logo

0. 1 হার্জ - 30 হার্জ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ 0.04 এনএম মাল্টিপল মোড সহ উচ্চ নির্ভুলতা মাইক্রোস্কোপ

Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 Nm, this microscope offers exceptional sensitivity and accuracy in capturing surface details. One of the key features of this product is its generous sample size capacity of 25 mm, allowing for the examination of a
পণ্যের বিবরণ
বিশেষভাবে তুলে ধরা:

0.১ হার্জ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ

,

৩০ হার্জ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ

,

0.০৪ এনএম উচ্চ নির্ভুলতা মাইক্রোস্কোপ

Name: পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ
Scanning Rate: 0.1-30 হার্জেড
Sample Size: 25 মিমি
Noise Level In The XY Direction: 0.4 এনএম
Scanning Method: এক্সওয়াইজেড থ্রি-এক্সিস সম্পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং
Nonlinearity: এক্সওয়াই দিকের 0.02% এবং জেড দিকের 0.08%
Scanning Range: 100 μM x100 μmx 10 μm
Noise Level In The Z Direction: 0.04 এনএম

মৌলিক বৈশিষ্ট্য

ব্র্যান্ড নাম: Truth Instruments
মডেল নম্বর: Atomage প্রো

বাণিজ্যিক সম্পত্তি

দাম: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
অর্থ প্রদানের শর্তাবলী: টি/টি
পণ্যের বর্ণনা

ন্যানোস্কেল বৈশিষ্ট্য বিশ্লেষণের জন্য একাধিক মোড সহ উন্নত এএফএম

পণ্যের বর্ণনা:

পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ হল একটি অত্যাধুনিক যন্ত্র যা উচ্চ-নির্ভুল পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ এবং ন্যানোস্কেল বৈশিষ্ট্যের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে। 0.04 Nm-এর Z দিকের নয়েজ লেভেল সহ, এই মাইক্রোস্কোপ পৃষ্ঠের বিস্তারিত তথ্য ক্যাপচার করার ক্ষেত্রে ব্যতিক্রমী সংবেদনশীলতা এবং নির্ভুলতা প্রদান করে।

এই পণ্যের মূল বৈশিষ্ট্যগুলির মধ্যে একটি হল এর 25 মিমি-এর বৃহৎ নমুনা আকারের ক্ষমতা, যা বিভিন্ন আকারের বিস্তৃত নমুনা পরীক্ষার অনুমতি দেয়। এটি বিভিন্ন ক্ষেত্রে কাজ করা গবেষক এবং বিজ্ঞানীদের জন্য একটি বহুমুখী সরঞ্জাম তৈরি করে।

XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল স্যাম্পেল স্ক্যানিং পদ্ধতি দিয়ে সজ্জিত, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ স্ক্যানিং পথের উপর সুনির্দিষ্ট নিয়ন্ত্রণের মাধ্যমে ব্যাপক পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য ম্যাপিং সক্ষম করে। এই উন্নত স্ক্যানিং পদ্ধতি নমুনার পুঙ্খানুপুঙ্খ এবং বিস্তারিত বিশ্লেষণ নিশ্চিত করে, যা এর বৈশিষ্ট্যগুলির মূল্যবান অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করে।

পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপের স্ক্যানিং পরিসীমা 100 μm x 100 μm x 10 μm পর্যন্ত বিস্তৃত, যা নমুনার পৃষ্ঠের ক্ষুদ্রতম বৈশিষ্ট্যগুলির বিস্তারিত পরীক্ষার অনুমতি দেয়। এই বিস্তৃত স্ক্যানিং পরিসীমা গবেষকদের উচ্চ রেজোলিউশনের সাথে সূক্ষ্ম বিবরণ এবং জটিল কাঠামো ক্যাপচার করতে সক্ষম করে।

0.1-30 Hz স্ক্যানিং হারে কাজ করে, এই মাইক্রোস্কোপ বিভিন্ন গতিতে পৃষ্ঠের ডেটা ক্যাপচার করার নমনীয়তা প্রদান করে। আপনার দ্রুত ওভারভিউ বা বিস্তারিত বিশ্লেষণের প্রয়োজন হোক না কেন, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ আপনার নির্দিষ্ট প্রয়োজনীয়তা অনুসারে বিভিন্ন স্ক্যানিং হারকে মিটমাট করতে পারে।

সংক্ষেপে, পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ এবং ন্যানোস্কেল বৈশিষ্ট্যের জন্য একটি শক্তিশালী সরঞ্জাম, যা গবেষকদের পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি অধ্যয়ন এবং বিস্তারিত পৃষ্ঠ ম্যাপিং করার জন্য একটি অত্যাধুনিক প্ল্যাটফর্ম সরবরাহ করে। এর উচ্চ সংবেদনশীলতা, বৃহৎ নমুনা আকারের ক্ষমতা, উন্নত স্ক্যানিং পদ্ধতি, বিস্তৃত স্ক্যানিং পরিসীমা এবং নমনীয় স্ক্যানিং হারের সাথে, এই মাইক্রোস্কোপটি ন্যানোস্কেল কাঠামো এবং পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলির জটিল জগতে প্রবেশ করতে চাওয়া গবেষকদের জন্য একটি অমূল্য সম্পদ।

