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힘 변조 스캔 원자 현미경 고해상도 과학 현미경 0.04 Nm

Force Modulation Scanning Atomic Force Microscope With High Resolution Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-resolution imaging and analysis at the nanoscale level. With its advanced capabilities, this microscope offers unparalleled performance in nanotechnology research and development. One of the key features of the Atomic Force Microscope is its impressive scanning speed range, which allows for precise and efficient
제품 상세정보
강조하다:

힘 변조 스캔 원자 현미경

,

고해상도 과학 현미경

,

과학 현미경 0.04 Nm

Name: 원자 현미경
Scanning Speed: 0.1Hz-30Hz
Scanning Modes: 접촉, 태핑, 비 접촉, 측면 힘, 힘 변조
Sample Stage: 100 μm 해상도를 갖는 전동 XY 단계
Sample Size: 최대 25mm
Resolution: 0.04 nm
Scanning Range: 100 μm x 100 μm x 10μm

기본 속성

브랜드 이름: Truth Instruments
모델 번호: Atomedge Pro

부동산 거래

가격: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
지불 조건: t/t
제품 설명

고해상도 힘 변조 스캐닝 원자력 현미경

제품 설명:

원자력 현미경은 나노미터 수준에서 고해상도 이미징 및 분석을 위해 설계된 최첨단 장비입니다. 이 현미경은 첨단 기능을 통해 나노기술 연구 개발 분야에서 탁월한 성능을 제공합니다.

원자력 현미경의 주요 특징 중 하나는 인상적인 스캔 속도 범위로, 0.1Hz에서 30Hz까지 정밀하고 효율적인 이미징을 가능하게 합니다. 이 넓은 범위는 사용자가 동적 프로세스와 복잡한 세부 사항을 뛰어난 선명도와 정확도로 캡처할 수 있도록 합니다.

샘플 크기와 관련하여 원자력 현미경은 최대 25mm 크기의 샘플을 수용할 수 있어 다재다능함과 유연성을 제공합니다. 이 넉넉한 샘플 크기 기능은 재료 과학에서 생물학적 연구에 이르기까지 다양한 산업 분야에서 광범위한 응용 분야에 이상적입니다.

원자 해상도 이미징이 필요한 연구원과 과학자에게 원자력 현미경은 0.04nm의 놀라운 해상도로 뛰어난 결과를 제공합니다. 이 정밀도는 사용자가 원자 수준에서 샘플을 시각화하고 분석하여 재료의 구조와 특성에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다.

원자력 현미경의 스캔 범위는 100 μm x 100 μm x 10 μm의 치수를 커버하여 마찬가지로 인상적입니다. 이 광범위한 스캔 범위는 다양한 크기와 지형의 샘플에 대한 포괄적인 이미징을 가능하게 하여 나노 규모 조사를 위한 다재다능한 도구로 만듭니다.

접촉, 태핑, 비접촉, 측면력 및 힘 변조를 포함한 여러 스캔 모드를 갖춘 원자력 현미경은 다양한 실험 요구 사항에 맞게 유연성과 적응성을 제공합니다. 표면 상호 작용, 기계적 특성 또는 전기적 특성을 연구하든 이 현미경은 심층 분석에 필요한 도구를 제공합니다.

요약하면, 원자력 현미경은 나노 규모 이미징 및 분석에 탁월한 최첨단 장비로, 원자 해상도 기능과 고급 스캔 기능을 제공합니다. 뛰어난 성능과 다재다능함으로 이 현미경은 나노 규모 수준에서 정밀하고 상세한 특성화를 필요로 하는 다양한 분야에서 연구원과 과학자에게 귀중한 자산입니다.

 

특징:

  • 제품 이름: 원자력 현미경
  • 샘플 스테이지: 100 μm 해상도의 전동 XY 스테이지
  • 스캔 모드:
    • 접촉
    • 태핑
    • 비접촉
    • 측면력
    • 힘 변조
  • 스캔 범위: 100 μm X 100 μm X 10μm
  • 샘플 크기: 최대 25 mm
  • 스캔 속도: 0.1Hz-30Hz
 

기술 매개변수:

해상도 0.04 Nm
샘플 크기 최대 25 mm
스캔 범위 100 μm x 100 μm x 10 μm
샘플 스테이지 100 μm 해상도의 전동 XY 스테이지
스캔 모드 접촉, 태핑, 비접촉, 측면력, 힘 변조
스캔 속도 0.1Hz-30Hz
 

응용 분야:

Truth Instruments AtomEdge Pro 원자력 현미경 AtomEdge Pro의 제품 응용 사례 및 시나리오:

스캐닝력 현미경(SFM)인 Truth Instruments AtomEdge Pro는 다양한 분야에서 다양한 응용 분야에 적합한 다재다능한 도구입니다. 고급 기능과 정밀성을 갖춘 이 제품은 다음과 같은 경우와 시나리오에 이상적입니다.

1. 나노 규모 이미징: 0.04 nm의 해상도를 가진 AtomEdge Pro는 나노 규모 수준에서 고해상도 이미징에 적합합니다. 상세한 이미징이 중요한 나노기술 연구, 재료 과학 및 생물학적 응용 분야에서 사용할 수 있습니다.

2. 다중 모드 측정: 이 SFM은 여러 측정 모드를 제공하여 광범위한 연구 분야에 적합합니다. 지형, 위상 이미징 또는 힘 분광법을 수행해야 하는 경우 AtomEdge Pro는 다양한 측정 기술을 효율적으로 처리할 수 있습니다.

3. 재료 특성화: 연구원과 과학자는 AtomEdge Pro를 사용하여 표면 특성, 기계적 특성 및 재료 구성을 분석할 수 있습니다. 100 μm x 100 μm x 10 μm의 스캔 범위는 높은 정밀도로 상세한 재료 특성화를 가능하게 합니다.

4. 품질 관리 및 검사: AtomEdge Pro는 품질 관리 및 검사 목적으로 산업 환경에서 활용할 수 있습니다. 작은 구성 요소를 검사하거나 표면 결함을 분석하든 이 SFM은 제조 공정에 대한 정확하고 신뢰할 수 있는 데이터를 제공합니다.

5. 연구 개발: 학계에서 산업에 이르기까지 AtomEdge Pro는 연구 개발 활동을 위한 귀중한 도구입니다. 100 μm 해상도의 전동 XY 스테이지와 0.1Hz-30Hz의 스캔 속도 범위는 실험 수행, 샘플 테스트 및 새로운 기술 탐색에 효율적입니다.

6. 교육 목적: AtomEdge Pro는 나노기술, 현미경 기술 및 표면 분석에 대해 학생들을 가르치기 위해 교육 환경에서도 사용할 수 있습니다. 사용자 친화적인 인터페이스와 정밀한 측정은 교실 시연 및 실습 학습 경험을 위한 훌륭한 도구입니다.

중국에서 시작된 Truth Instruments AtomEdge Pro는 다양한 연구, 산업 및 교육 환경에서 귀중한 자산이 되는 광범위한 응용 분야와 시나리오에 적합한 신뢰할 수 있고 고성능 SFM입니다.

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