Атомный силовый микроскоп

Наноразмерное 3D изображение для полупроводников и исследования передовых материалов

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый и универсальный инструмент, предназначенный для обеспечения точной характеристики поверхности с помощью нескольких режимов работы.Этот многофункциональный микроскоп включает в себя ряд методов, включая электростатическую микроскопию ...

Малошумная Z-ось для высокоточной характеризации наноматериалов

Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современная универсальная система АСМ, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности при наноразмерном изображении и измерениях. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот АСМ обеспечивает всесторонни...

Режимы MFM/KPFM для высокоточной характеристики материалов на наномасштабе

Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современный сканирующий силовой микроскоп, разработанный для обеспечения непревзойденных возможностей получения изображений и измерений в наномасштабе. Благодаря усовершенствованному трехкоординатному методу сканирования образца по осям XYZ, эт...

0.1 Гц - 30 Гц Атомно-силовой микроскоп 0.04 Нм Высокоточный микроскоп с несколькими режимами

Усовершенствованный АСМ с несколькими режимами для наноразмерной характеризации Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп - это современный прибор, предназначенный для высокоточной анализа поверхности и наноразмерной характеризации. С уровнем шума в направлении Z 0,04 нм, этот микроскоп обеспечива...

Наноразмерная потенциальная атомно-силовая микроскопия Регулируемые промышленные микроскопы Высокое разрешение

Наноразмерный потенциал с атомно-силовым микроскопом для получения изображений высокого разрешения Описание продукта: Одной из ключевых особенностей АСМ является впечатляющий диапазон сканирования, составляющий 100 мкм X 100 мкм X 10 мкм. Этот широкий диапазон позволяет детально отображать и анализи...

Высокоустойчивый микроскоп AFM 0,1 - 30 Гц Системы AFM для биологии материалов и электронной визуализации

Высокая стабильность AFM для биологии материалов и электронной визуализации Описание продукта: Микроскоп атомной силы - это передовой научный инструмент, который предлагает изображения высокого разрешения и точные измерения для широкого спектра применений в нанотехнологии, материаловедении,и биологи...

Высокоустойчивый AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 разрешение 3D сканирование + EFM/KPFM/PFM

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой инструмент, предназначенный для высокоточного анализа поверхности и наноразмерных электрических измерений.Известный своей универсальностью и передовыми функциями, этот AFM предлагает полный набор функций, которые делают его незаменимым и...

Гибкое 3D сканирование для электроники, биоматериалов и исследований точности

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это современный инструмент, предназначенный для обеспечения непревзойденной точности и универсальности в картографировании свойств поверхности в наномасштабе.Проектировано для удовлетворения требований передовых исследований и промышленных приложений, ...

Многофункциональное измерение (MFM/EFM) для целевых научных исследований

Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это высокоразвитый инструмент, предназначенный для многофункциональных измерений, предлагающий непревзойденную универсальность и точность в наноразмере изображения и анализа.Эта современная AFM интегрирует различные режимы измерения, включая электрост...

« ‹ 1 2 3 4 5 › »