Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.1 Hz - 30 Hz, 0.04 Nm Μικροσκόπιο Υψηλής Ακρίβειας με Πολλαπλές Λειτουργίες
Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 0.1 Hz
,Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης 30 Hz
,Μικροσκόπιο Υψηλής Ακρίβειας 0.04 Nm
Βασικές ιδιότητες
Εμπορικά Ακίνητα
Προηγμένο AFM με Πολλαπλές Λειτουργίες για Χαρακτηρισμό Νανοκλίμακας
Περιγραφή Προϊόντος:
Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων (AFM) είναι ένα υπερσύγχρονο όργανο σχεδιασμένο για ανάλυση επιφανειών υψηλής ακρίβειας και χαρακτηρισμό νανοκλίμακας. Με επίπεδο θορύβου στην κατεύθυνση Z 0,04 Nm, αυτό το μικροσκόπιο προσφέρει εξαιρετική ευαισθησία και ακρίβεια στην καταγραφή λεπτομερειών επιφανειών.
Ένα από τα βασικά χαρακτηριστικά αυτού του προϊόντος είναι η γενναιόδωρη χωρητικότητα μεγέθους δείγματος των 25 mm, που επιτρέπει την εξέταση ενός ευρέος φάσματος δειγμάτων με διαφορετικές διαστάσεις. Αυτό το καθιστά ένα ευέλικτο εργαλείο για ερευνητές και επιστήμονες που εργάζονται σε διάφορους τομείς.
Εξοπλισμένο με τη μέθοδο σάρωσης δείγματος τριών αξόνων XYZ, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων επιτρέπει την ολοκληρωμένη χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφανειών με ακριβή έλεγχο της διαδρομής σάρωσης. Αυτή η προηγμένη μέθοδος σάρωσης εξασφαλίζει λεπτομερή και λεπτομερή ανάλυση του δείγματος, παρέχοντας πολύτιμες πληροφορίες για τα χαρακτηριστικά του.
Το εύρος σάρωσης του Ατομικού Μικροσκοπίου Δυνάμεων εκτείνεται στα 100 μm x 100 μm x 10 μm, επιτρέποντας τη λεπτομερή εξέταση ακόμη και των μικρότερων χαρακτηριστικών στην επιφάνεια του δείγματος. Αυτό το ευρύ εύρος σάρωσης επιτρέπει στους ερευνητές να καταγράψουν λεπτές λεπτομέρειες και περίπλοκες δομές με υψηλή ανάλυση.
Λειτουργώντας με ρυθμό σάρωσης 0,1-30 Hz, αυτό το μικροσκόπιο προσφέρει ευελιξία στην καταγραφή δεδομένων επιφανειών σε διαφορετικές ταχύτητες. Είτε χρειάζεστε μια γρήγορη επισκόπηση είτε μια λεπτομερή ανάλυση, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων μπορεί να φιλοξενήσει διαφορετικούς ρυθμούς σάρωσης για να ταιριάζει στις συγκεκριμένες απαιτήσεις σας.
Συνοψίζοντας, το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων είναι ένα ισχυρό εργαλείο για την ανάλυση επιφανειών και τον χαρακτηρισμό νανοκλίμακας, παρέχοντας στους ερευνητές μια εξελιγμένη πλατφόρμα για τη μελέτη των ιδιοτήτων των επιφανειών και τη διεξαγωγή λεπτομερούς χαρτογράφησης επιφανειών. Με την υψηλή ευαισθησία του, τη γενναιόδωρη χωρητικότητα μεγέθους δείγματος, την προηγμένη μέθοδο σάρωσης, το ευρύ εύρος σάρωσης και τον ευέλικτο ρυθμό σάρωσης, αυτό το μικροσκόπιο είναι ένα ανεκτίμητο πλεονέκτημα για τους ερευνητές που επιδιώκουν να εμβαθύνουν στον περίπλοκο κόσμο των δομών νανοκλίμακας και των χαρακτηριστικών της επιφάνειας.
