Ευέλικτη 3D Σάρωση για Ηλεκτρονικά, Βιοϋλικά & Εφαρμογές Έρευνας Ακριβείας

Περιγραφή Προϊόντος:

Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM) είναι ένα υπερσύγχρονο όργανο σχεδιασμένο για να παρέχει απαράμιλλη ακρίβεια και ευελιξία στην χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφανειών σε νανοκλίμακα. Σχεδιασμένο για να καλύπτει τις απαιτητικές απαιτήσεις της προηγμένης έρευνας και των βιομηχανικών εφαρμογών, αυτό το AFM προσφέρει μια ολοκληρωμένη σουίτα χαρακτηριστικών που το καθιστούν ένα απαραίτητο εργαλείο για επιστήμονες και μηχανικούς που εργάζονται με ημιαγωγούς, μαγνητικά υλικά και μια ποικιλία άλλων επιφανειών.

Ένα από τα εξαιρετικά χαρακτηριστικά αυτού του Ατομικού Μικροσκοπίου Δυνάμεων είναι ο εντυπωσιακός ρυθμός σάρωσης, ο οποίος κυμαίνεται από 0,1 έως 30 Hz. Αυτό το ευρύ φάσμα ρυθμού σάρωσης επιτρέπει στους χρήστες να προσαρμόσουν την ταχύτητα και την ανάλυση των σαρώσεών τους σύμφωνα με τις συγκεκριμένες ανάγκες του δείγματος και του πειράματός τους. Είτε απαιτείται μια λεπτομερής ανάλυση επιφάνειας υψηλής ανάλυσης είτε μια ταχύτερη, ευρύτερη σάρωση, αυτό το AFM προσαρμόζεται απρόσκοπτα στην εργασία.

Το μικροσκόπιο χρησιμοποιεί μια προηγμένη μέθοδο σάρωσης δείγματος τριών αξόνων XYZ, εξασφαλίζοντας ολοκληρωμένη κάλυψη και ακριβή τοποθέτηση σε ολόκληρη την επιφάνεια του δείγματος. Αυτή η δυνατότητα είναι κρίσιμη για την ακριβή χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφανειών, καθώς επιτρέπει τη λεπτομερή απεικόνιση και μέτρηση σε μεγάλες περιοχές χωρίς συμβιβασμούς στην ανάλυση ή την ακρίβεια.

Η ευελιξία στους τρόπους λειτουργίας είναι ένα άλλο βασικό πλεονέκτημα αυτού του AFM. Υποστηρίζει πολλαπλούς τρόπους λειτουργίας, συμπεριλαμβανομένων των Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode και Multi-directional Scanning Mode. Κάθε τρόπος προσφέρει μοναδικούς μηχανισμούς αλληλεπίδρασης μεταξύ της ανιχνευτικής κεφαλής και του δείγματος, επιτρέποντας τη διερεύνηση διαφόρων χαρακτηριστικών της επιφάνειας. Για παράδειγμα, το Contact Mode είναι ιδανικό για απεικόνιση τοπογραφίας υψηλής ανάλυσης, ενώ το Tap Mode ελαχιστοποιεί τη ζημιά στο δείγμα, έρχεται σε επαφή με την επιφάνεια κατά διαστήματα. Το Phase Imaging Mode και το Lift Mode παρέχουν πρόσθετους μηχανισμούς αντίθεσης που αποκαλύπτουν ιδιότητες υλικών πέρα από την απλή τοπογραφία, όπως η πρόσφυση, η ακαμψία και οι μαγνητικές αλληλεπιδράσεις. Το Multi-directional Scanning Mode ενισχύει περαιτέρω την ευελιξία της απεικόνισης σαρώνοντας το δείγμα από διαφορετικούς προσανατολισμούς, βελτιώνοντας την αξιοπιστία και τη λεπτομέρεια των δεδομένων.