 

বৈশিষ্ট্য:

  • পণ্যের নাম: পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ
  • XY দিকের নয়েজ লেভেল: 0.4 Nm
  • নমুনা আকার: 25 মিমি
  • স্ক্যানিং পদ্ধতি: XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল স্যাম্পেল স্ক্যানিং
  • অরৈখিকতা: XY দিকে 0.02% এবং Z দিকে 0.08%
  • স্ক্যানিং পরিসীমা: 100 μm X100 μm x 10 μm
 

প্রযুক্তিগত পরামিতি:

অরৈখিকতা XY দিকে 0.02% এবং Z দিকে 0.08%
নমুনা আকার 25 মিমি
Z দিকের নয়েজ লেভেল 0.04 Nm
XY দিকের নয়েজ লেভেল 0.4 Nm
স্ক্যানিং পরিসীমা 100 μm X100 μmx 10 μm
স্ক্যানিং পদ্ধতি XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল স্যাম্পেল স্ক্যানিং
স্ক্যানিং হার 0.1-30 Hz
 

অ্যাপ্লিকেশন:

ট্রু ইন্সট্রুমেন্টস-এর পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ, মডেল AtomEdge Pro, চীন থেকে উৎপন্ন, বিভিন্ন বৈজ্ঞানিক এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে সুনির্দিষ্ট পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য ম্যাপিংয়ের জন্য ডিজাইন করা একটি অত্যাধুনিক যন্ত্র।

0.1 থেকে 30 Hz পর্যন্ত স্ক্যানিং হার সহ, AtomEdge Pro AFM ব্যতিক্রমী নির্ভুলতার সাথে বিস্তারিত পৃষ্ঠের টপোগ্রাফি এবং যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যগুলি ক্যাপচার করতে সক্ষম। Z দিকের নয়েজ লেভেল 0.04 Nm-এর মতো কম, যা উচ্চ-মানের ইমেজিং ফলাফল নিশ্চিত করে।

AtomEdge Pro দ্বারা ব্যবহৃত স্ক্যানিং পদ্ধতি হল XYZ থ্রি-অ্যাক্সিস ফুল স্যাম্পেল স্ক্যানিং, যা 100 μm x 100 μm x 10 μm পর্যন্ত আকারের নমুনাগুলির ব্যাপক স্ক্যানিংয়ের অনুমতি দেয়। এই বহুমুখী স্ক্যানিং ক্ষমতা এটিকে বিস্তৃত গবেষণা এবং উন্নয়ন পরিস্থিতিতে আদর্শ করে তোলে।

XY দিকে মাত্র 0.02% এবং Z দিকে 0.08% অরৈখিকতা বৈশিষ্ট্যযুক্ত, AtomEdge Pro বিভিন্ন পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ কাজের জন্য নির্ভরযোগ্য এবং সুনির্দিষ্ট পরিমাপ প্রদান করে।

AtomEdge Pro পারমাণবিক বল মাইক্রোস্কোপ বিশেষভাবে ন্যানোটেকনোলজি গবেষণা, উপাদান বিজ্ঞান অধ্যয়ন এবং জৈবিক নমুনা বৈশিষ্ট্যের মতো বিস্তারিত পৃষ্ঠ ইমেজিং এবং বিশ্লেষণের প্রয়োজনীয় অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য উপযুক্ত। এর উচ্চ-রেজোলিউশন ইমেজিং ক্ষমতা এটিকে গবেষক এবং বিজ্ঞানীদের জন্য একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম করে তোলে যারা নির্ভুল পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য ম্যাপিংয়ের দাবি করে এমন ক্ষেত্রে কাজ করেন।

একাডেমিক ল্যাবরেটরি, শিল্প গবেষণা সুবিধা বা গুণমান নিয়ন্ত্রণ বিভাগগুলিতে ব্যবহৃত হোক না কেন, AtomEdge Pro AFM ন্যানোস্কেলে পৃষ্ঠের কাঠামো এবং বৈশিষ্ট্যগুলি বোঝার জন্য প্রয়োজনীয় ডেটা সরবরাহ করে। এর উন্নত স্ক্যানিং ফোর্স মাইক্রোস্কোপ প্রযুক্তি বিস্তৃত বৈজ্ঞানিক অনুসন্ধানের জন্য অতুলনীয় নির্ভুলতা এবং সংবেদনশীলতা প্রদান করে।

একটি অনুসন্ধান পাঠান

একটি দ্রুত উদ্ধৃতি পান