0.1 Гц - 30 Гц Атомно-силовой микроскоп 0.04 Нм Высокоточный микроскоп с несколькими режимами

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп - это современный прибор, предназначенный для высокоточной анализа поверхности и наноразмерной характеризации. С уровнем шума в направлении Z 0,04 нм, этот микроскоп обеспечивает исключительную чувствительность и точность при захвате деталей поверхности.

Одной из ключевых особенностей этого продукта является его большая вместимость образца 25 мм, что позволяет исследовать широкий спектр образцов с различными размерами. Это делает его универсальным инструментом для исследователей и ученых, работающих в различных областях.

Оснащенный трехкоординатным методом сканирования образца XYZ, атомно-силовой микроскоп позволяет проводить комплексное картирование свойств поверхности с точным контролем траектории сканирования. Этот усовершенствованный метод сканирования обеспечивает тщательный и детальный анализ образца, предоставляя ценную информацию о его характеристиках.

Диапазон сканирования атомно-силового микроскопа составляет 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм, что позволяет детально исследовать даже самые мелкие детали на поверхности образца. Этот широкий диапазон сканирования позволяет исследователям захватывать мелкие детали и сложные структуры с высоким разрешением.

Работая со скоростью сканирования 0,1-30 Гц, этот микроскоп обеспечивает гибкость при захвате данных о поверхности на разных скоростях. Если вам нужен быстрый обзор или детальный анализ, атомно-силовой микроскоп может адаптироваться к различным скоростям сканирования в соответствии с вашими конкретными требованиями.

В заключение, атомно-силовой микроскоп - это мощный инструмент для анализа поверхности и наноразмерной характеризации, предоставляющий исследователям сложную платформу для изучения свойств поверхности и проведения детального картирования поверхности. Благодаря высокой чувствительности, большой вместимости образца, усовершенствованному методу сканирования, широкому диапазону сканирования и гибкой скорости сканирования, этот микроскоп является бесценным активом для исследователей, стремящихся углубиться в сложный мир наноразмерных структур и особенностей поверхности.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп
• Уровень шума в направлении XY: 0,4 нм
• Размер образца: 25 мм
• Метод сканирования: XYZ трехкоординатное сканирование образца
• Нелинейность: 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z
• Диапазон сканирования: 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп Truth Instruments, модель AtomEdge Pro, произведенный в Китае, представляет собой современный прибор, предназначенный для точного картирования свойств поверхности в различных научных и промышленных областях.

Со скоростью сканирования от 0,1 до 30 Гц, АСМ AtomEdge Pro способен захватывать детальную топографию поверхности и механические свойства с исключительной точностью. Уровень шума в направлении Z составляет всего 0,04 нм, что обеспечивает высокое качество результатов визуализации.

Метод сканирования, используемый AtomEdge Pro, - это XYZ трехкоординатное сканирование образца, позволяющее проводить комплексное сканирование образцов размером до 100 мкм x 100 мкм x 10 мкм. Эта универсальная возможность сканирования делает его идеальным для широкого спектра сценариев исследований и разработок.

Обладая нелинейностью всего 0,02% в направлении XY и 0,08% в направлении Z, AtomEdge Pro обеспечивает надежные и точные измерения для различных задач анализа поверхности.

Атомно-силовой микроскоп AtomEdge Pro особенно хорошо подходит для применений, требующих детальной визуализации и анализа поверхности, таких как исследования в области нанотехнологий, исследования материалов и характеризация биологических образцов. Его возможности визуализации с высоким разрешением делают его незаменимым инструментом для исследователей и ученых, работающих в областях, требующих точного картирования свойств поверхности.

Будь то использование в академических лабораториях, промышленных исследовательских учреждениях или отделах контроля качества, АСМ AtomEdge Pro предоставляет важные данные для понимания структур и свойств поверхности на наноуровне. Его передовая технология сканирующего силового микроскопа обеспечивает непревзойденную точность и чувствительность для широкого спектра научных исследований.