Mikroskop Atomik Pindai Modulasi Gaya Ilmu Resolusi Tinggi Mikroskop 0.04 Nm

Deskripsi produk:

Atomic Force Microscope adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk pengambilan gambar resolusi tinggi dan analisis pada tingkat nanoscale.mikroskop ini menawarkan kinerja yang tak tertandingi dalam penelitian dan pengembangan nanoteknologi.

Salah satu fitur utama dari Mikroskop Kekuatan Atom adalah rentang kecepatan pemindaian yang mengesankan, yang memungkinkan pencitraan yang tepat dan efisien dari 0,1Hz hingga 30Hz.Rentang yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menangkap proses dinamis dan detail yang rumit dengan kejelasan dan akurasi yang luar biasa.

Dalam hal ukuran sampel, Mikroskop Kekuatan Atom menawarkan fleksibilitas dan fleksibilitas, dengan ukuran sampel hingga 25 mm.Kemampuan ukuran sampel yang murah hati ini membuatnya ideal untuk berbagai aplikasi di berbagai industri, dari ilmu material untuk penelitian biologi.

Untuk peneliti dan ilmuwan yang membutuhkan pencitraan resolusi atom, Mikroskop Kekuatan Atom memberikan hasil yang luar biasa dengan resolusi 0,04 nm.Tingkat presisi ini memungkinkan pengguna untuk memvisualisasikan dan menganalisis sampel pada skala atom, memberikan wawasan yang sangat berharga tentang struktur dan sifat bahan.

Jangkauan pemindaian Mikroskop Kekuatan Atom sama mengesankan, mencakup dimensi 100 μm x 100 μm x 10 μm.Jangkauan pemindaian yang luas ini memungkinkan pencitraan komprehensif sampel dengan berbagai ukuran dan topografi, menjadikannya alat serbaguna untuk penyelidikan skala nano.

Dilengkapi dengan beberapa mode pemindaian, termasuk kontak, mengetuk, non-kontak, gaya lateral, dan modulasi gaya,Atomic Force Microscope menawarkan fleksibilitas dan kemampuan beradaptasi untuk memenuhi persyaratan eksperimen yang berbedaApakah mempelajari interaksi permukaan, sifat mekanik, atau karakteristik listrik, mikroskop ini menyediakan alat yang diperlukan untuk analisis mendalam.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom adalah instrumen mutakhir yang unggul dalam pencitraan dan analisis skala nano, menawarkan kemampuan resolusi atom dan fitur pemindaian canggih.Dengan kinerja dan fleksibilitas yang luar biasa, mikroskop ini adalah aset yang berharga bagi peneliti dan ilmuwan yang bekerja di berbagai bidang yang membutuhkan karakterisasi yang tepat dan terperinci di tingkat nanoscale.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Tahap Sampel: Tahap XY Bermotor Dengan Resolusi 100 μm
• Mode pemindaian:
  • Kontak
  • Mengetuk
  • Tanpa kontak
  • Kekuatan lateral
  • Modulasi gaya
• Jangkauan pemindaian: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Ukuran sampel: Hingga 25 mm
• Kecepatan pemindaian: 0.1Hz-30Hz

Parameter teknis:

Aplikasi:

Kesempatan dan Skenario Aplikasi Produk untuk Instrumen Kebenaran Mikroskop Kekuatan Atom AtomEdge Pro:

The Truth Instruments AtomEdge Pro, sebuah Scanning Force Microscope (SFM), adalah alat serbaguna yang cocok untuk berbagai aplikasi di berbagai bidang.sangat cocok untuk kesempatan dan skenario berikut:

1. Imaging Nanoscale: AtomEdge Pro, dengan resolusi 0,04 nm, sangat cocok untuk pencitraan resolusi tinggi pada tingkat nanoscale.dan aplikasi biologis di mana pencitraan rinci sangat penting.

2. Pengukuran Multi-Mode: SFM ini menawarkan beberapa mode pengukuran, membuatnya cocok untuk berbagai bidang penelitian.atau spektroskopi gaya, AtomEdge Pro dapat menangani berbagai teknik pengukuran secara efisien.

3Karakterisasi bahan: Peneliti dan ilmuwan dapat menggunakan AtomEdge Pro untuk menganalisis sifat permukaan, karakteristik mekanis, dan komposisi bahan.Jangkauan pemindaiannya 100 μm x 100 μm x 10 μm memungkinkan untuk karakteristik bahan rinci dengan presisi tinggi.

4. Kontrol dan Inspeksi Kualitas: AtomEdge Pro dapat digunakan di lingkungan industri untuk tujuan kontrol dan inspeksi kualitas. Apakah memeriksa komponen kecil atau menganalisis cacat permukaan,SFM ini memberikan data yang akurat dan dapat diandalkan untuk proses manufaktur.

5Penelitian dan Pengembangan: Dari akademisi hingga industri, AtomEdge Pro adalah alat yang berharga untuk kegiatan penelitian dan pengembangan.Tahap XY bermotor dengan resolusi 100 μm dan rentang kecepatan pemindaian 0.1Hz-30Hz membuatnya efisien untuk melakukan eksperimen, menguji sampel, dan mengeksplorasi teknologi baru.

6. Tujuan pendidikan: AtomEdge Pro juga dapat digunakan dalam pengaturan pendidikan untuk mengajar siswa tentang nanoteknologi, teknik mikroskop, dan analisis permukaan.Antarmuka yang mudah digunakan dan pengukuran yang tepat membuatnya menjadi instrumen yang sangat baik untuk demonstrasi di kelas dan pengalaman belajar praktis.

Dengan asalnya di Cina, Truth Instruments AtomEdge Pro adalah SFM yang dapat diandalkan dan berkinerja tinggi yang melayani berbagai aplikasi dan skenario,membuatnya aset yang berharga dalam berbagai penelitian, industri, dan lingkungan pendidikan.