Χαρακτηριστικά:
- Όνομα Προϊόντος: Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων
- Επίπεδο Θορύβου στην κατεύθυνση XY: 0,4 Nm
- Μέγεθος Δείγματος: 25 Mm
- Μέθοδος Σάρωσης: Σάρωση Δείγματος Τριών Αξόνων XYZ
- Μη Γραμμικότητα: 0,02% στην κατεύθυνση XY και 0,08% στην κατεύθυνση Z
- Εύρος Σάρωσης: 100 μm X100 μm x 10 μm
Τεχνικές Παράμετροι:
Μη Γραμμικότητα | 0,02% στην κατεύθυνση XY και 0,08% στην κατεύθυνση Z |
Μέγεθος Δείγματος | 25 Mm |
Επίπεδο Θορύβου στην κατεύθυνση Z | 0,04 Nm |
Επίπεδο Θορύβου στην κατεύθυνση XY | 0,4 Nm |
Εύρος Σάρωσης | 100 μm X100 μmx 10 μm |
Μέθοδος Σάρωσης | Σάρωση Δείγματος Τριών Αξόνων XYZ |
Ρυθμός Σάρωσης | 0,1-30 Hz |
Εφαρμογές:
Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων της Truth Instruments, μοντέλο AtomEdge Pro, που προέρχεται από την Κίνα, είναι ένα υπερσύγχρονο όργανο σχεδιασμένο για ακριβή χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφανειών σε μια ποικιλία επιστημονικών και βιομηχανικών εφαρμογών.
Με ρυθμό σάρωσης που κυμαίνεται από 0,1 έως 30 Hz, το AtomEdge Pro AFM είναι ικανό να καταγράφει λεπτομερή τοπογραφία επιφανειών και μηχανικές ιδιότητες με εξαιρετική ακρίβεια. Το επίπεδο θορύβου στην κατεύθυνση Z είναι τόσο χαμηλό όσο 0,04 Nm, εξασφαλίζοντας αποτελέσματα απεικόνισης υψηλής ποιότητας.
Η μέθοδος σάρωσης που χρησιμοποιεί το AtomEdge Pro είναι η σάρωση δείγματος τριών αξόνων XYZ, επιτρέποντας την ολοκληρωμένη σάρωση δειγμάτων με διαστάσεις έως 100 μm x 100 μm x 10 μm. Αυτή η ευέλικτη δυνατότητα σάρωσης το καθιστά ιδανικό για ένα ευρύ φάσμα σεναρίων έρευνας και ανάπτυξης.
Διαθέτοντας μη γραμμικότητα μόνο 0,02% στην κατεύθυνση XY και 0,08% στην κατεύθυνση Z, το AtomEdge Pro παρέχει αξιόπιστες και ακριβείς μετρήσεις για διάφορες εργασίες ανάλυσης επιφανειών.
Το Ατομικό Μικροσκόπιο Δυνάμεων AtomEdge Pro είναι ιδιαίτερα κατάλληλο για εφαρμογές που απαιτούν λεπτομερή απεικόνιση και ανάλυση επιφανειών, όπως η έρευνα νανοτεχνολογίας, οι μελέτες επιστήμης των υλικών και ο χαρακτηρισμός βιολογικών δειγμάτων. Οι δυνατότητες απεικόνισης υψηλής ανάλυσης το καθιστούν ένα απαραίτητο εργαλείο για ερευνητές και επιστήμονες που εργάζονται σε τομείς που απαιτούν ακριβή χαρτογράφηση ιδιοτήτων επιφανειών.
Είτε χρησιμοποιείται σε ακαδημαϊκά εργαστήρια, βιομηχανικές ερευνητικές εγκαταστάσεις ή τμήματα ποιοτικού ελέγχου, το AtomEdge Pro AFM παρέχει απαραίτητα δεδομένα για την κατανόηση των δομών και των ιδιοτήτων της επιφάνειας στη νανοκλίμακα. Η προηγμένη τεχνολογία μικροσκοπίου σάρωσης δυνάμεων προσφέρει απαράμιλλη ακρίβεια και ευαισθησία για ένα ευρύ φάσμα επιστημονικών ερευνών.