e eletrostáticasO modo de imagem de fase fornece um contraste adicional com base nas propriedades do material, permitindo um mapeamento de composição detalhado.

Para garantir a longevidade e a confiabilidade da sonda do microscópio, o microscópio de força atômica de tipo básico incorpora uma tecnologia inovadora de proteção da ponta conhecida como modo de inserção de agulha segura.Esta característica minimiza o risco de danos na ponta durante a inserção e configuraçãoO processo de inserção segura da agulha também simplifica a preparação da amostra e o funcionamento do microscópio.tornando-o acessível tanto para usuários experientes quanto para os novatos na microscopia de força atômica.

A qualidade e a resolução da imagem são fatores críticos na microscopia em nanoescala, e este instrumento se destaca com uma impressionante faixa de amostragem de imagem de 32*32 a 4096*4096 pontos.Esta ampla gama permite aos utilizadores equilibrar a velocidade de digitalização e o detalhe da imagem de acordo com as suas necessidades específicas, desde a exploração rápida de imagens até a tomografia de imagem de ultra-alta resolução.A capacidade de amostragem de alta densidade garante que até as menores características e variações da superfície possam ser capturadas e analisadas com precisão.

Para pesquisadores e profissionais que procuram comprar um microscópio de força atómica que combine versatilidade, precisão e funcionalidades fáceis de usar,O microscópio de força atómica do tipo básico é uma excelente escolha.O seu robusto sistema de escaneamento, modos de medição multifuncionais, incluindo a Microscopia de Força Magnética MFM,e tecnologia avançada de proteção da ponta fornecem coletivamente uma plataforma poderosa para investigação em nanoescalaQuer o seu foco seja na investigação fundamental ou no desenvolvimento aplicado, este microscópio em nanoescala fornece as ferramentas essenciais para desbloquear novos insights e impulsionar a inovação.

Em resumo, o Microscópio de Força Atómica de tipo Básico destaca-se como um instrumento fiável e multifuncional equipado com XYZ de três eixos de varredura de amostra completa, uma variedade de modos de funcionamento,e capacidades de medição especializadas, tais como EFMO seu modo de inserção de agulha segura garante a proteção da sonda e a ampla gama de amostragem de imagem garante imagens detalhadas e precisas.Se quiser comprar a tecnologia do microscópio de força atómica que atenda aos mais elevados padrões de análise em nanoescala, este produto foi concebido para ultrapassar as suas expectativas e apoiar os seus esforços de investigação com precisão e confiança.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de força atómica de tipo básico
• AFM de resolução subnanométrica para análise de superfície precisa
• Faixa de digitalização: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Medições multifuncionais, incluindo microscópio de força eletrostática (EFM), microscópio de força de sonda de escaneamento Kelvin (KPFM), microscópio de força piezoelétrica (PFM) e microscópio de força magnética (MFM)
• Pontos de amostragem de imagem: de 32 * 32 até 4096 * 4096 para imagens de alta resolução
• XYZ Método de varredura de amostra completa em três eixos para cobertura abrangente da superfície
• Modo de funcionamento: Modo toque, Modo contato, Modo elevador e Modo de imagem de fase
• AFM ideal para pesquisa científica e caracterização avançada da superfície do material

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

The Truth Instruments AtomExplorer Microscópio de Força Atómica de Tipo Básico (AFM), originário da China,é um instrumento de medição multifuncional avançado concebido para uma ampla gama de aplicações científicas e industriaisCom suas capacidades versáteis, incluindo a Microscopia de Força Eletrostática (EFM), a Microscopia de Probação de Kelvin (KPFM), a Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e a Microscopia de Força Magnética (MFM),Este modelo AFM oferece soluções abrangentes para a caracterização e análise de superfícies em nanoescala.

O AtomExplorer é particularmente adequado para laboratórios de investigação e desenvolvimento envolvidos na análise de nanoestruturas.O AFM, com resolução inferior a nanômetros, permite aos investigadores visualizar e medir a topografia da superfície com uma precisão excepcional, captando pontos de amostragem de imagem que variam de 32*32 a 4096*4096.e conjuntos moleculares complexos onde a informação detalhada da superfície é crítica.

Além da imagem topográfica, a função de Microscopia de Força Electrostática (EFM) do AtomExplorer permite aos cientistas investigar propriedades elétricas em nanoescala,tais como distribuição de carga e variações de potencial de superfícieIsto torna-a uma ferramenta inestimável para a ciência dos materiais, pesquisa de semicondutores e nanoelectrónica, onde a compreensão das interações eletrostáticas é fundamental para o desempenho e a inovação dos dispositivos.

As opções de faixa de varredura do instrumento de 100 μm*100 μm*10 μm e 30 μm*30 μm*5 μm permitem uma variedade de tamanhos de amostra e necessidades de medição, com um tamanho máximo de amostra de Φ 25 mm.Nível de ruído baixo no eixo Z de 0.04 nm aumenta ainda mais a precisão da medição, garantindo a aquisição de dados estável e confiável mesmo em condições experimentais desafiadoras.

O design compacto e a multifuncionalidade do AtomExplorer também o tornam ideal para instituições educacionais e ambientes de controle de qualidade onde a versatilidade e a precisão são necessárias.O preço é negociável., tornando-a acessível a um vasto leque de utilizadores que procuram uma tecnologia de AFM de alto desempenho sem comprometer considerações orçamentais.

Em geral, o Truth Instruments AtomExplorer AFM de tipo básico é uma ferramenta poderosa e flexível para qualquer pessoa envolvida na análise de nanoestrutura, microscopia de força eletrostática (EFM),e outras técnicas avançadas de sonda de varreduraPermite aos utilizadores explorar e quantificar fenómenos em nanoescala com confiança e clareza.