logo

Skaner płytek MOKE EFEM System pomiaru płytek do map histerezy i jednorodności magnetycznej

MOKE Wafer Scanner For Hysteresis And Magnetic Uniformity Maps Product Description: Introducing the Wafer-Level Hysteresis Loop Measurement Instrument, a cutting-edge tool in Spintronics Metrology designed to meet the demanding requirements of advanced research and development in the field. This innovative product offers unparalleled capabilities for precise and efficient measurement of magnetic properties at the wafer level. One of the key features of this state-of-the-art
Szczegóły produktu
Podkreślić:

Skaner Płytki MOKE

,

System pomiaru płytek EFEM

,

Skaner płytek EFEM

Name: Skaner opłat
Kerr Angle Resolution: 0,3 MDEG (RMS)
EFEM: Fakultatywny
Sample Repeatability: Lepsze niż 10 μm
Magnetic Field: Pionowy ± 2,4 t; W płaszczyźnie ± 1,3 t
Magnetic Field Resolution: Regulacja sprzężenia zwrotnego zamkniętej pętli PID, 0,01 MT
Testing Functions: Niedestrukcyjny pomiar pętli histerezy stosów/urządzeń magnetycznych, automatyczne ekstrakcję inform
Uptime: 90%
Magnetic Field Uniformity: Lepsze niż ± 1%@φ1 mm

Podstawowe właściwości

Nazwa marki: Truth Instruments
Numer modelu: Wafer-Moke

Nieruchomości handlowe

Cena £: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Warunki płatności: T/t
Opis produktu

Skaner płytek MOKE do map histerezy i jednorodności magnetycznej

Opis produktu:

Przedstawiamy instrument do pomiaru pętli histerezy na poziomie płytki, najnowocześniejsze narzędzie w metrologii spintroniki, zaprojektowane w celu spełnienia wymagających wymagań zaawansowanych badań i rozwoju w tej dziedzinie. Ten innowacyjny produkt oferuje niezrównane możliwości precyzyjnego i wydajnego pomiaru właściwości magnetycznych na poziomie płytki.

Jedną z kluczowych cech tego najnowocześniejszego magnetometru do płytek jest jego wyjątkowa powtarzalność próbek, charakteryzująca się wydajnością lepszą niż 10 μm. Ten wysoki poziom powtarzalności zapewnia dokładność i spójność wyników pomiarów, pozwalając naukowcom polegać na uzyskanych danych z pewnością.

Ponadto magnetometr do płytek jest wyposażony w zaawansowaną technologię, która zapewnia jednorodność pola magnetycznego lepszą niż ±1% przy Φ1 mm. Ta wyjątkowa jednorodność w całym polu magnetycznym zapewnia, że pomiary nie są zakłócane przez zmiany natężenia pola, co prowadzi do bardziej wiarygodnej i dokładnej analizy danych.

Jeśli chodzi o wydajność testowania, instrument do pomiaru pętli histerezy na poziomie płytki wyróżnia się przepustowością 12 WPH przy ±1,3 T, co pozwala na szybką i wydajną charakterystykę właściwości magnetycznych. Dzięki możliwości jednoczesnego pomiaru 9 miejsc na płytce o średnicy 200 mm, instrument ten umożliwia naukowcom usprawnienie przepływu pracy i zwiększenie produktywności.

Naukowcy docenią również elastyczność oferowaną przez magnetometr do płytek pod względem kompatybilności z rozmiarem próbek. Instrument ten jest przeznaczony do pracy z płytkami o średnicy do 12 cali i obsługuje testowanie fragmentów, co czyni go wszechstronnym i dostosowanym do szerokiego zakresu typów i rozmiarów próbek.

Kolejną wyróżniającą cechą instrumentu do pomiaru pętli histerezy na poziomie płytki jest imponująca rozdzielczość kąta Kerra wynosząca 0,3 Mdeg (RMS). Ta wysoka rozdzielczość pozwala na szczegółowy i dokładny pomiar właściwości magnetycznych, umożliwiając naukowcom uzyskanie cennych informacji o zachowaniu materiałów w nanoskali.

