0.1 Hz - 30 Hz Atomic Force Microscopie 0.04 Nm Hoge Precisie Microscopie met Meerdere Modi

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor een zeer nauwkeurige oppervlaktanalyse en karakterisering op nanoschaal.deze microscoop biedt uitzonderlijke gevoeligheid en nauwkeurigheid in het vastleggen van oppervlakte details.

Een van de belangrijkste kenmerken van dit product is de ruime steekproefomvang van 25 mm, waardoor een breed scala aan monsters met verschillende afmetingen kan worden onderzocht.Dit maakt het een veelzijdig hulpmiddel voor onderzoekers en wetenschappers op verschillende gebieden.

De Atomic Force Microscope is uitgerust met de XYZ-methode voor het scannen van volledige monsters met drie assen en biedt een uitgebreide mapping van oppervlakte-eigenschappen met nauwkeurige controle over het scannerpad.Deze geavanceerde scansysteem zorgt voor een grondige en gedetailleerde analyse van het monster, waardoor waardevolle inzichten worden verkregen over de kenmerken ervan.

Het scanningbereik van de Atomic Force Microscope bedraagt 100 μm x 100 μm x 10 μm, waardoor zelfs de kleinste kenmerken op het monsteroppervlak gedetailleerd kunnen worden onderzocht.Met dit brede scannerbereik kunnen onderzoekers met hoge resolutie kleine details en ingewikkelde structuren vastleggen.

Deze microscoop werkt met een scansnelheid van 0,1-30 Hz en biedt flexibiliteit bij het vastleggen van oppervlaktegegevens met verschillende snelheden.de Atomic Force Microscope kan verschillende scanning snelheden om uw specifieke vereisten aan te passen.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een krachtig hulpmiddel voor oppervlaktanalyse en nanoschaalkarakterisering.het verstrekken van een geavanceerd platform voor onderzoekers om oppervlakte-eigenschappen te bestuderen en gedetailleerde oppervlakte-kaarten te maken;Met zijn hoge gevoeligheid, genereuze steekproefgrootte, geavanceerde scansysteem, breed scanscherm en flexibele scansnelheidDeze microscoop is van onschatbare waarde voor onderzoekers die zich willen verdiepen in de ingewikkelde wereld van nanoschaalstructuren en oppervlaktefuncties.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope
• Ruisniveau in de XY-richting: 0,4 Nm
• Grootte van het monster: 25 mm
• Scanmethode: XYZ-drieassige volledige monsterscanning
• Niet-lineariteit: 0,02% in de XY richting en 0,08% in de Z richting
• Scanderafstand: 100 μm X100 μm x 10 μm

Technische parameters:

Toepassingen:

Truth Instruments Atomic Force Microscope, model AtomEdge Pro, afkomstig uit China,is een geavanceerd instrument dat is ontworpen voor nauwkeurige mapping van oppervlakte-eigenschappen in verschillende wetenschappelijke en industriële toepassingen.

Met een scansnelheid van 0,1 tot 30 Hz is de AtomEdge Pro AFM in staat om met uitzonderlijke nauwkeurigheid gedetailleerde topografie en mechanische eigenschappen van het oppervlak vast te leggen.Het geluidsniveau in de richting Z is zo laag als 0.04 Nm, waardoor beeldresultaten van hoge kwaliteit worden gewaarborgd.

De door de AtomEdge Pro gebruikte scanmethode is XYZ-drie-assige volledige steekproefscan, die een uitgebreide scanning van monsters met afmetingen tot 100 μm x 100 μm x 10 μm mogelijk maakt.Deze veelzijdige scanning maakt het ideaal voor een breed scala aan onderzoeks- en ontwikkelingsscenario's.

Met een niet-lineariteit van slechts 0,02% in de XY-richting en 0,08% in de Z-richting, levert de AtomEdge Pro betrouwbare en nauwkeurige metingen voor verschillende oppervlaktanalyse-taken.

De AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is bijzonder geschikt voor toepassingen die gedetailleerde oppervlaktebeeldvorming en -analyse vereisen, zoals nanotechnologieonderzoek, materiaalwetenschappelijke studies,en biologische steekproefkenmerkenDe hoge-resolutie beeldvorming maakt het een onmisbaar hulpmiddel voor onderzoekers en wetenschappers die werken op gebieden die een nauwkeurige kaart van oppervlakte-eigenschappen vereisen.

Of het nu wordt gebruikt in academische laboratoria, industriële onderzoeksfaciliteiten of kwaliteitscontroleafdelingen,de AtomEdge Pro AFM levert essentiële gegevens voor het begrijpen van oppervlakte-structuren en -eigenschappen op nanoschaalDe geavanceerde scanning force microscope technologie biedt ongeëvenaarde precisie en gevoeligheid voor een breed scala aan wetenschappelijke onderzoeken.