
MOKE Wafer Scanner EFEM Sistema de Medição de Bolacha Para Mapas de Histerese e Uniformidade Magnética
Scanner de Wafer MOKE
,Sistema de Medição de Bolacha EFEM
,Scanner de Bolacha EFEM
Propriedades básicas
Propriedades comerciais
MOKE Wafer Scanner para Histerese e mapas de uniformidade magnética
Descrição do produto:
Introduzindo o instrumento de medição de circuito de histerese de nível de wafer,uma ferramenta de ponta em Metrologia Spintronics concebida para satisfazer os exigentes requisitos da investigação e desenvolvimento avançados no campoEste produto inovador oferece capacidades incomparáveis para a medição precisa e eficiente das propriedades magnéticas a nível da bolacha.
Uma das principais características deste magnetômetro de wafer de última geração é a sua excepcional repetibilidade de amostras, com um nível de desempenho superior a 10 μm.Este elevado nível de repetibilidade garante a precisão e a consistência dos resultados das medições, permitindo que os investigadores confiem nos dados obtidos com confiança.
Além disso, o magnetômetro de wafer é equipado com tecnologia avançada que garante a uniformidade do campo magnético de melhor que ± 1% a Φ1 mm.Esta uniformidade excepcional em todo o campo magnético garante que as medições não sejam afetadas por variações na intensidade do campo, conduzindo a uma análise de dados mais fiável e precisa.
Quando se trata de eficiência de ensaio, o instrumento de medição de circuito de histerese a nível de wafer se destaca com um débito de 12 WPH a ± 1,3 T,permitindo uma caracterização rápida e eficiente das propriedades magnéticasCom a capacidade de medir 9 locais numa wafer de 200 mm simultaneamente, este instrumento permite aos investigadores simplificar o seu fluxo de trabalho e aumentar a produtividade.
Os investigadores também apreciarão a flexibilidade oferecida pelo magnetómetro de wafer em termos de compatibilidade do tamanho da amostra.Este instrumento é projetado para trabalhar com wafers de até 12 polegadas de tamanho e suporta testes de fragmentos, tornando-o versátil e adaptável a uma ampla gama de tipos e tamanhos de amostras.
Outra característica notável do instrumento de medição de circuito de histerese de nível de wafer é a sua impressionante resolução de ângulo de Kerr de 0,3 Mdeg (RMS).Esta alta resolução permite a medição detalhada e precisa das propriedades magnéticas, permitindo que os pesquisadores obtenham insights valiosos sobre o comportamento dos materiais na nanoescala.
Em conclusão,O Instrumento de Medição do Loop de Histerese de Nível de Wafer é uma ferramenta poderosa que oferece capacidades inigualáveis para medição precisa e eficiente de propriedades magnéticas no nível da waferCom as suas características avançadas, o seu desempenho superior e a sua versatilidade, este instrumento é indispensável para os investigadores que trabalham no campo da Metrologia Spintronics.
Características:
- Nome do produto: Instrumento de medição de circuito de histerese a nível de wafer
- Tamanho da amostra: compatível com 12 polegadas e abaixo, suporta teste de fragmentos
- Uniformidade do campo magnético: Melhor que ± 1%@Φ1 mm
- Repetitividade da amostra: Melhor que 10 μm
- Campo magnético: vertical ± 2,4 T; no plano ± 1,3 T
- Tempo de funcionamento: 90%
Parâmetros técnicos:
Teste de eficácia | 12 WPH@±1.3 T /9 Medição dos locais/200 mm Wafer |
Tamanho da amostra | Compatível com 12 polegadas e abaixo, suporta teste de fragmentos |
Resolução do ângulo de Kerr | 0.3 Mdeg (RMS) |
Resolução do campo magnético | PID Regulamento de feedback em circuito fechado, 0,01 MT |
Repetibilidade da amostra | Melhor do que 10 μm |
EFEM | Opcional |
Tempo de funcionamento | 90% |
Campo magnético | Vertical ± 2,4 T; In-plane ± 1,3 T |
Uniformidade do campo magnético | Melhor do que ±1%@Φ1 mm |
Funções de ensaio | Medição não destrutiva do ciclo de histereína de pilhas/dispositivos magnéticos, extração automática da informação do ciclo de histereína (camada livre e camada afilada Hc, Hex, M (valor do ângulo de Kerr)),E mapeamento rápido da distribuição das características magnéticas da wafer |
Aplicações:
A Truth Instruments apresenta o Wafer-MOKE, um instrumento de medição de ciclo de histerese de nível de wafer de ponta projetado para inspeção de wafer magnético de filme fino precisa e eficiente.Originário da CHINA, este produto inovador oferece um desempenho superior e precisão na medição de propriedades magnéticas em wafers.
O Wafer-MOKE da Truth Instruments possui excepcional uniformidade do campo magnético, superando ± 1% em Φ1 mm, garantindo resultados confiáveis e consistentes.A sua resolução de campo magnético é de primeira linha com regulação de feedback de circuito fechado PID, alcançando um impressionante 0,01 MT para medições precisas.
Quando se trata de eficiência de teste, o Wafer-MOKE se destaca com uma velocidade de teste de 12 wafers por hora a ± 1,3 T e 9 locais de medição em uma wafer de 200 mm.Esta capacidade de alta produtividade torna-o ideal para ambientes de produção de alto volume que exigem medições rápidas e precisas.
Para maior flexibilidade, o Wafer-MOKE oferece um recurso EFEM opcional, permitindo que os usuários personalizem sua configuração com base em requisitos específicos.Esta adaptabilidade garante a integração perfeita em vários processos de inspeção de wafer, aumentando a produtividade global.
Além disso, a repetibilidade da amostra do Wafer-MOKE é excepcional, ultrapassando 10 μm, garantindo resultados consistentes e fiáveis em vários testes.Esta fiabilidade é crucial para assegurar o controlo da qualidade e cumprir normas industriais rigorosas.
Em conclusão, o Wafer-MOKE da Truth Instruments é a solução definitiva para scanners de wafer MOKE e aplicações de inspecção de wafer magnético de filme fino.e eficiência tornam-no um instrumento indispensável para as indústrias que exigem medições precisas e rápidas do circuito de histerese no nível da wafer.