Escáner de obleas MOKE EFEM Sistema de medición de obleas para mapas de histéresis y uniformidad magnética

Descripción del producto:

Introducción del instrumento de medición de bucle de histeresis a nivel de oblea,una herramienta de vanguardia en Metrología Spintronics diseñada para satisfacer los exigentes requisitos de investigación y desarrollo avanzados en el campoEste producto innovador ofrece capacidades incomparables para una medición precisa y eficiente de las propiedades magnéticas a nivel de la oblea.

Una de las características clave de este magnetómetro de wafer de última generación es su excepcional repetibilidad de muestras, con un nivel de rendimiento de mejor que 10 μm.Este alto nivel de repetibilidad garantiza la exactitud y la coherencia de los resultados de medición, lo que permite a los investigadores confiar en los datos obtenidos con confianza.

Además, el magnetómetro de obleas está equipado con tecnología avanzada que garantiza una uniformidad del campo magnético superior al ±1% a Φ1 mm.Esta excepcional uniformidad en todo el campo magnético asegura que las mediciones no se vean afectadas por variaciones en la intensidad del campo, lo que conduce a un análisis de datos más fiable y preciso.

Cuando se trata de la eficiencia de ensayo, el instrumento de medición de bucle de histeresis a nivel de oblea sobresale con un rendimiento de 12 WPH a ± 1,3 T,que permite una caracterización rápida y eficiente de las propiedades magnéticasCon la capacidad de medir 9 sitios simultáneamente en una oblea de 200 mm, este instrumento permite a los investigadores agilizar su flujo de trabajo y aumentar la productividad.

Los investigadores también apreciarán la flexibilidad ofrecida por el magnetómetro de wafer en términos de compatibilidad de tamaño de muestra.Este instrumento está diseñado para trabajar con obleas de hasta 12 pulgadas de tamaño y soporta pruebas de fragmentos, por lo que es versátil y adaptable a una amplia gama de tipos y tamaños de muestras.

Otra característica destacada del instrumento de medición de bucle de histeresis a nivel de obleas es su impresionante resolución de ángulo de Kerr de 0,3 Mdeg (RMS).Esta alta resolución permite una medición detallada y precisa de las propiedades magnéticas, lo que permite a los investigadores obtener información valiosa sobre el comportamiento de los materiales a nanoescala.

En conclusión,el instrumento de medición de bucle de histeresis a nivel de oblea es una herramienta poderosa que ofrece capacidades inigualables para la medición precisa y eficiente de las propiedades magnéticas a nivel de obleaCon sus características avanzadas, rendimiento superior y versatilidad, este instrumento es imprescindible para los investigadores que trabajan en el campo de la metrología espintrónica.

Características:

• Nombre del producto: Instrumento de medición de bucle de histeresis a nivel de obleas
• Tamaño de la muestra: Compatible con 12 pulgadas y menos, admite pruebas de fragmentos
• Uniformidad del campo magnético: mejor que ±1%@Φ1 mm
• Repetibilidad de la muestra: Mejor que 10 μm
• Campo magnético: vertical ± 2,4 T; en el plano ± 1,3 T
• Tiempo de actividad: 90%

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

Truth Instruments presenta el Wafer-MOKE, un instrumento de medición de bucle de histeresis de nivel de wafer de vanguardia diseñado para una inspección precisa y eficiente de wafers magnéticos de película delgada.Originario de China, este producto innovador ofrece un rendimiento y una precisión superiores en la medición de las propiedades magnéticas de las obleas.

El Wafer-MOKE de Truth Instruments cuenta con una excepcional uniformidad del campo magnético, superando el ± 1% a Φ1 mm, lo que garantiza resultados confiables y consistentes.Su resolución de campo magnético es de primer nivel con regulación de retroalimentación de circuito cerrado PID, logrando un impresionante 0,01 MT para mediciones precisas.

Cuando se trata de la eficiencia de ensayo, el Wafer-MOKE sobresale con una velocidad de ensayo de 12 obleas por hora a ± 1,3 T y 9 sitios de medición en una obleas de 200 mm.Esta capacidad de alto rendimiento lo hace ideal para entornos de producción de alto volumen que requieren mediciones rápidas y precisas.

Para mayor flexibilidad, el Wafer-MOKE ofrece una función EFEM opcional, que permite a los usuarios personalizar su configuración en función de requisitos específicos.Esta adaptabilidad garantiza una integración perfecta en varios procesos de inspección de obleas, mejorando la productividad general.

Además, la repetibilidad de la muestra del Wafer-MOKE es excepcional, superando los 10 μm, lo que garantiza resultados consistentes y confiables en múltiples pruebas.Esta fiabilidad es crucial para garantizar el control de calidad y cumplir con estrictas normas de la industria.

En conclusión, la Wafer-MOKE de Truth Instruments es la solución definitiva para los escáneres de wafer MOKE y las aplicaciones de inspección de waferas magnéticas de película delgada.y la eficiencia lo convierten en un instrumento imprescindible para las industrias que requieren mediciones precisas y rápidas del bucle de histeresis a nivel de oblea.