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0.1 Hz - 30 Hz 原子力顕微鏡 0.04 Nm 高精度顕微鏡 多モード対応

Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 Nm, this microscope offers exceptional sensitivity and accuracy in capturing surface details. One of the key features of this product is its generous sample size capacity of 25 mm, allowing for the examination of a
製品詳細
ハイライト:

0.1 Hz 原子力顕微鏡

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30 Hz 原子力顕微鏡

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0.04 Nm 高精度顕微鏡

Name: 原子力顕微鏡
Scanning Rate: 0.1〜30 Hz
Sample Size: 25 mm
Noise Level In The XY Direction: 0.4 nm
Scanning Method: XYZ 3軸フルサンプルスキャン
Nonlinearity: XY方向に0.02%、Z方向に0.08%
Scanning Range: 100μmx100μmx10μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 nm

基本的な特性

ブランド名: Truth Instruments
モデル番号: Atomedge Pro

取引物件

価格: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
支払条件: T/T
製品の説明

ナノスケール特性評価のためのマルチモード対応高度AFM

製品説明:

原子間力顕微鏡は、高精度な表面分析とナノスケール特性評価のために設計された最先端の機器です。Z方向のノイズレベルが0.04 Nmであるため、この顕微鏡は表面の詳細を捉える際に優れた感度と精度を提供します。

この製品の重要な特徴の1つは、25 mmの十分なサンプルサイズ容量であり、さまざまな寸法の幅広いサンプルを検査できます。これにより、多様な分野で研究者や科学者にとって多用途なツールとなります。

XYZ三軸フルサンプルスキャン方式を搭載した原子間力顕微鏡は、スキャンパスを正確に制御しながら、包括的な表面特性マッピングを可能にします。この高度なスキャン方式により、サンプルの徹底的かつ詳細な分析が保証され、その特性に関する貴重な洞察が得られます。

原子間力顕微鏡のスキャン範囲は100 μm x 100 μm x 10 μmであり、サンプル表面の最も小さな特徴でさえ詳細に検査できます。この広いスキャン範囲により、研究者は高解像度で微細な詳細と複雑な構造を捉えることができます。

0.1〜30 Hzのスキャン速度で動作するこの顕微鏡は、さまざまな速度で表面データを取得する柔軟性を提供します。迅速な概要が必要な場合でも、詳細な分析が必要な場合でも、原子間力顕微鏡は特定の要件に合わせてさまざまなスキャン速度に対応できます。

要約すると、原子間力顕微鏡は表面分析とナノスケール特性評価のための強力なツールであり、研究者に表面特性を研究し、詳細な表面マッピングを実施するための洗練されたプラットフォームを提供します。高い感度、十分なサンプルサイズ容量、高度なスキャン方式、広いスキャン範囲、および柔軟なスキャン速度を備えたこの顕微鏡は、ナノスケール構造と表面の特徴の複雑な世界を掘り下げようとする研究者にとって貴重な資産です。

 

特徴:

  • 製品名:原子間力顕微鏡
  • XY方向のノイズレベル:0.4 Nm
  • サンプルサイズ:25 mm
  • スキャン方式:XYZ三軸フルサンプルスキャン
  • 非線形性:XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
  • スキャン範囲:100 μm X100 μm x 10 μm
 

技術的パラメータ:

非線形性 XY方向で0.02%、Z方向で0.08%
サンプルサイズ 25 mm
Z方向のノイズレベル 0.04 Nm
XY方向のノイズレベル 0.4 Nm
スキャン範囲 100 μm X100 μmx 10 μm
スキャン方式 XYZ三軸フルサンプルスキャン
スキャン速度 0.1〜30 Hz
 

アプリケーション:

Truth Instrumentsの原子間力顕微鏡、モデルAtomEdge Proは、中国発で、さまざまな科学および産業用途における正確な表面特性マッピングのために設計された最先端の機器です。

0.1〜30 Hzのスキャン速度を備えたAtomEdge Pro AFMは、優れた精度で詳細な表面トポグラフィーと機械的特性を捉えることができます。Z方向のノイズレベルは0.04 Nmと低く、高品質の画像結果を保証します。

AtomEdge Proが採用しているスキャン方式はXYZ三軸フルサンプルスキャンであり、最大100 μm x 100 μm x 10 μmの寸法のサンプルを包括的にスキャンできます。この多用途なスキャン機能により、幅広い研究開発シナリオに最適です。

XY方向でわずか0.02%、Z方向で0.08%の非線形性を特徴とするAtomEdge Proは、さまざまな表面分析タスクに対して信頼性の高い正確な測定を提供します。

AtomEdge Pro原子間力顕微鏡は、ナノテクノロジー研究、材料科学研究、生物学的サンプル特性評価など、詳細な表面イメージングと分析を必要とするアプリケーションに特に適しています。その高解像度イメージング機能は、正確な表面特性マッピングを必要とする分野で働く研究者や科学者にとって不可欠なツールです。

学術研究室、産業研究施設、または品質管理部門で使用されるかどうかにかかわらず、AtomEdge Pro AFMは、ナノスケールでの表面構造と特性を理解するための重要なデータを提供します。その高度な走査型力顕微鏡技術は、幅広い科学的調査に対して比類のない精度と感度を提供します。

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