Microscope atomique à modulation de force à haute résolution Microscope scientifique 0,04 Nm

Description du produit :

Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution au niveau nanométrique. Grâce à ses capacités avancées, ce microscope offre des performances inégalées dans la recherche et le développement en nanotechnologie.

L'une des principales caractéristiques du microscope à force atomique est sa plage de vitesse de balayage impressionnante, qui permet une imagerie précise et efficace de 0,1 Hz à 30 Hz. Cette large plage permet aux utilisateurs de capturer des processus dynamiques et des détails complexes avec une clarté et une précision exceptionnelles.

En ce qui concerne la taille des échantillons, le microscope à force atomique offre polyvalence et flexibilité, pouvant accueillir des échantillons allant jusqu'à 25 mm. Cette capacité de taille d'échantillon généreuse le rend idéal pour un large éventail d'applications dans diverses industries, de la science des matériaux à la recherche biologique.

Pour les chercheurs et les scientifiques qui ont besoin d'une imagerie à résolution atomique, le microscope à force atomique offre des résultats exceptionnels avec une résolution remarquable de 0,04 nm. Ce niveau de précision permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les échantillons à l'échelle atomique, fournissant des informations inestimables sur la structure et les propriétés des matériaux.

La plage de balayage du microscope à force atomique est tout aussi impressionnante, couvrant des dimensions de 100 µm x 100 µm x 10 µm. Cette plage de balayage étendue permet une imagerie complète des échantillons de tailles et de topographies variables, ce qui en fait un outil polyvalent pour les investigations à l'échelle nanométrique.

Équipé de plusieurs modes de balayage, notamment le contact, le tapping, le non-contact, la force latérale et la modulation de force, le microscope à force atomique offre flexibilité et adaptabilité pour répondre aux différentes exigences expérimentales. Qu'il s'agisse d'étudier les interactions de surface, les propriétés mécaniques ou les caractéristiques électriques, ce microscope fournit les outils nécessaires à une analyse approfondie.

En résumé, le microscope à force atomique est un instrument de pointe qui excelle dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique, offrant des capacités de résolution atomique et des fonctions de balayage avancées. Grâce à ses performances et sa polyvalence exceptionnelles, ce microscope est un atout précieux pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans divers domaines nécessitant une caractérisation précise et détaillée au niveau nanométrique.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Table d'échantillons : Table XY motorisée avec une résolution de 100 µm
• Modes de balayage :
  • Contact
  • Tapping
  • Non-contact
  • Force latérale
  • Modulation de force
• Plage de balayage : 100 µm X 100 µm X 10 µm
• Taille de l'échantillon : Jusqu'à 25 mm
• Vitesse de balayage : 0,1 Hz-30 Hz

Paramètres techniques :

Applications :

Occasions et scénarios d'application du produit pour le microscope à force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments :

L'AtomEdge Pro de Truth Instruments, un microscope à force à balayage (SFM), est un outil polyvalent adapté à diverses applications dans différents domaines. Grâce à ses fonctionnalités et sa précision avancées, il est idéal pour les occasions et les scénarios suivants :

1. Imagerie à l'échelle nanométrique : L'AtomEdge Pro, avec une résolution de 0,04 nm, est parfait pour l'imagerie à haute résolution au niveau nanométrique. Il peut être utilisé dans la recherche en nanotechnologie, la science des matériaux et les applications biologiques où l'imagerie détaillée est cruciale.

2. Mesure multi-modes : Ce SFM offre plusieurs modes de mesure, ce qui le rend adapté à un large éventail de domaines de recherche. Que vous ayez besoin d'effectuer une topographie, une imagerie de phase ou une spectroscopie de force, l'AtomEdge Pro peut gérer efficacement diverses techniques de mesure.

3. Caractérisation des matériaux : Les chercheurs et les scientifiques peuvent utiliser l'AtomEdge Pro pour analyser les propriétés de surface, les caractéristiques mécaniques et les compositions des matériaux. Sa plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm permet une caractérisation détaillée des matériaux avec une grande précision.

4. Contrôle qualité et inspection : L'AtomEdge Pro peut être utilisé dans les environnements industriels à des fins de contrôle qualité et d'inspection. Qu'il s'agisse d'inspecter de petits composants ou d'analyser les défauts de surface, ce SFM fournit des données précises et fiables pour les processus de fabrication.

5. Recherche et développement : De l'université à l'industrie, l'AtomEdge Pro est un outil précieux pour les activités de recherche et développement. Sa table XY motorisée avec une résolution de 100 µm et une plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz le rendent efficace pour mener des expériences, tester des échantillons et explorer de nouvelles technologies.

6. Fins éducatives : L'AtomEdge Pro peut également être utilisé dans les établissements d'enseignement pour enseigner aux étudiants les nanotechnologies, les techniques de microscopie et l'analyse de surface. Son interface conviviale et ses mesures précises en font un excellent instrument pour les démonstrations en classe et les expériences d'apprentissage pratiques.

Avec son origine en Chine, l'AtomEdge Pro de Truth Instruments est un SFM fiable et performant qui répond à un large éventail d'applications et de scénarios, ce qui en fait un atout précieux dans divers environnements de recherche, industriels et éducatifs.