Microscopio a forza atomica 0,1 Hz - 30 Hz, microscopio di alta precisione 0,04 nm con modalità multiple

Descrizione del prodotto:

Il microscopio a forza atomica è uno strumento all'avanguardia progettato per l'analisi di superfici ad alta precisione e la caratterizzazione su scala nanometrica. Con un livello di rumore nella direzione Z di 0,04 nm, questo microscopio offre una sensibilità e una precisione eccezionali nella cattura dei dettagli della superficie.

Una delle caratteristiche principali di questo prodotto è la sua generosa capacità di dimensioni del campione di 25 mm, che consente l'esame di un'ampia gamma di campioni con dimensioni variabili. Questo lo rende uno strumento versatile per ricercatori e scienziati che lavorano in diversi campi.

Dotato del metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ, il microscopio a forza atomica consente la mappatura completa delle proprietà della superficie con un controllo preciso del percorso di scansione. Questo metodo di scansione avanzato garantisce un'analisi approfondita e dettagliata del campione, fornendo preziose informazioni sulle sue caratteristiche.

L'intervallo di scansione del microscopio a forza atomica è di 100 μm x 100 μm x 10 μm, consentendo un esame dettagliato anche delle più piccole caratteristiche sulla superficie del campione. Questo ampio intervallo di scansione consente ai ricercatori di catturare dettagli fini e strutture complesse con alta risoluzione.

Funzionando a una velocità di scansione di 0,1-30 Hz, questo microscopio offre flessibilità nella cattura dei dati di superficie a velocità variabili. Sia che tu abbia bisogno di una panoramica rapida o di un'analisi dettagliata, il microscopio a forza atomica può adattarsi a diverse velocità di scansione per soddisfare le tue esigenze specifiche.

In sintesi, il microscopio a forza atomica è un potente strumento per l'analisi delle superfici e la caratterizzazione su scala nanometrica, che fornisce ai ricercatori una piattaforma sofisticata per studiare le proprietà della superficie e condurre una mappatura dettagliata della superficie. Con la sua alta sensibilità, la generosa capacità di dimensioni del campione, il metodo di scansione avanzato, l'ampio intervallo di scansione e la velocità di scansione flessibile, questo microscopio è una risorsa inestimabile per i ricercatori che desiderano approfondire l'intricato mondo delle strutture su scala nanometrica e delle caratteristiche della superficie.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a forza atomica
• Livello di rumore nella direzione XY: 0,4 nm
• Dimensione del campione: 25 mm
• Metodo di scansione: scansione completa del campione a tre assi XYZ
• Non linearità: 0,02% nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z
• Intervallo di scansione: 100 μm X100 μm x 10 μm

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il microscopio a forza atomica di Truth Instruments, modello AtomEdge Pro, originario della Cina, è uno strumento all'avanguardia progettato per la mappatura precisa delle proprietà della superficie in una varietà di applicazioni scientifiche e industriali.

Con una velocità di scansione compresa tra 0,1 e 30 Hz, l'AtomEdge Pro AFM è in grado di catturare la topografia dettagliata della superficie e le proprietà meccaniche con eccezionale precisione. Il livello di rumore nella direzione Z è basso fino a 0,04 nm, garantendo risultati di imaging di alta qualità.

Il metodo di scansione impiegato dall'AtomEdge Pro è la scansione completa del campione a tre assi XYZ, che consente la scansione completa di campioni con dimensioni fino a 100 μm x 100 μm x 10 μm. Questa versatile capacità di scansione lo rende ideale per un'ampia gamma di scenari di ricerca e sviluppo.

Caratterizzato da una non linearità di solo 0,02% nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z, l'AtomEdge Pro offre misurazioni affidabili e precise per varie attività di analisi della superficie.

Il microscopio a forza atomica AtomEdge Pro è particolarmente adatto per applicazioni che richiedono imaging e analisi dettagliate della superficie, come la ricerca sulla nanotecnologia, gli studi sui materiali e la caratterizzazione di campioni biologici. Le sue capacità di imaging ad alta risoluzione lo rendono uno strumento indispensabile per ricercatori e scienziati che lavorano in campi che richiedono una mappatura accurata delle proprietà della superficie.

Utilizzato in laboratori accademici, strutture di ricerca industriale o dipartimenti di controllo qualità, l'AtomEdge Pro AFM fornisce dati essenziali per la comprensione delle strutture e delle proprietà della superficie su scala nanometrica. La sua avanzata tecnologia di microscopia a forza di scansione offre precisione e sensibilità senza pari per un'ampia gamma di indagini scientifiche.