MOKE Wafer Scanner EFEM Wafer Meetsysteem voor Hysteresis en Magnetische Uniformiteitskaarten

Productbeschrijving:

Introductie van het Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument, een geavanceerd hulpmiddel in Spintronics Metrologie, ontworpen om te voldoen aan de veeleisende eisen van geavanceerd onderzoek en ontwikkeling op dit gebied. Dit innovatieve product biedt ongeëvenaarde mogelijkheden voor precieze en efficiënte meting van magnetische eigenschappen op waferniveau.

Een van de belangrijkste kenmerken van deze state-of-the-art Wafer Magnetometer is de uitzonderlijke Sample Herhaalbaarheid, met een prestatieniveau van Beter Dan 10 μm. Dit hoge niveau van herhaalbaarheid garandeert de nauwkeurigheid en consistentie van meetresultaten, waardoor onderzoekers op de verkregen gegevens kunnen vertrouwen.

Verder is de Wafer Magnetometer uitgerust met geavanceerde technologie die Magnetische Veld Uniformiteit van Beter Dan ±1% bij Φ1 Mm garandeert. Deze uitzonderlijke uniformiteit over het magnetische veld zorgt ervoor dat metingen niet worden beïnvloed door variaties in veldsterkte, wat leidt tot betrouwbaardere en nauwkeurigere data-analyse.

Als het gaat om Testefficiëntie, blinkt het Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument uit met een doorvoer van 12 WPH bij ±1,3 T, waardoor snelle en efficiënte karakterisering van magnetische eigenschappen mogelijk is. Met de mogelijkheid om 9 sites op een 200 Mm wafer tegelijkertijd te meten, stelt dit instrument onderzoekers in staat hun workflow te stroomlijnen en de productiviteit te verhogen.

Onderzoekers zullen ook de flexibiliteit waarderen die de Wafer Magnetometer biedt op het gebied van Sample Grootte compatibiliteit. Dit instrument is ontworpen om te werken met wafers tot 12 inch groot en ondersteunt fragmenttesten, waardoor het veelzijdig en aanpasbaar is aan een breed scala aan monstertypes en -groottes.

Een ander opvallend kenmerk van het Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument is de indrukwekkende Kerr Hoek Resolutie van 0,3 Mdeg (RMS). Deze hoge resolutie maakt gedetailleerde en nauwkeurige meting van magnetische eigenschappen mogelijk, waardoor onderzoekers waardevolle inzichten kunnen verkrijgen in het gedrag van materialen op de nanoschaal.

Kortom, het Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument is een krachtig hulpmiddel dat ongeëvenaarde mogelijkheden biedt voor precieze en efficiënte meting van magnetische eigenschappen op waferniveau. Met zijn geavanceerde functies, superieure prestaties en veelzijdigheid is dit instrument een must-have voor onderzoekers die werkzaam zijn op het gebied van Spintronics Metrologie.

Kenmerken:

• Productnaam: Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument
• Sample Grootte: Compatibel met 12-inch en kleiner, ondersteunt fragmenttesten
• Magnetische Veld Uniformiteit: Beter dan ±1%@Φ1 Mm
• Sample Herhaalbaarheid: Beter dan 10 μm
• Magnetisch Veld: Verticaal ±2,4 T; In-plane ±1,3 T
• Uptime: 90%

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments introduceert de Wafer-MOKE, een geavanceerd Wafer-Level Hysteresis Loop Meetinstrument ontworpen voor precieze en efficiënte inspectie van dunne film magnetische wafers. Afkomstig uit CHINA, biedt dit innovatieve product superieure prestaties en nauwkeurigheid bij het meten van magnetische eigenschappen op wafers.

De Wafer-MOKE van Truth Instruments beschikt over uitzonderlijke magnetische veld uniformiteit, die ±1% bij Φ1 mm overtreft, wat betrouwbare en consistente resultaten garandeert. De magnetische veldresolutie is topklasse met PID closed-loop feedbackregeling, en bereikt een indrukwekkende 0,01 MT voor precieze metingen.

Als het gaat om testefficiëntie, blinkt de Wafer-MOKE uit met een testsnelheid van 12 wafers per uur bij ±1,3 T en 9 sites meting op een 200 mm wafer. Deze hoge doorvoercapaciteit maakt het ideaal voor productieomgevingen met een hoog volume die snelle en nauwkeurige metingen vereisen.

Voor extra flexibiliteit biedt de Wafer-MOKE een optionele EFEM-functie, waarmee gebruikers hun opstelling kunnen aanpassen op basis van specifieke vereisten. Deze aanpasbaarheid zorgt voor een naadloze integratie in verschillende waferinspectieprocessen, waardoor de algehele productiviteit wordt verhoogd.

Bovendien is de sample herhaalbaarheid van de Wafer-MOKE uitzonderlijk, en overtreft 10 μm, wat consistente en betrouwbare resultaten over meerdere tests garandeert. Deze betrouwbaarheid is cruciaal voor het waarborgen van kwaliteitscontrole en het voldoen aan strenge industrienormen.

Kortom, de Truth Instruments Wafer-MOKE is de ultieme oplossing voor MOKE wafer scanners en dunne film magnetische wafer inspectie toepassingen. De geavanceerde functies, precisie en efficiëntie maken het tot een onmisbaar instrument voor industrieën die nauwkeurige en snelle hysteresis loop metingen op waferniveau vereisen.