Η ακρίβεια είναι υψίστης σημασίας στην ατομική μικροσκοπία δυνάμεων και αυτό το προϊόν διαπρέπει με ένα αξιοσημείωτα χαμηλό επίπεδο θορύβου στην κατεύθυνση Z, που μετράται μόλις στα 0,04 nm. Ένα τόσο χαμηλό επίπεδο θορύβου διασφαλίζει ότι ακόμη και οι ελάχιστες διακυμάνσεις στο ύψος της επιφάνειας ανιχνεύονται με εξαιρετική σαφήνεια, κάτι που είναι ζωτικής σημασίας για εφαρμογές που απαιτούν ακρίβεια νανοκλίμακας, όπως η επιθεώρηση πλακιδίων ημιαγωγών και ο χαρακτηρισμός νανοδομών.

Πέρα από την τοπογραφική απεικόνιση, αυτό το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων είναι εξοπλισμένο με πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης που διευρύνουν σημαντικά το πεδίο εφαρμογής του. Ενσωματώνει προηγμένες τεχνικές όπως η Μικροσκοπία Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), η Μικροσκοπία Δυνάμεων Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), η Μικροσκοπία Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), η Μικροσκοπία Μαγνητικής Δύναμης (MFM) και οι μετρήσεις Καμπύλης Δύναμης. Αυτές οι λειτουργίες επιτρέπουν στους χρήστες να διερευνήσουν ηλεκτρικές, μαγνητικές, πιεζοηλεκτρικές και μηχανικές ιδιότητες των υλικών σε νανοκλίμακα.

Η Μικροσκοπία Μαγνητικής Δύναμης (MFM), ειδικότερα, είναι ένα ισχυρό χαρακτηριστικό για τη μελέτη μαγνητικών τομέων και αλληλεπιδράσεων εντός των υλικών. Αυτή η δυνατότητα είναι απαραίτητη στην ανάπτυξη και ανάλυση μαγνητικών συσκευών αποθήκευσης, αισθητήρων και άλλων εφαρμογών σπιντρονικής. Εν τω μεταξύ, τεχνικές όπως η EFM και η KPFM διευκολύνουν τη λεπτομερή χαρτογράφηση ηλεκτρικών ιδιοτήτων, η οποία είναι ζωτικής σημασίας στην έρευνα ημιαγωγών και στις μελέτες φόρτισης επιφανειών.

Η Μικροσκοπία Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM) επιτρέπει την εξέταση πιεζοηλεκτρικών και σιδηροηλεκτρικών υλικών, τα οποία είναι κρίσιμα σε διάφορες ηλεκτρονικές και ηλεκτρομηχανικές συσκευές. Η συμπερίληψη των μετρήσεων Καμπύλης Δύναμης επιτρέπει τη διερεύνηση μηχανικών ιδιοτήτων όπως η ακαμψία και η πρόσφυση σε επίπεδο μικρο- έως νανοκλίμακας, παρέχοντας ολοκληρωμένη εικόνα της συμπεριφοράς των υλικών.

Συνολικά, αυτό το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων ξεχωρίζει ως ένα ευέλικτο, υψηλής απόδοσης όργανο προσαρμοσμένο για προηγμένη χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφανειών. Ο συνδυασμός υψηλών ρυθμών σάρωσης, πλήρους δυνατότητας σάρωσης XYZ, πολλαπλών τρόπων λειτουργίας, εξαιρετικά χαμηλού θορύβου και πολυλειτουργικών επιλογών μέτρησης το καθιστά ένα απαραίτητο εργαλείο σε τομείς που κυμαίνονται από την τεχνολογία ημιαγωγών έως την έρευνα μαγνητικών υλικών. Οι ερευνητές και οι επαγγελματίες που επιδιώκουν να ξεπεράσουν τα όρια της ανάλυσης νανοκλίμακας θα βρουν αυτό το AFM ένα ανεκτίμητο πλεονέκτημα στα εργαστήριά τους.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM)
• Μη γραμμικότητα: 0,15% στην κατεύθυνση XY και 1% στην κατεύθυνση Z
• Μέγεθος δείγματος: Έως 25 mm
• Σημείο δειγματοληψίας εικόνας: Η μέγιστη ανάλυση της εικόνας της ανιχνευτικής κεφαλής είναι 4096*4096
• Πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης, συμπεριλαμβανομένης της Μικροσκοπίας Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), της Μικροσκοπίας Δυνάμεων Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), της Μικροσκοπίας Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM) και της ανάλυσης Καμπύλης Δύναμης
• Ρυθμός σάρωσης: Ρυθμιζόμενος από 0,1 έως 30 Hz
• Υποστηρίζει τη μη επαφή για ανάλυση επιφανειών υψηλής ανάλυσης
• Προηγμένη Μικροσκοπία Μαγνητικής Δύναμης για λεπτομερή χαρακτηρισμό μαγνητικών ιδιοτήτων

