0,1 Hz - 30 Hz Microscope à force atomique 0,04 Nm Microscope de haute précision avec modes multiples

Description du produit :

Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Avec un niveau de bruit dans la direction Z de 0,04 Nm, ce microscope offre une sensibilité et une précision exceptionnelles pour la capture des détails de surface.

L'une des principales caractéristiques de ce produit est sa capacité d'échantillon généreuse de 25 mm, permettant l'examen d'une large gamme d'échantillons de dimensions variables. Cela en fait un outil polyvalent pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans divers domaines.

Équipé de la méthode de balayage d'échantillon complète à trois axes XYZ, le microscope à force atomique permet une cartographie complète des propriétés de surface avec un contrôle précis du trajet de balayage. Cette méthode de balayage avancée garantit une analyse approfondie et détaillée de l'échantillon, fournissant des informations précieuses sur ses caractéristiques.

La plage de balayage du microscope à force atomique s'étend sur 100 µm x 100 µm x 10 µm, ce qui permet un examen détaillé, même des plus petites caractéristiques de la surface de l'échantillon. Cette large plage de balayage permet aux chercheurs de capturer des détails fins et des structures complexes avec une haute résolution.

Fonctionnant à une vitesse de balayage de 0,1 à 30 Hz, ce microscope offre une flexibilité dans la capture des données de surface à des vitesses variables. Que vous ayez besoin d'une vue d'ensemble rapide ou d'une analyse détaillée, le microscope à force atomique peut s'adapter à différentes vitesses de balayage pour répondre à vos besoins spécifiques.

En résumé, le microscope à force atomique est un outil puissant pour l'analyse de surface et la caractérisation à l'échelle nanométrique, offrant aux chercheurs une plateforme sophistiquée pour étudier les propriétés de surface et effectuer une cartographie détaillée de la surface. Avec sa haute sensibilité, sa capacité d'échantillon généreuse, sa méthode de balayage avancée, sa large plage de balayage et sa vitesse de balayage flexible, ce microscope est un atout inestimable pour les chercheurs qui cherchent à approfondir le monde complexe des structures et des caractéristiques de surface à l'échelle nanométrique.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique
• Niveau de bruit dans la direction XY : 0,4 Nm
• Taille de l'échantillon : 25 mm
• Méthode de balayage : Balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ
• Non-linéarité : 0,02 % dans la direction XY et 0,08 % dans la direction Z
• Plage de balayage : 100 µm X 100 µm x 10 µm

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique de Truth Instruments, modèle AtomEdge Pro, originaire de Chine, est un instrument de pointe conçu pour la cartographie précise des propriétés de surface dans une variété d'applications scientifiques et industrielles.

Avec une vitesse de balayage allant de 0,1 à 30 Hz, l'AtomEdge Pro AFM est capable de capturer la topographie de surface et les propriétés mécaniques détaillées avec une précision exceptionnelle. Le niveau de bruit dans la direction Z est aussi bas que 0,04 Nm, ce qui garantit des résultats d'imagerie de haute qualité.

La méthode de balayage employée par l'AtomEdge Pro est le balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ, permettant un balayage complet d'échantillons de dimensions allant jusqu'à 100 µm x 100 µm x 10 µm. Cette capacité de balayage polyvalente le rend idéal pour un large éventail de scénarios de recherche et de développement.

Avec une non-linéarité de seulement 0,02 % dans la direction XY et de 0,08 % dans la direction Z, l'AtomEdge Pro fournit des mesures fiables et précises pour diverses tâches d'analyse de surface.

Le microscope à force atomique AtomEdge Pro est particulièrement adapté aux applications nécessitant une imagerie et une analyse détaillées de la surface, telles que la recherche en nanotechnologie, les études en science des matériaux et la caractérisation d'échantillons biologiques. Ses capacités d'imagerie haute résolution en font un outil indispensable pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans des domaines qui exigent une cartographie précise des propriétés de surface.

Qu'il soit utilisé dans les laboratoires universitaires, les installations de recherche industrielle ou les services de contrôle qualité, l'AtomEdge Pro AFM fournit des données essentielles pour comprendre les structures et les propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Sa technologie de microscope à force à balayage avancée offre une précision et une sensibilité inégalées pour un large éventail de recherches scientifiques.