4 K loop tertutup stasiun probe semikonduktor stasiun probe wafer vakum untuk pengujian wafer 2 inci

Deskripsi produk:

Stasiun Probe Kriogenik adalah alat penting bagi peneliti dan ilmuwan yang bekerja di bidang pengukuran suhu rendah.Peralatan canggih ini dirancang untuk memberikan kontrol yang tepat atas lingkungan termal selama percobaan, memastikan hasil yang akurat dan dapat diandalkan.Stasiun Probe Kriogenik sangat ideal untuk berbagai aplikasi dalam penelitian dan pengembangan.

Salah satu fitur utama Stasiun Probe Kriogenik adalah teknologi Thermal Anchor, yang memungkinkan lengan probe dan tahap sampel untuk mempertahankan perbedaan suhu kurang dari 10 K.Hal ini memastikan bahwa suhu sampel tetap stabil dan konsisten sepanjang eksperimen, mengurangi risiko fluktuasi termal dan memastikan akurasi pengukuran.

Atribut penting lainnya dari Stasiun Probe Kriogenik adalah sistem vakum suhu rendah, dengan tingkat vakum kurang dari 1.2E-3Pa.Tingkat vakum yang tinggi ini menciptakan lingkungan yang ideal untuk melakukan eksperimen pada suhu rendah, meminimalkan kehadiran kontaminan dan memastikan integritas sampel yang diuji.

Stasiun Probe Kriogenik memiliki lengan probe dengan kemampuan stroke X-Y-Z masing-masing 50 mm, 25 mm, dan 25 mm. Hal ini memungkinkan posisi yang tepat dari probe relatif terhadap sampel,memungkinkan para peneliti untuk melakukan pengukuran dengan akurasi tinggi dan repeatability.

Konfigurasi standar dari Cryogenic Probe Station dilengkapi dengan empat lengan probe, memberikan fleksibilitas untuk berbagai pengaturan eksperimental.Sistem ini mendukung hingga delapan lengan probe, memungkinkan peneliti untuk melakukan beberapa pengukuran secara bersamaan dan meningkatkan produktivitas.

Ruang sampel Stasiun Probe Kriogenik dirancang untuk menampung pemegang sampel dengan diameter hingga 51 mm, menyediakan ruang yang cukup untuk pemasangan berbagai jenis sampel.Versatilitas ini membuat Cryogenic Probe Station cocok untuk berbagai aplikasi penelitian, termasuk pengujian perangkat semikonduktor, karakterisasi bahan, dan penelitian komputasi kuantum.

Singkatnya, Stasiun Probe Kriogenik adalah alat serbaguna dan dapat diandalkan untuk melakukan pengukuran suhu rendah di lingkungan yang terkontrol.Dengan fitur-fitur canggih seperti teknologi Thermal Anchor, sistem vakum suhu rendah, dan konfigurasi probe multi-arm,Stasiun Uji Cryogenic ini menawarkan para peneliti fleksibilitas dan presisi yang diperlukan untuk mencapai hasil yang akurat dan dapat direproduksi dalam percobaan mereka.

Apakah Anda bekerja di bidang fisika semikonduktor, nanoteknologi, atau ilmu informasi kuantum, Cryogenic Probe Station adalah solusi yang ideal untuk kebutuhan pengujian suhu rendah Anda.Pengalaman manfaat operasi bebas kriogen dan kemampuan pengukuran canggih dengan Cryogenic Probe Station.

Fitur:

• Nama Produk: Stasiun Probe Kriogenik
• Stroke Probe Arm: X-Y-Z, 50 mm-25 mm-25 mm
• Ruang sampel: Diameter pemegang sampel hingga 51 mm
• Suhu sampel: 4 K-420 K
• Getaran: Getaran tahap sampel < 1 μm (pin-to-peak)
• Anchor termal: lengan probe dan perbedaan suhu tahap sampel < 10 K

Parameter teknis:

Aplikasi:

Kesempatan dan Skenario Aplikasi Produk untuk Stasiun Probe Kriogenik PS-Cryo oleh Truth Instruments:

1Tes IV-V:Stasiun probe PS-Cryo sangat ideal untuk melakukan pengujian IV pada suhu kriogenik karena stabilitas suhu <± 20 mK (4 K-420 K).Peneliti dan insinyur dapat mengukur secara akurat karakteristik tegangan arus pada perangkat semikonduktor, superkonduktor, dan bahan lain dalam kondisi suhu rendah yang terkontrol.

2. Karakterisasi perangkat kriogenik:PS-Cryo dirancang untuk karakteristik yang tepat dari perangkat kriogenik seperti titik kuantum, sumur kuantum, dan nanowires.,peneliti dapat mempelajari sifat listrik dan optik dari perangkat ini pada suhu rendah dengan stabilitas tinggi.

3Penelitian hemat biaya:Berasal dari Cina, PS-Cryo menawarkan peneliti solusi yang hemat biaya untuk melakukan eksperimen kriogenik.2E-3Pa memastikan lingkungan yang bersih dan stabil untuk pengukuran sensitif, sementara getaran tahap sampel < 1 μm (pin-to-peak) meminimalkan gangguan selama pengujian.

4. rentang kebutuhan yang luas:Peneliti dapat memposisikan sampel mereka dengan tepat dalam area diameter 25 mm, memungkinkan konfigurasi pengujian yang fleksibel dan mengakomodasi berbagai jenis dan ukuran sampel.Fitur ini meningkatkan fleksibilitas stasiun probe untuk kebutuhan penelitian yang berbeda.