Podsumowując, instrument do pomiaru pętli histerezy na poziomie płytki to potężne narzędzie, które oferuje niezrównane możliwości precyzyjnego i wydajnego pomiaru właściwości magnetycznych na poziomie płytki. Dzięki zaawansowanym funkcjom, doskonałej wydajności i wszechstronności, instrument ten jest niezbędny dla naukowców pracujących w dziedzinie metrologii spintroniki.

 

Cechy:

  • Nazwa produktu: Instrument do pomiaru pętli histerezy na poziomie płytki
  • Rozmiar próbki: Kompatybilny z 12-calowymi i mniejszymi, obsługuje testowanie fragmentów
  • Jednorodność pola magnetycznego: Lepsza niż ±1%@Φ1 mm
  • Powtarzalność próbki: Lepsza niż 10 μm
  • Pole magnetyczne: Pionowe ±2,4 T; W płaszczyźnie ±1,3 T
  • Czas sprawności: 90%
 

Parametry techniczne:

Wydajność testowania 12 WPH@±1,3 T / 9 pomiarów miejsc / płytka 200 mm
Rozmiar próbki Kompatybilny z 12-calowymi i mniejszymi, obsługuje testowanie fragmentów
Rozdzielczość kąta Kerra 0,3 Mdeg (RMS)
Rozdzielczość pola magnetycznego Regulacja sprzężenia zwrotnego w pętli zamkniętej PID, 0,01 MT
Powtarzalność próbki Lepsza niż 10 μm
EFEM Opcjonalny
Czas sprawności 90%
Pole magnetyczne Pionowe ±2,4 T; W płaszczyźnie ±1,3 T
Jednorodność pola magnetycznego Lepsza niż ±1%@Φ1 mm
Funkcje testowania Nieniszczący pomiar pętli histerezy stosów/urządzeń magnetycznych, automatyczne wyodrębnianie informacji o pętli histerezy (warstwa swobodna i warstwa przypięta Hc, Hex, M (wartość kąta Kerra) oraz szybkie mapowanie rozkładu charakterystyki magnetycznej płytki
 

Zastosowania:

Truth Instruments przedstawia Wafer-MOKE, najnowocześniejszy instrument do pomiaru pętli histerezy na poziomie płytki, zaprojektowany do precyzyjnej i wydajnej inspekcji magnetycznych płytek cienkowarstwowych. Pochodzący z Chin, ten innowacyjny produkt oferuje doskonałą wydajność i dokładność w pomiarze właściwości magnetycznych na płytkach.

Wafer-MOKE firmy Truth Instruments charakteryzuje się wyjątkową jednorodnością pola magnetycznego, przekraczającą ±1% przy Φ1 mm, zapewniając wiarygodne i spójne wyniki. Jego rozdzielczość pola magnetycznego jest najwyższej klasy dzięki regulacji sprzężenia zwrotnego w pętli zamkniętej PID, osiągając imponujące 0,01 MT dla precyzyjnych pomiarów.

Jeśli chodzi o wydajność testowania, Wafer-MOKE wyróżnia się prędkością testowania 12 płytek na godzinę przy ±1,3 T i pomiarem 9 miejsc na płytce o średnicy 200 mm. Ta wysoka przepustowość sprawia, że ​​jest idealny do środowisk produkcyjnych o dużej objętości wymagających szybkich i dokładnych pomiarów.

Dla dodatkowej elastyczności, Wafer-MOKE oferuje opcjonalną funkcję EFEM, pozwalającą użytkownikom dostosować konfigurację w oparciu o specyficzne wymagania. Ta adaptacja zapewnia bezproblemową integrację z różnymi procesami inspekcji płytek, zwiększając ogólną produktywność.

Ponadto powtarzalność próbek Wafer-MOKE jest wyjątkowa, przekraczając 10 μm, co gwarantuje spójne i wiarygodne wyniki w wielu testach. Ta niezawodność ma kluczowe znaczenie dla zapewnienia kontroli jakości i spełnienia rygorystycznych standardów branżowych.

Podsumowując, Truth Instruments Wafer-MOKE to najlepsze rozwiązanie dla skanerów płytek MOKE i zastosowań inspekcji magnetycznych płytek cienkowarstwowych. Jego zaawansowane funkcje, precyzja i wydajność sprawiają, że jest to niezbędne narzędzie dla branż wymagających dokładnych i szybkich pomiarów pętli histerezy na poziomie płytek.

Wyślij zapytanie

Szybki cytat