Krachtmodulatiescanning Atoommicroscoop Hoogoplossende wetenschappelijke microscoop 0,04 Nm

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope is een geavanceerd instrument ontworpen voor hoge resolutie beeldvorming en analyse op nanoschaal niveau.Deze microscoop biedt ongeëvenaarde prestaties in nanotechnologie onderzoek en ontwikkeling.

Een van de belangrijkste kenmerken van de Atomic Force Microscope is het indrukwekkende scansnelheidsbereik, waardoor nauwkeurige en efficiënte afbeeldingen van 0,1 Hz tot 30 Hz mogelijk zijn.Dit brede bereik stelt gebruikers in staat om dynamische processen en ingewikkelde details met uitzonderlijke duidelijkheid en nauwkeurigheid vast te leggen.

Wat de steekproefgrootte betreft, biedt de Atomic Force Microscope veelzijdigheid en flexibiliteit en is het geschikt voor steekproeven van maximaal 25 mm.Deze genereuze monstergrootte maakt het ideaal voor een breed scala aan toepassingen in verschillende industrieën, van materiaalwetenschappen tot biologisch onderzoek.

Voor onderzoekers en wetenschappers die afbeeldingen met atoomresolutie nodig hebben, levert de Atomic Force Microscope uitstekende resultaten met een opmerkelijke resolutie van 0,04 nm.Met deze precisie kunnen gebruikers monsters op atomaire schaal visualiseren en analyseren, die ons waardevolle inzichten geeft in de structuur en eigenschappen van materialen.

Het scanbereik van de Atomic Force Microscope is even indrukwekkend, met afmetingen van 100 μm x 100 μm x 10 μm.Dit uitgebreide scanbereik maakt een uitgebreide afbeelding van monsters met verschillende groottes en topografie mogelijk, waardoor het een veelzijdig hulpmiddel is voor nanoschaalonderzoeken.

uitgerust met meerdere scannermodi, met inbegrip van contact, tikken, niet-contact, laterale kracht en krachtmodulatie,de Atomic Force Microscope biedt flexibiliteit en aanpassingsvermogen voor verschillende experimentele vereistenOf het nu gaat om het bestuderen van oppervlakte-interacties, mechanische eigenschappen of elektrische eigenschappen, deze microscoop biedt de nodige instrumenten voor diepgaande analyse.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een state-of-the-art instrument dat uitblinkt in nanoschaal beeldvorming en analyse, met atoom resolutie mogelijkheden en geavanceerde scanning functies.Met zijn uitzonderlijke prestaties en veelzijdigheid, is deze microscoop een waardevolle hulpmiddel voor onderzoekers en wetenschappers die werkzaam zijn op verschillende gebieden die een nauwkeurige en gedetailleerde karakterisering op nanoschaalniveau vereisen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Proefstap: gemotoriseerde XY-stap met een resolutie van 100 μm
• Scanmodus:
  • Contact
  • Tapping
  • Niet-contact
  • Laterale kracht
  • Krachtmodulatie
• Scanningbereik: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Grootte van het monster: tot 25 mm
• Scansnelheid: 0,1 Hz-30 Hz

Technische parameters:

Toepassingen:

Producttoepassingsmogelijkheden en scenario's voor Truth Instruments Atomic Force Microscope AtomEdge Pro:

De Truth Instruments AtomEdge Pro, een Scanning Force Microscope (SFM), is een veelzijdig instrument dat geschikt is voor verschillende toepassingen op verschillende gebieden.het is ideaal voor de volgende gelegenheden en scenario's:

1. Nanoscale Imaging: De AtomEdge Pro, met een resolutie van 0,04 nm, is perfect voor beeldvorming met hoge resolutie op nanoschaalniveau.en biologische toepassingen waar gedetailleerde beeldvorming cruciaal is.

2. Multi-Mode Measurement: Dit SFM biedt meerdere meetmodi, waardoor het geschikt is voor een breed scala aan onderzoeksgebieden.of krachtspectroscopie, kan de AtomEdge Pro verschillende meettechnieken efficiënt hanteren.

3Materiële karakterisering: Onderzoekers en wetenschappers kunnen met de AtomEdge Pro oppervlakte-eigenschappen, mechanische eigenschappen en materiaalcomposities analyseren.Het scannerbereik van 100 μm x 100 μm x 10 μm maakt een gedetailleerde karakterisering van het materiaal met hoge precisie mogelijk.

4. Kwaliteitscontrole en -inspectie: De AtomEdge Pro kan in industriële omgevingen worden gebruikt voor kwaliteitscontrole en -inspectie.,deze SFM biedt nauwkeurige en betrouwbare gegevens voor productieprocessen.

5Onderzoek en ontwikkeling: Van de academische wereld tot de industrie, de AtomEdge Pro is een waardevol hulpmiddel voor onderzoek en ontwikkeling.Het gemotoriseerde XY-stadium met een resolutie van 100 μm en een snelheidsbereik van 0.1 Hz-30 Hz maken het efficiënt voor het uitvoeren van experimenten, het testen van monsters en het verkennen van nieuwe technologieën.

6Onderwijsdoeleinden: De AtomEdge Pro kan ook in onderwijsomgevingen worden gebruikt om studenten te leren over nanotechnologie, microscopie technieken en oppervlaktanalyse.De gebruiksvriendelijke interface en de precieze metingen maken het een uitstekend instrument voor demonstraties in de klas en praktische leerervaringen.

Met zijn oorsprong in China, is de Truth Instruments AtomEdge Pro een betrouwbare en hoogwaardige SFM die geschikt is voor een breed scala aan toepassingen en scenario's,Het maakt het een waardevol middel in verschillende onderzoeken.In de eerste plaats is het belangrijk dat de Europese Unie de nodige inspanningen levert.