0.1 Hz - 30 Hz Mikroskop Kekuatan Atom 0.04 Nm Mikroskop Presisi Tinggi Dengan Multiple Mode

Deskripsi produk:

Atomic Force Microscope adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk analisis permukaan presisi tinggi dan karakterisasi nanoscale.mikroskop ini menawarkan sensitivitas yang luar biasa dan akurasi dalam menangkap detail permukaan.

Salah satu fitur utama dari produk ini adalah kapasitas ukuran sampel yang murah hati sebesar 25 mm, yang memungkinkan untuk memeriksa berbagai sampel dengan dimensi yang bervariasi.Hal ini membuatnya menjadi alat serbaguna bagi peneliti dan ilmuwan yang bekerja di berbagai bidang.

Dilengkapi dengan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, Mikroskop Kekuatan Atom memungkinkan pemetaan sifat permukaan yang komprehensif dengan kontrol yang tepat atas jalur pemindaian.Metode pemindaian canggih ini memastikan analisis sampel yang menyeluruh dan terperinci, memberikan wawasan berharga tentang karakteristiknya.

Jangkauan pemindaian Mikroskop Kekuatan Atom mencakup 100 μm x 100 μm x 10 μm, memungkinkan pemeriksaan rinci bahkan fitur terkecil di permukaan sampel.Jangkauan pemindaian yang luas ini memungkinkan para peneliti menangkap detail halus dan struktur yang rumit dengan resolusi tinggi.

Mengoperasikan pada kecepatan pemindaian 0,1-30 Hz, mikroskop ini menawarkan fleksibilitas dalam menangkap data permukaan pada kecepatan yang berbeda.Atomic Force Microscope dapat mengakomodasi kecepatan pemindaian yang berbeda sesuai dengan kebutuhan spesifik Anda.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom adalah alat yang ampuh untuk analisis permukaan dan karakterisasi skala nano,menyediakan para peneliti dengan platform canggih untuk mempelajari sifat permukaan dan melakukan pemetaan permukaan yang rinciDengan sensitivitas tinggi, kapasitas ukuran sampel yang murah hati, metode pemindaian canggih, rentang pemindaian yang luas, dan kecepatan pemindaian yang fleksibel,mikroskop ini adalah aset yang tak ternilai bagi peneliti yang ingin menyelidiki dunia yang rumit dari struktur nanoscale dan fitur permukaan.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom
• Tingkat kebisingan di arah XY: 0,4 Nm
• Ukuran sampel: 25 mm
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Penuh Tiga sumbu
• Nonlinearitas: 0,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z
• Jangkauan pemindaian: 100 μm X100 μm x 10 μm

Parameter teknis:

Aplikasi:

Truth Instruments' Atomic Force Microscope, model AtomEdge Pro, berasal dari Cina,adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk pemetaan properti permukaan yang tepat dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri.

Dengan kecepatan pemindaian berkisar dari 0,1 hingga 30 Hz, AtomEdge Pro AFM mampu menangkap topografi permukaan yang rinci dan sifat mekanik dengan akurasi yang luar biasa.Tingkat kebisingan di arah Z adalah setinggi 0.04 Nm, memastikan hasil pencitraan berkualitas tinggi.

Metode pemindaian yang digunakan oleh AtomEdge Pro adalah pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, yang memungkinkan pemindaian sampel yang komprehensif dengan dimensi hingga 100 μm x 100 μm x 10 μm.Kemampuan pemindaian serbaguna ini membuatnya ideal untuk berbagai skenario penelitian dan pengembangan.

Dengan fitur nonlinearitas hanya 0,02% di arah XY dan 0,08% di arah Z, AtomEdge Pro memberikan pengukuran yang dapat diandalkan dan tepat untuk berbagai tugas analisis permukaan.

AtomEdge Pro Atomic Force Microscope sangat cocok untuk aplikasi yang membutuhkan pencitraan dan analisis permukaan yang rinci, seperti penelitian nanoteknologi, studi ilmu material,dan karakteristik sampel biologisKemampuan pencitraan resolusi tinggi membuatnya menjadi alat yang sangat diperlukan bagi peneliti dan ilmuwan yang bekerja di bidang yang menuntut pemetaan properti permukaan yang akurat.

Apakah digunakan di laboratorium akademik, fasilitas penelitian industri, atau departemen kontrol kualitas,AtomEdge Pro AFM memberikan data penting untuk memahami struktur dan sifat permukaan pada skala nanometerTeknologi mikroskop kekuatan pemindaian canggihnya menawarkan presisi dan sensitivitas yang tak tertandingi untuk berbagai penyelidikan ilmiah.