English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
ไทย
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Mikroskop gaya atom
All-in-One Platform Deteksi Custom Module & Multi-Force Microscopy Untuk Ilmu Bahan
Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah platform karakterisasi skala nano mutakhir yang dirancang untuk memberikan presisi dan keserbagunaan yang tak tertandingi dalam analisis permukaan. Dengan kapasitas ukuran sampel hingga 25 mm, instrumen ini sangat ideal untuk menyelidiki berbagai ...
AFM untuk Analisis Permukaan yang Tepat dan Pencitraan Skala Nanometer dalam Penelitian Ilmiah dan Aplikasi Industri
Mikroskop Gaya Atom Multi-Fungsional - AtomEdge Pro Pengantar Produk Mikroskop gaya atom multi-fungsional AtomEdge Pro dapat melakukan pencitraan pemindaian tiga dimensi pada bahan, perangkat elektronik, sampel biologis, dll. Ia memiliki beberapa mode kerja seperti kontak, tap, dan non-kontak, ...
