Модуляция силы сканирование атомный микроскоп высокое разрешение научный микроскоп 0,04 Нм

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп - это современный прибор, предназначенный для получения изображений и анализа с высоким разрешением на наноуровне. Благодаря своим передовым возможностям, этот микроскоп предлагает непревзойденную производительность в исследованиях и разработках в области нанотехнологий.

Одной из ключевых особенностей атомно-силового микроскопа является впечатляющий диапазон скорости сканирования, который позволяет получать точные и эффективные изображения от 0,1 Гц до 30 Гц. Этот широкий диапазон позволяет пользователям захватывать динамические процессы и сложные детали с исключительной четкостью и точностью.

Что касается размера образца, атомно-силовой микроскоп предлагает универсальность и гибкость, позволяя работать с образцами размером до 25 мм. Эта возможность работы с образцами большого размера делает его идеальным для широкого спектра применений в различных отраслях, от материаловедения до биологических исследований.

Для исследователей и ученых, которым требуется получение изображений с атомным разрешением, атомно-силовой микроскоп обеспечивает выдающиеся результаты с замечательным разрешением 0,04 нм. Такой уровень точности позволяет пользователям визуализировать и анализировать образцы в атомном масштабе, предоставляя бесценную информацию о структуре и свойствах материалов.

Диапазон сканирования атомно-силового микроскопа также впечатляет, охватывая размеры 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм. Этот обширный диапазон сканирования обеспечивает всестороннее получение изображений образцов с различными размерами и топографией, что делает его универсальным инструментом для наномасштабных исследований.

Оснащенный несколькими режимами сканирования, включая контактный, прерывистый, бесконтактный, латеральной силы и модуляции силы, атомно-силовой микроскоп предлагает гибкость и адаптируемость для соответствия различным экспериментальным требованиям. Независимо от того, изучаете ли вы взаимодействия поверхности, механические свойства или электрические характеристики, этот микроскоп предоставляет необходимые инструменты для углубленного анализа.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это современный прибор, который превосходно справляется с получением изображений и анализом в наномасштабе, предлагая возможности атомного разрешения и передовые функции сканирования. Благодаря своей исключительной производительности и универсальности, этот микроскоп является ценным активом для исследователей и ученых, работающих в различных областях, требующих точной и детальной характеристики на наноуровне.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Столик для образцов: Моторизованный XY-столик с разрешением 100 мкм
• Режимы сканирования:
  • Контактный
  • Прерывистый
  • Бесконтактный
  • Латеральной силы
  • Модуляция силы
• Диапазон сканирования: 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм
• Размер образца: до 25 мм
• Скорость сканирования: 0,1 Гц-30 Гц

Технические параметры:

Применение:

Случаи и сценарии применения продукта для атомно-силового микроскопа Truth Instruments AtomEdge Pro:

Truth Instruments AtomEdge Pro, сканирующий силовой микроскоп (SFM), является универсальным инструментом, подходящим для различных применений в разных областях. Благодаря своим передовым функциям и точности, он идеально подходит для следующих случаев и сценариев:

1. Наномасштабное изображение: AtomEdge Pro с разрешением 0,04 нм идеально подходит для получения изображений с высоким разрешением на наноуровне. Его можно использовать в исследованиях нанотехнологий, материаловедении и биологических приложениях, где решающее значение имеет детальное изображение.

2. Многорежимные измерения: Этот SFM предлагает несколько режимов измерения, что делает его подходящим для широкого спектра областей исследований. Если вам нужно выполнить топографию, фазовое изображение или силовую спектроскопию, AtomEdge Pro может эффективно обрабатывать различные методы измерения.

3. Характеристика материалов: Исследователи и ученые могут использовать AtomEdge Pro для анализа свойств поверхности, механических характеристик и состава материалов. Его диапазон сканирования 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм позволяет проводить детальную характеристику материалов с высокой точностью.

4. Контроль качества и инспекция: AtomEdge Pro можно использовать в промышленных условиях для контроля качества и инспекции. Будь то проверка небольших компонентов или анализ дефектов поверхности, этот SFM предоставляет точные и надежные данные для производственных процессов.

5. Исследования и разработки: От академических кругов до промышленности, AtomEdge Pro является ценным инструментом для исследований и разработок. Его моторизованный XY-столик с разрешением 100 мкм и диапазоном скорости сканирования 0,1 Гц-30 Гц делают его эффективным для проведения экспериментов, тестирования образцов и изучения новых технологий.

6. Образовательные цели: AtomEdge Pro также можно использовать в образовательных учреждениях, чтобы обучать студентов нанотехнологиям, методам микроскопии и анализу поверхности. Его удобный интерфейс и точные измерения делают его отличным инструментом для демонстраций в классе и практического обучения.

Происходя из Китая, Truth Instruments AtomEdge Pro - это надежный и высокопроизводительный SFM, который подходит для широкого спектра применений и сценариев, что делает его ценным активом в различных исследовательских, промышленных и образовательных средах.