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MOKE Wafer Scanner EFEM Système de mesure de plaquettes pour les cartes d'hystérésis et d'uniformité magnétique

MOKE Wafer Scanner For Hysteresis And Magnetic Uniformity Maps Product Description: Introducing the Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument, a cutting-edge tool in Spintronics Metrology designed to meet the demanding requirements of advanced research and development in the field. This innovative product offers unparalleled capabilities for precise and efficient measurement of magnetic properties at the wafer level. One of the key features of this state-of-the-art
Détails de produit
Mettre en évidence:

Scanner de plaquettes MOKE

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Système de mesure de plaquettes EFEM

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Scanner de plaquettes EFEM

Name: Scanner de plaquette
Kerr Angle Resolution: 0,3 MDEG (RMS)
EFEM: Facultatif
Sample Repeatability: Mieux que 10 μm
Magnetic Field: Vertical ± 2,4 t; Dans le plan ± 1,3 t
Magnetic Field Resolution: Règlement de rétroaction en boucle fermée PID, 0,01 MT
Testing Functions: Mesure de boucle d'hystérésis non destructive des piles / périphériques magnétiques, extraction
Uptime: 90%
Magnetic Field Uniformity: Mieux que ± 1% @ φ1 mm

Propriétés de base

Nom de marque: Truth Instruments
Numéro de modèle: Décolleté

Propriétés commerciales

Prix: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Conditions de paiement: T / t
Description de produit

Scanner de plaquettes MOKE pour les cartes d'hystérésis et d'uniformité magnétique

Description du produit :

Présentation de l'instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette, un outil de pointe en métrologie spintronique conçu pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche et du développement de pointe dans ce domaine. Ce produit innovant offre des capacités inégalées pour une mesure précise et efficace des propriétés magnétiques au niveau de la plaquette.

L'une des principales caractéristiques de ce magnétomètre de plaquette de pointe est son exceptionnelle répétabilité de l'échantillon, avec un niveau de performance supérieur à 10 µm. Ce niveau élevé de répétabilité garantit la précision et la cohérence des résultats de mesure, ce qui permet aux chercheurs de s'appuyer sur les données obtenues en toute confiance.

De plus, le magnétomètre de plaquette est équipé d'une technologie de pointe qui garantit une uniformité du champ magnétique supérieure à ±1 % à Φ1 mm. Cette uniformité exceptionnelle sur l'ensemble du champ magnétique garantit que les mesures ne sont pas affectées par les variations de l'intensité du champ, ce qui permet une analyse des données plus fiable et plus précise.

En ce qui concerne l'efficacité des tests, l'instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette excelle avec un débit de 12 WPH à ±1,3 T, ce qui permet une caractérisation rapide et efficace des propriétés magnétiques. Avec la possibilité de mesurer 9 sites sur une plaquette de 200 mm simultanément, cet instrument permet aux chercheurs de rationaliser leur flux de travail et d'accroître leur productivité.

Les chercheurs apprécieront également la flexibilité offerte par le magnétomètre de plaquette en termes de compatibilité avec la taille des échantillons. Cet instrument est conçu pour fonctionner avec des plaquettes allant jusqu'à 12 pouces et prend en charge les tests de fragments, ce qui le rend polyvalent et adaptable à un large éventail de types et de tailles d'échantillons.

Une autre caractéristique remarquable de l'instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette est sa résolution d'angle de Kerr impressionnante de 0,3 Mdeg (RMS). Cette haute résolution permet une mesure détaillée et précise des propriétés magnétiques, ce qui permet aux chercheurs d'acquérir des informations précieuses sur le comportement des matériaux à l'échelle nanométrique.

En conclusion, l'instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette est un outil puissant qui offre des capacités inégalées pour une mesure précise et efficace des propriétés magnétiques au niveau de la plaquette. Avec ses caractéristiques avancées, ses performances supérieures et sa polyvalence, cet instrument est un incontournable pour les chercheurs travaillant dans le domaine de la métrologie spintronique.

 

Caractéristiques :

  • Nom du produit : Instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette
  • Taille de l'échantillon : Compatible avec 12 pouces et moins, prend en charge les tests de fragments
  • Uniformité du champ magnétique : Supérieure à ±1 %@Φ1 mm
  • Répétabilité de l'échantillon : Supérieure à 10 µm
  • Champ magnétique : Vertical ±2,4 T ; plan ±1,3 T
  • Disponibilité : 90 %
 

Paramètres techniques :

Efficacité des tests 12 WPH@±1,3 T / Mesure sur 9 sites / Plaquette de 200 mm
Taille de l'échantillon Compatible avec 12 pouces et moins, prend en charge les tests de fragments
Résolution de l'angle de Kerr 0,3 Mdeg (RMS)
Résolution du champ magnétique Régulation à rétroaction en boucle fermée PID, 0,01 MT
Répétabilité de l'échantillon Supérieure à 10 µm
EFEM Optionnel
Disponibilité 90 %
Champ magnétique Vertical ±2,4 T ; plan ±1,3 T
Uniformité du champ magnétique Supérieure à ±1 %@Φ1 mm
Fonctions de test Mesure non destructive de la boucle d'hystérésis des empilements/dispositifs magnétiques, extraction automatique des informations de la boucle d'hystérésis (Hc de la couche libre et de la couche épinglée, Hex, M (valeur de l'angle de Kerr)) et cartographie rapide de la distribution des caractéristiques magnétiques de la plaquette
 

Applications :

Truth Instruments présente le Wafer-MOKE, un instrument de mesure de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette de pointe conçu pour une inspection précise et efficace des plaquettes magnétiques à couches minces. Originaire de Chine, ce produit innovant offre des performances et une précision supérieures dans la mesure des propriétés magnétiques sur les plaquettes.

Le Wafer-MOKE de Truth Instruments bénéficie d'une uniformité de champ magnétique exceptionnelle, dépassant ±1 % à Φ1 mm, garantissant des résultats fiables et cohérents. Sa résolution de champ magnétique est de premier ordre avec une régulation à rétroaction en boucle fermée PID, atteignant un impressionnant 0,01 MT pour des mesures précises.

En ce qui concerne l'efficacité des tests, le Wafer-MOKE excelle avec une vitesse de test de 12 plaquettes par heure à ±1,3 T et une mesure sur 9 sites sur une plaquette de 200 mm. Cette capacité de débit élevée le rend idéal pour les environnements de production à volume élevé nécessitant des mesures rapides et précises.

Pour plus de flexibilité, le Wafer-MOKE offre une fonction EFEM en option, permettant aux utilisateurs de personnaliser leur configuration en fonction d'exigences spécifiques. Cette adaptabilité assure une intégration transparente dans divers processus d'inspection des plaquettes, améliorant la productivité globale.

De plus, la répétabilité de l'échantillon du Wafer-MOKE est exceptionnelle, dépassant 10 µm, garantissant des résultats cohérents et fiables sur plusieurs tests. Cette fiabilité est cruciale pour assurer le contrôle qualité et répondre aux normes industrielles strictes.

En conclusion, le Wafer-MOKE de Truth Instruments est la solution ultime pour les scanners de plaquettes MOKE et les applications d'inspection de plaquettes magnétiques à couches minces. Ses caractéristiques avancées, sa précision et son efficacité en font un instrument indispensable pour les industries nécessitant des mesures précises et rapides de la boucle d'hystérésis au niveau de la plaquette.

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