Τεχνικές παράμετροι:

Εφαρμογές:

Το Ατομικό Μικροσκόπιο (AFM) AtomEdge Pro της Truth Instruments, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα υπερσύγχρονο όργανο σχεδιασμένο για ένα ευρύ φάσμα περιστάσεων και σεναρίων εφαρμογής που απαιτούν απεικόνιση και ανάλυση νανομέτρων. Οι ευέλικτοι τρόποι λειτουργίας του, συμπεριλαμβανομένων των Contact Mode, Tap Mode, Phase Imaging Mode, Lift Mode και Multi-directional Scanning Mode, το καθιστούν ένα απαραίτητο εργαλείο τόσο σε ερευνητικά όσο και σε βιομηχανικά περιβάλλοντα.

Στα ακαδημαϊκά ερευνητικά εργαστήρια, το AtomEdge Pro χρησιμοποιείται συνήθως για τον χαρακτηρισμό επιφανειών και την ανάλυση υλικών νανοκλίμακας. Η ικανότητά του να επιτυγχάνει απεικόνιση υψηλής ανάλυσης με μέγιστο σημείο δειγματοληψίας εικόνας 4096*4096 επιτρέπει στους ερευνητές να μελετούν την τοπογραφία της επιφάνειας, τις μηχανικές ιδιότητες και τα ηλεκτρικά χαρακτηριστικά σε νανομετρική κλίμακα. Αυτή η δυνατότητα είναι ιδιαίτερα πολύτιμη σε τομείς όπως η επιστήμη των υλικών, η φυσική, η χημεία και η βιολογία, όπου η κατανόηση των αλληλεπιδράσεων και των ιδιοτήτων της επιφάνειας είναι κρίσιμη.

Στις βιομηχανίες ημιαγωγών και ηλεκτρονικών, το AtomEdge Pro υποστηρίζει τον ποιοτικό έλεγχο και την ανάλυση βλαβών παρέχοντας λεπτομερή μορφολογία επιφανειών και χαρτογράφηση ηλεκτρικών ιδιοτήτων. Η συμπερίληψη προηγμένων τεχνικών όπως η Μικροσκοπία Σάρωσης Kelvin Probe επιτρέπει την ακριβή μέτρηση των διακυμάνσεων του δυναμικού της επιφάνειας, η οποία είναι απαραίτητη για τη βελτιστοποίηση της απόδοσης και της αξιοπιστίας της συσκευής.

Τα κέντρα ανάπτυξης και τα εργαστήρια νανοτεχνολογίας επωφελούνται επίσης από την εξαιρετική ευαισθησία του AtomEdge Pro και το χαμηλό επίπεδο θορύβου στην κατεύθυνση Z (0,04 nm), το οποίο διευκολύνει τις ακριβείς μετρήσεις εξαιρετικά λεπτών φιλμ, νανοδομών και βιομορίων. Το εύρος ρυθμού σάρωσής του 0,1-30 Hz επιτρέπει ευέλικτες ταχύτητες απεικόνισης, εξισορροπώντας την ανάλυση και την απόδοση ανάλογα με τις πειραματικές απαιτήσεις.

Το μέγιστο μέγεθος δείγματος του οργάνου των 25 mm φιλοξενεί μια μεγάλη ποικιλία δειγμάτων, από μικρά νανοϋλικά έως μεγαλύτερα βιολογικά δείγματα και μικροκατασκευασμένες συσκευές. Επιπλέον, η λειτουργία σάρωσης πολλαπλών κατευθύνσεων ενισχύει την ευελιξία της απεικόνισης, επιτρέποντας την ολοκληρωμένη ανάλυση επιφανειών από διαφορετικές γωνίες και προοπτικές.

