Scanner 3D flexible pour les applications électroniques, biomatériaux et de recherche de précision

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées dans la cartographie des propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Conçu pour répondre aux exigences des applications industrielles et de recherche avancées, cet AFM offre une gamme complète de fonctionnalités qui en font un outil indispensable pour les scientifiques et les ingénieurs travaillant avec des semi-conducteurs, des matériaux magnétiques et une variété d'autres surfaces.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de ce microscope à force atomique est sa vitesse de balayage impressionnante, qui varie de 0,1 à 30 Hz. Ce large spectre de vitesses de balayage permet aux utilisateurs d'adapter la vitesse et la résolution de leurs balayages en fonction des besoins spécifiques de leur échantillon et de leur expérience. Qu'une analyse de surface détaillée et à haute résolution ou un balayage plus rapide et plus large soit nécessaire, cet AFM s'adapte parfaitement à la tâche.

Le microscope utilise une méthode de balayage d'échantillon complète à trois axes XYZ, assurant une couverture complète et un positionnement précis sur toute la surface de l'échantillon. Cette capacité est essentielle pour une cartographie précise des propriétés de surface, car elle permet une imagerie et une mesure détaillées sur de grandes surfaces sans compromettre la résolution ou la précision.

La polyvalence des modes de fonctionnement est un autre avantage clé de cet AFM. Il prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, notamment le mode contact, le mode tapotement, le mode d'imagerie de phase, le mode levage et le mode de balayage multidirectionnel. Chaque mode offre des mécanismes d'interaction uniques entre la sonde et l'échantillon, permettant l'étude de diverses caractéristiques de surface. Par exemple, le mode contact est idéal pour l'imagerie topographique à haute résolution, tandis que le mode tapotement minimise les dommages à l'échantillon en entrant en contact intermittent avec la surface. Le mode d'imagerie de phase et le mode levage fournissent des mécanismes de contraste supplémentaires qui révèlent les propriétés des matériaux au-delà de la simple topographie, telles que l'adhérence, la rigidité et les interactions magnétiques. Le mode de balayage multidirectionnel améliore encore la flexibilité de l'imagerie en balayant l'échantillon à partir de différentes orientations, améliorant ainsi la fiabilité et les détails des données.

La précision est primordiale en microscopie à force atomique, et ce produit excelle avec un niveau de bruit remarquablement faible dans la direction Z, mesuré à seulement 0,04 nm. Un seuil de bruit aussi faible garantit que même les plus légères variations de la hauteur de la surface sont détectées avec une clarté exceptionnelle, ce qui est crucial pour les applications nécessitant une précision nanométrique, telles que l'inspection des plaquettes de semi-conducteurs et la caractérisation des nanostructures.

Au-delà de l'imagerie topographique, ce microscope à force atomique est équipé de capacités de mesure multifonctionnelles qui élargissent considérablement son champ d'application. Il intègre des techniques avancées telles que la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie à force magnétique (MFM) et les mesures de courbes de force. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs d'étudier les propriétés électriques, magnétiques, piézoélectriques et mécaniques des matériaux à l'échelle nanométrique.

La microscopie à force magnétique (MFM), en particulier, est une fonctionnalité puissante pour étudier les domaines magnétiques et les interactions au sein des matériaux. Cette capacité est essentielle au développement et à l'analyse des dispositifs de stockage magnétique, des capteurs et d'autres applications spintroniques. Pendant ce temps, des techniques telles que l'EFM et la KPFM facilitent la cartographie détaillée des propriétés électriques, ce qui est vital dans la recherche sur les semi-conducteurs et les études de charge de surface.

La microscopie à force piézoélectrique (PFM) permet l'examen des matériaux piézoélectriques et ferroélectriques, qui sont essentiels dans divers appareils électroniques et électromécaniques. L'inclusion des mesures de courbes de force permet l'étude des propriétés mécaniques telles que la rigidité et l'adhérence à un niveau micro- à nanométrique, fournissant ainsi une compréhension complète du comportement des matériaux.

Dans l'ensemble, ce microscope à force atomique se distingue comme un instrument polyvalent et performant, conçu pour la cartographie avancée des propriétés de surface. Sa combinaison de vitesses de balayage élevées, de capacité de balayage XYZ complète, de multiples modes de fonctionnement, de bruit ultra-faible et d'options de mesure multifonctionnelles en fait un outil essentiel dans des domaines allant de la technologie des semi-conducteurs à la recherche sur les matériaux magnétiques. Les chercheurs et les professionnels qui cherchent à repousser les limites de l'analyse à l'échelle nanométrique trouveront cet AFM comme un atout inestimable dans leurs laboratoires.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique (AFM)
• Non-linéarité : 0,15 % dans la direction XY et 1 % dans la direction Z
• Taille de l'échantillon : Jusqu'à 25 mm
• Point d'échantillonnage d'image : La résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096*4096
• Capacités de mesure multifonctionnelles, notamment la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM), la microscopie à force magnétique (MFM) et l'analyse des courbes de force
• Vitesse de balayage : Réglable de 0,1 à 30 Hz
• Prend en charge le mode sans contact pour l'analyse de surface à haute résolution
• Microscopie à force magnétique avancée pour la caractérisation détaillée des propriétés magnétiques

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique (AFM) AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un instrument de pointe conçu pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application qui exigent une imagerie et une analyse à résolution nanométrique. Ses modes de fonctionnement polyvalents, notamment le mode contact, le mode tapotement, le mode d'imagerie de phase, le mode levage et le mode de balayage multidirectionnel, en font un outil indispensable dans les environnements de recherche et industriels.

