原子力顕微鏡

半導体と先進材料の研究のためのナノスケール3D画像

製品説明:原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,複数の操作モードを通じて正確な表面特性を示すために設計された高度な高度な多用途機器です.この多機能顕微鏡は,静電力顕微鏡 (EFM) を含む様々な技術を統合しています磁気力顕微鏡 (MFM) を用いる.さらに,磁気力顕微鏡 (MFM) を用いる.誘導性原子力顕微鏡 (C-AFM) モードがオプションです電気性能測定の能力を拡張できるようにする.これらのモードの組み合わせにより,AFMは材料科学の研究者や技術者にとって不可欠なツールになりますナノテクノロジーと半導体産業このAFMの特徴の一つは,横方向...

高精度ナノスケール材料特性評価用低ノイズZ軸

製品説明: 原子間力顕微鏡 (AFM) は、ナノスケールでのイメージングと測定に比類のない精度と汎用性を提供するように設計された、高度なオールインワンAFMシステムです。XYZ 3軸フルサンプルスキャン方式を採用し、このAFMは、3つの空間次元すべてでサンプル全体を自由に移動できるため、包括的かつ正確な表面分析を可能にします。この機能により、高解像度イメージングと複雑なサンプルのトポグラフィーの詳細な特性評価が可能になり、ナノテクノロジー、材料科学、半導体産業の研究者やエンジニアにとって不可欠なツールとなっています。このAFMの際立った特徴の1つは、その多機能測定能力です。静電フォース顕微鏡 ...

高精度ナノスケール材料の特徴付けのためのMFM/KPFMモード

製品説明:原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,ナノスケールで比類のない画像と測定能力を提供するために設計された最先端のスキャン力顕微鏡です.XYZ3軸全サンプルスキャン方法でこのAFMは,サンプル表面の精密かつ包括的な検査を可能にし,ナノスケール研究および産業用アプリケーションで高い精度と繰り返し性を保証します.全サンプルスキャン能力により,顕微鏡はサンプル全域をスキャンできます詳細で完全な表面プロフィールを提供します. この原子力顕微鏡の特徴の一つは直径25ミリメートルまでのサンプルとの互換性ですこの寛大なサンプルサイズ収容は,幅広い科学的調査と材...

0.1 Hz - 30 Hz 原子力顕微鏡 0.04 nm 高精度顕微鏡多モード対応

ナノスケール特性評価のためのマルチモード対応高度AFM 製品説明：原子間力顕微鏡は、高精度な表面分析とナノスケール特性評価のために設計された最先端の機器です。Z方向のノイズレベルが0.04 nmであるため、この顕微鏡は表面の詳細を捉える際に優れた感度と精度を提供します。この製品の重要な特徴の1つは、25 mmの十分なサンプルサイズ容量であり、さまざまな寸法の幅広いサンプルを検査できます。これにより、多様な分野で研究者や科学者にとって多用途なツールとなります。 XYZ三軸フルサンプルスキャン方式を搭載した原子間力顕微鏡は、スキャンパスを正確に制御しながら、包括的な表面特性マッピングを可能にし...

ナノスケール潜在的な原子力顕微鏡調整可能な工業顕微鏡高解像度

高分解能イメージングのための原子間力顕微鏡によるナノスケールポテンシャル製品説明: AFMの重要な特徴の1つは、100 μm X 100 μm X 10 μmという印象的な走査範囲です。この広い範囲により、小さなナノ粒子から大きな構造物まで、さまざまなサンプルの詳細なイメージングと分析が可能になります。 0.1Hzから30Hzの走査速度により、AFMは動的プロセスの捕捉と迅速な結果の取得に柔軟性を提供します。研究者は、サンプルの性質と分析に必要な詳細度に基づいて走査速度を調整できます。 AFMは最大25 mmのサンプルサイズに対応でき、研究者が幅広い材料と構造を研究するための十分なスペースを...

高安定性AFM顕微鏡 0.1 Hz - 30 Hz AFMシステム材料生物学および電子イメージング用

高安定性AFM 材料生物学と電子画像製品説明: 原子力顕微鏡は最先端の科学機器で高解像度画像と正確な測定をナノテクノロジー材料科学生物研究この先進的な顕微鏡は XYZ 三軸フルサンプルのスキャン方法を利用し,例外的な精度でサンプルを詳細に分析することができます. 原子力顕微鏡の重要な特徴の1つは,最大25mmのサンプルを収納できる能力であり,様々な研究ニーズに柔軟性と多用途性を提供します.小さいナノ材料や大きな生物学的サンプルを調べているかどうかこの顕微鏡は幅広いサンプルサイズを簡単に処理できます精度に関しては,原子力顕微鏡はXY方向で0.4nmの低騒音レベルで優れた性能を提...

高安定性 AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 解像度 3D スキャン + EFM/KPFM/PFM

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は高精度な表面分析とナノスケールでの電気測定のために設計された最先端の機器です汎用性と高度な機能で知られていますこのAFMは,研究と産業の両方のアプリケーションで不可欠なツールとなるような,包括的な機能を提供しています.ユーザは,幅広いサンプルタイプと実験要件に合わせてイメージング速度を調整できます.データの質と効率を最適にするこの原子力顕微鏡の特徴の一つはわずか0.04nmで測定された Z方向での異常な低騒音レベルですこの超低騒音床は,非常に敏感な表面プロファイリングと地形画像を可能にしますナノスケールでの細部を著しい明確さで捉える.このような...

エレクトロニクス,バイオマテリアル,精密研究アプリケーションのための柔軟な3Dスキャン

製品説明: 原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノスケールでの表面特性マッピングにおいて、比類のない精度と多様性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な研究および産業用途の厳しい要件を満たすように設計されており、このAFMは、半導体、磁性材料、およびその他のさまざまな表面を扱う科学者やエンジニアにとって不可欠なツールとなる包括的な機能セットを提供します。この原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、0.1～30 Hzの範囲の印象的な走査速度です。この幅広い走査速度スペクトルにより、ユーザーはサンプルと実験の特定のニーズに応じて、走査の速度と解像度を調整できます。詳細な高解像度表面分析が必要な...

ターゲットを絞った科学研究のための多機能測定（MFM/EFM）

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は多機能測定用に設計された高度な高度な機器で,ナノスケール画像と分析において類を見ない多用性と精度を提供します.この最先端のAFMは,様々な測定モードを統合電気静止力顕微鏡 (EFM),ケルビン探査力顕微鏡 (KPFM),ピエゾ電気力顕微鏡 (PFM),磁力力顕微鏡 (MFM),力曲線分析を含む.ナノテクノロジーと材料科学の最前線で働く研究者や技術者にとって不可欠なツールになります. このAFMの特徴の一つは 100μm*100μm*10μmの例外的なスキャン範囲です表面の地形や特性を高精度で広範囲にわたって調査できるこの広範なスキャン機能により,解像度...

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