Συνολικά, το AFM AtomEdge Pro της Truth Instruments είναι κατάλληλο για διάφορες εφαρμογές, όπως η μέτρηση τραχύτητας επιφανειών, η ανάλυση λεπτών φιλμ, ο χαρακτηρισμός πολυμερών και η χαρτογράφηση ηλεκτρικών ιδιοτήτων νανοκλίμακας. Τα προηγμένα χαρακτηριστικά και η ισχυρή απόδοσή του το καθιστούν ένα κρίσιμο εργαλείο στην έρευνα νανοτεχνολογίας, την κατασκευή ημιαγωγών, τη διερεύνηση βιοϋλικών και πολλές άλλες επιστημονικές και βιομηχανικές εφαρμογές υψηλής ακρίβειας.

Υποστήριξη και Υπηρεσίες:

Το προϊόν μας Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM) συνοδεύεται από ολοκληρωμένη τεχνική υποστήριξη και υπηρεσίες για τη διασφάλιση της βέλτιστης απόδοσης και της ικανοποίησης των πελατών. Η ομάδα των ειδικών μας είναι αφοσιωμένη στο να σας βοηθήσει με την εγκατάσταση, τη βαθμονόμηση, τη συντήρηση και την αντιμετώπιση προβλημάτων.

Παρέχουμε λεπτομερή εγχειρίδια χρήσης και οδηγούς λογισμικού για να σας βοηθήσουμε να χειρίζεστε το AFM αποτελεσματικά. Οι τακτικές ενημερώσεις λογισμικού είναι διαθέσιμες για την ενίσχυση της λειτουργικότητας και την εισαγωγή νέων χαρακτηριστικών.

Εκτός από την απομακρυσμένη υποστήριξη μέσω email και διαδικτυακών πόρων, προσφέρουμε επισκέψεις επιτόπου για πολύπλοκα ζητήματα και τακτική συντήρηση. Διατίθενται επίσης εκπαιδευτικά μαθήματα και εργαστήρια για να βοηθήσουν τους χρήστες να μεγιστοποιήσουν τις δυνατότητες του συστήματος AFM.

Η δέσμευσή μας επεκτείνεται στην παροχή ανταλλακτικών και αξεσουάρ, διασφαλίζοντας τη μακροζωία και την αξιοπιστία του οργάνου σας. Ανατρέξτε στην τεκμηρίωση που παρέχεται με το AFM σας για λεπτομέρειες εγγύησης και όρους παροχής υπηρεσιών.

Για τυχόν τεχνικές ερωτήσεις ή αιτήματα παροχής υπηρεσιών, η ομάδα υποστήριξής μας είναι έτοιμη να σας βοηθήσει άμεσα για την ελαχιστοποίηση του χρόνου διακοπής λειτουργίας και τη διατήρηση της παραγωγικότητας της έρευνάς σας.

Συχνές ερωτήσεις:

Ε1: Ποια είναι η μάρκα και το μοντέλο αυτού του Ατομικού Μικροσκοπίου Δυνάμεων;

Α1: Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων είναι από τη μάρκα Truth Instruments και ο αριθμός μοντέλου είναι AtomEdge Pro.

Ε2: Πού κατασκευάζεται το AtomEdge Pro;

Α2: Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων AtomEdge Pro κατασκευάζεται στην Κίνα.

Ε3: Ποιες είναι οι κύριες εφαρμογές του AtomEdge Pro AFM;

Α3: Το AtomEdge Pro χρησιμοποιείται για απεικόνιση επιφανειών υψηλής ανάλυσης, μέτρηση νανοκλίμακας και χαρακτηρισμό υλικών σε ερευνητικά και βιομηχανικά περιβάλλοντα.

Ε4: Τι είδους δείγματα μπορούν να αναλυθούν με το AtomEdge Pro;

Α4: Το AtomEdge Pro μπορεί να αναλύσει ένα ευρύ φάσμα δειγμάτων, συμπεριλαμβανομένων βιολογικών δειγμάτων, πολυμερών, ημιαγωγών και νανοϋλικών.

Ε5: Υποστηρίζει το AtomEdge Pro πολλαπλούς τρόπους απεικόνισης;

Α5: Ναι, το AtomEdge Pro υποστηρίζει διάφορους τρόπους απεικόνισης, όπως contact mode, tapping mode και non-contact mode για να ταιριάζει σε διαφορετικούς τύπους δειγμάτων και ερευνητικές ανάγκες.