0.1 Hz - 30 Hz Microscópio de Força Atómica 0.04 Nm Microscópio de Alta Precisão com Módus Múltiples
0.1 Hz Microscópio de Força Atómica
,Microscópio de Força Atómica de 30 Hz
,0.04 Nm Microscópio de Alta Precisão
Propriedades básicas
Propriedades comerciais
AFM Avançado com Múltiplos Modos para Caracterização em Nanoescala
Descrição do Produto:
O Microscópio de Força Atômica é um instrumento de ponta projetado para análise de superfície de alta precisão e caracterização em nanoescala. Com um nível de ruído na direção Z de 0,04 Nm, este microscópio oferece sensibilidade e precisão excepcionais na captura de detalhes da superfície.
Uma das principais características deste produto é sua generosa capacidade de tamanho de amostra de 25 mm, permitindo a análise de uma ampla gama de amostras com dimensões variadas. Isso o torna uma ferramenta versátil para pesquisadores e cientistas que trabalham em diversas áreas.
Equipado com o método de varredura completa de amostra de três eixos XYZ, o Microscópio de Força Atômica permite o mapeamento abrangente das propriedades da superfície com controle preciso sobre o caminho de varredura. Este método de varredura avançado garante uma análise completa e detalhada da amostra, fornecendo informações valiosas sobre suas características.
A faixa de varredura do Microscópio de Força Atômica abrange 100 μm x 100 μm x 10 μm, permitindo o exame detalhado até mesmo das menores características na superfície da amostra. Essa ampla faixa de varredura permite que os pesquisadores capturem detalhes finos e estruturas intrincadas com alta resolução.
Operando a uma taxa de varredura de 0,1-30 Hz, este microscópio oferece flexibilidade na captura de dados de superfície em diferentes velocidades. Se você precisa de uma visão geral rápida ou uma análise detalhada, o Microscópio de Força Atômica pode acomodar diferentes taxas de varredura para atender às suas necessidades específicas.
Em resumo, o Microscópio de Força Atômica é uma ferramenta poderosa para análise de superfície e caracterização em nanoescala, fornecendo aos pesquisadores uma plataforma sofisticada para estudar as propriedades da superfície e conduzir o mapeamento detalhado da superfície. Com sua alta sensibilidade, generosa capacidade de tamanho de amostra, método de varredura avançado, ampla faixa de varredura e taxa de varredura flexível, este microscópio é um recurso inestimável para pesquisadores que buscam mergulhar no intrincado mundo das estruturas em nanoescala e características da superfície.
Características:
- Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica
- Nível de Ruído na Direção XY: 0,4 Nm
- Tamanho da Amostra: 25 Mm
- Método de Varredura: Varredura Completa de Amostra de Três Eixos XYZ
- Não Linearidade: 0,02% na Direção XY e 0,08% na Direção Z
- Faixa de Varredura: 100 μm X100 μm x 10 μm
Parâmetros Técnicos:
Não Linearidade | 0,02% na Direção XY e 0,08% na Direção Z |
Tamanho da Amostra | 25 Mm |
Nível de Ruído na Direção Z | 0,04 Nm |
Nível de Ruído na Direção XY | 0,4 Nm |
Faixa de Varredura | 100 μm X100 μmx 10 μm |
Método de Varredura | Varredura Completa de Amostra de Três Eixos XYZ |
Taxa de Varredura | 0,1-30 Hz |
Aplicações:
O Microscópio de Força Atômica da Truth Instruments, modelo AtomEdge Pro, originário da China, é um instrumento de ponta projetado para mapeamento preciso das propriedades da superfície em uma variedade de aplicações científicas e industriais.
Com uma taxa de varredura que varia de 0,1 a 30 Hz, o AtomEdge Pro AFM é capaz de capturar a topografia detalhada da superfície e as propriedades mecânicas com precisão excepcional. O nível de ruído na direção Z é tão baixo quanto 0,04 Nm, garantindo resultados de imagem de alta qualidade.
O método de varredura empregado pelo AtomEdge Pro é a varredura completa de amostra de três eixos XYZ, permitindo a varredura abrangente de amostras com dimensões de até 100 μm x 100 μm x 10 μm. Essa capacidade de varredura versátil o torna ideal para uma ampla gama de cenários de pesquisa e desenvolvimento.
Apresentando não linearidade de apenas 0,02% na direção XY e 0,08% na direção Z, o AtomEdge Pro oferece medições confiáveis e precisas para várias tarefas de análise de superfície.
O Microscópio de Força Atômica AtomEdge Pro é particularmente adequado para aplicações que exigem imagem e análise detalhadas da superfície, como pesquisa em nanotecnologia, estudos de ciência de materiais e caracterização de amostras biológicas. Seus recursos de imagem de alta resolução o tornam uma ferramenta indispensável para pesquisadores e cientistas que trabalham em áreas que exigem mapeamento preciso das propriedades da superfície.
Se usado em laboratórios acadêmicos, instalações de pesquisa industrial ou departamentos de controle de qualidade, o AtomEdge Pro AFM fornece dados essenciais para entender as estruturas e propriedades da superfície em nanoescala. Sua tecnologia avançada de microscópio de força de varredura oferece precisão e sensibilidade incomparáveis para uma ampla gama de pesquisas científicas.