logo
تلفن: +86-532-89267428 ایمیل: tangzhongjie@truth-instruments.com
کیفیت 0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی 0.04 نانومتر میکروسکوپ با دقت بالا با حالت های متعدد کارخانه
کیفیت 0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی 0.04 نانومتر میکروسکوپ با دقت بالا با حالت های متعدد کارخانه

0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی 0.04 نانومتر میکروسکوپ با دقت بالا با حالت های متعدد

Advanced AFM With Multiple Modes For Nanoscale Characterization Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge instrument designed for high-precision surface analysis and nanoscale characterization. With a noise level in the Z direction of 0.04 Nm, this microscope offers exceptional sensitivity and accuracy in capturing surface details. One of the key features of this product is its generous sample size capacity of 25 mm, allowing for the examination of a
برچسب ها:

میکروسکوپ AFM,سیستم های AFM,میکروسکوپ سنج اسکن

0.1 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی,30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی,0.04 نانومتر میکروسکوپ با دقت بالا

Scanning Probe Microscope
جزئیات محصول
برجسته کردن:

0.1 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی,30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی,0.04 نانومتر میکروسکوپ با دقت بالا

,

30 Hz Atomic Force Microscope

,

0.04 Nm High Precision Microscope
Name: میکروسکوپ نیروی اتمی
Scanning Rate: 0.1-30 هرتز
Sample Size: 25 میلی متر
Noise Level In The XY Direction: 0.4 نانومتر
Scanning Method: اسکن نمونه کامل سه محوره XYZ
Nonlinearity: 0.02 ٪ در جهت XY و 0.08 ٪ در جهت z
Scanning Range: 100 میکرومولار x100 میکرومتر 10 میکرومتر
Noise Level In The Z Direction: 0.04 نانومتر

ویژگی های اساسی

نام تجاری: Truth Instruments
شماره مدل: Atomedge Pro

املاک تجاری

قیمت: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
شرایط پرداخت: t/t
توضیحات محصول

AFM پیشرفته با حالت های متعدد برای مشخصه سازی نانو

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی ابزار پیشرفته ای است که برای تجزیه و تحلیل سطح با دقت بالا و توصیف در مقیاس نانو طراحی شده است.این میکروسکوپ حساسیت و دقت فوق العاده ای در گرفتن جزئیات سطح دارد.

یکی از ویژگی های اصلی این محصول ظرفیت نمونه گشایی سخاوتمندانه 25 میلی متر است که اجازه می دهد طیف گسترده ای از نمونه ها با ابعاد مختلف مورد بررسی قرار گیرند.این باعث می شود آن را یک ابزار متنوع برای محققان و دانشمندان در زمینه های مختلف کار می کنند.

مجهز به روش اسکن نمونه کامل سه محور XYZ، میکروسکوپ نیروی اتمی امکان نقشه برداری جامع از خواص سطح را با کنترل دقیق مسیر اسکن فراهم می کند.این روش اسکن پیشرفته، تجزیه و تحلیل کامل و دقیق نمونه را تضمین می کند.، ارائه بینش ارزشمندی در مورد ویژگی های آن.

محدوده اسکن میکروسکوپ نیروی اتمی 100 μm x 100 μm x 10 μm است که اجازه می دهد تا حتی کوچکترین ویژگی های سطح نمونه را به طور دقیق بررسی کند.این طیف گسترده ی اسکن به محققان امکان می دهد تا جزئیات دقیق و ساختارهای پیچیده را با وضوح بالا ضبط کنند.

این میکروسکوپ با سرعت اسکن 0.1 تا 30 هرتز، انعطاف پذیری در ضبط داده های سطحی را در سرعت های مختلف فراهم می کند.میکروسکوپ نیروی اتمی می تواند نرخ های مختلف اسکن را متناسب با نیازهای خاص شما فراهم کند..

خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی یک ابزار قدرتمند برای تجزیه و تحلیل سطح و مشخصه سازی در مقیاس نانو است.فراهم کردن یک پلت فرم پیچیده برای پژوهشگران برای مطالعه خواص سطح و انجام نقشه برداری دقیق سطحبا حساسیت بالا، ظرفیت نمونه بزرگ، روش اسکن پیشرفته، محدوده اسکن گسترده و نرخ اسکن انعطاف پذیر،این میکروسکوپ یک دارایی ارزشمند برای محققان است که به دنبال کشف دنیای پیچیده ساختارهای نانو مقیاس و ویژگی های سطح هستند.

ویژگی ها:

  • نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
  • سطح سر و صدا در جهت XY: 0.4 Nm
  • اندازه نمونه: 25 میلی متر
  • روش اسکن: XYZ اسکن سه محور نمونه کامل
  • عدم خطی بودن: 0.02 در جهت XY و 0.08 در جهت Z
  • محدوده اسکن: 100 μm X100 μm x 10 μm

پارامترهای فنی:

عدم خطی بودن 0.02 درصد در جهت XY و 0.08 درصد در جهت Z
اندازه نمونه 25 میلی متر
سطح سر و صدا در جهت Z 0.04 Nm
سطح سر و صدا در جهت XY 0.4 Nm
محدوده اسکن 100 μm X100 μmx 10 μm
روش اسکن XYZ اسکن کامل نمونه سه محور
سرعت اسکن 0.1 تا 30 هرتز

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی ابزار حقیقت، مدل AtomEdge Pro، از چین،یک ابزار پیشرفته طراحی شده برای نقشه برداری دقیق خواص سطح در انواع کاربردهای علمی و صنعتی است.

با نرخ اسکن از 0.1 تا 30 هرتز، AtomEdge Pro AFM قادر به ضبط توپوگرافی سطحی دقیق و خواص مکانیکی با دقت استثنایی است.سطح سر و صدا در جهت Z به صفر می رسد.04 Nm، تضمین نتایج تصویربرداری با کیفیت بالا.

روش اسکن استفاده شده توسط AtomEdge Pro اسکن نمونه کامل سه محور XYZ است که امکان اسکن کامل نمونه ها را با ابعاد تا 100 μm x 100 μm x 10 μm فراهم می کند.این قابلیت اسکن همه جانبه باعث می شود آن را برای طیف گسترده ای از سناریوهای تحقیق و توسعه ایده آل.

با عدم خطی بودن تنها 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z، AtomEdge Pro اندازه گیری های قابل اعتماد و دقیق را برای وظایف مختلف تجزیه و تحلیل سطح ارائه می دهد.

میکروسکوپ نیروی اتمی AtomEdge Pro به ویژه برای کاربردهایی که نیاز به تصویربرداری و تجزیه و تحلیل دقیق سطح دارند، مانند تحقیقات نانوتکنولوژی، مطالعات علوم مواد،و مشخصات نمونه های بیولوژیکیقابلیت های تصویربرداری با وضوح بالا آن را به یک ابزار ضروری برای محققان و دانشمندان در زمینه هایی که نیاز به نقشه برداری دقیق از خواص سطح دارند، تبدیل می کند.

چه در آزمايشگاه هاي دانشگاهي استفاده شود، چه در تاسيسات تحقيقات صنعتي، يا در بخش هاي کنترل کيفيت،AtomEdge Pro AFM داده های ضروری را برای درک ساختار و خواص سطح در مقیاس نانو فراهم می کندتکنولوژی پیشرفته میکروسکوپ نیروی اسکن آن دقت و حساسیت بی نظیر را برای طیف گسترده ای از تحقیقات علمی ارائه می دهد.

درخواست ارسال کنید

دریافت قیمت سریع