Dans les laboratoires de recherche universitaires, l'AtomEdge Pro est couramment utilisé pour la caractérisation de surface et l'analyse de matériaux à l'échelle nanométrique. Sa capacité à obtenir une imagerie à haute résolution avec un point d'échantillonnage d'image maximal de 4096*4096 permet aux chercheurs d'étudier la topographie de surface, les propriétés mécaniques et les caractéristiques électriques à l'échelle nanométrique. Cette capacité est particulièrement précieuse dans des domaines tels que la science des matériaux, la physique, la chimie et la biologie, où la compréhension des interactions et des propriétés de surface est essentielle.

Dans les industries des semi-conducteurs et de l'électronique, l'AtomEdge Pro prend en charge le contrôle qualité et l'analyse des défaillances en fournissant une morphologie de surface détaillée et une cartographie des propriétés électriques. L'inclusion de techniques avancées telles que la microscopie à sonde Kelvin permet une mesure précise des variations de potentiel de surface, ce qui est essentiel pour optimiser les performances et la fiabilité des appareils.

Les centres et laboratoires de développement des nanotechnologies bénéficient également de la sensibilité exceptionnelle de l'AtomEdge Pro et de son faible niveau de bruit dans la direction Z (0,04 nm), ce qui facilite des mesures précises de films ultra-minces, de nanostructures et de biomolécules. Sa plage de vitesse de balayage de 0,1 à 30 Hz permet des vitesses d'imagerie flexibles, équilibrant la résolution et le débit en fonction des exigences expérimentales.

La taille maximale d'échantillon de 25 mm de l'instrument s'adapte à une grande variété de spécimens, des petits nanomatériaux aux échantillons biologiques plus volumineux et aux dispositifs microfabriqués. De plus, le mode de balayage multidirectionnel améliore la flexibilité de l'imagerie, permettant une analyse complète de la surface sous différents angles et perspectives.

Dans l'ensemble, l'AFM AtomEdge Pro de Truth Instruments convient à diverses applications telles que la mesure de la rugosité de surface, l'analyse des couches minces, la caractérisation des polymères et la cartographie des propriétés électriques à l'échelle nanométrique. Ses fonctionnalités avancées et ses performances robustes en font un outil crucial dans la recherche en nanotechnologie, la fabrication de semi-conducteurs, l'étude des biomatériaux et de nombreuses autres applications scientifiques et industrielles de haute précision.

Support et services :

Notre produit Microscope à force atomique (AFM) est livré avec un support technique et des services complets pour garantir des performances optimales et la satisfaction du client. Notre équipe d'experts se consacre à vous aider pour l'installation, l'étalonnage, la maintenance et le dépannage.

Nous fournissons des manuels d'utilisation et des guides logiciels détaillés pour vous aider à utiliser l'AFM efficacement. Des mises à jour logicielles régulières sont disponibles pour améliorer les fonctionnalités et introduire de nouvelles fonctionnalités.

En plus de l'assistance à distance par e-mail et via des ressources en ligne, nous proposons des visites de service sur site pour les problèmes complexes et la maintenance de routine. Des sessions de formation et des ateliers sont également disponibles pour aider les utilisateurs à maximiser les capacités du système AFM.

Notre engagement s'étend à la fourniture de pièces de rechange et d'accessoires, garantissant la longévité et la fiabilité de votre instrument. Veuillez vous référer à la documentation fournie avec votre AFM pour les détails de la garantie et les conditions de service.

Pour toute demande technique ou demande de service, notre équipe d'assistance est prête à vous aider rapidement afin de minimiser les temps d'arrêt et de maintenir votre productivité de recherche.

FAQ :

Q1 : Quelle est la marque et le modèle de ce microscope à force atomique ?

A1 : Le microscope à force atomique est de la marque Truth Instruments, et le numéro de modèle est AtomEdge Pro.

Q2 : Où est fabriqué l'AtomEdge Pro ?

A2 : Le microscope à force atomique AtomEdge Pro est fabriqué en Chine.

Q3 : Quelles sont les principales applications de l'AFM AtomEdge Pro ?

A3 : L'AtomEdge Pro est utilisé pour l'imagerie de surface à haute résolution, la mesure à l'échelle nanométrique et la caractérisation des matériaux dans les environnements de recherche et industriels.

Q4 : Quel type d'échantillons peut être analysé avec l'AtomEdge Pro ?

A4 : L'AtomEdge Pro peut analyser un large éventail d'échantillons, notamment des spécimens biologiques, des polymères, des semi-conducteurs et des nanomatériaux.

Q5 : L'AtomEdge Pro prend-il en charge plusieurs modes d'imagerie ?

A5 : Oui, l'AtomEdge Pro prend en charge divers modes d'imagerie tels que le mode contact, le mode tapotement et le mode sans contact pour s'adapter à différents types d'échantillons et aux besoins de la recherche.