0.1 Hz - 30 Hz Atomkraftmikroskop 0,04 Nm Hochpräzisionsmikroskop mit mehreren Modi

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop ist ein hochmodernes Instrument, das für die hochpräzise Oberflächenanalyse und die Charakterisierung im Nanobereich mit einem Geräuschpegel in Z-Richtung von 0,04 Nm entwickelt wurde.Dieses Mikroskop bietet eine außergewöhnliche Empfindlichkeit und Genauigkeit bei der Erfassung von Oberflächendetails.

Eine der Hauptmerkmale dieses Produkts ist seine großzügige Probengröße von 25 mm, die es ermöglicht, eine Vielzahl von Proben mit unterschiedlichen Abmessungen zu untersuchen.Dies macht es zu einem vielseitigen Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die in verschiedenen Bereichen arbeiten.

Das Atomic Force Microscope ist mit der dreiachsigen XYZ-Vollprobenscannemethode ausgestattet und ermöglicht eine umfassende Kartierung der Oberflächenverhältnisse mit präziser Kontrolle des Scanningweges.Diese fortschrittliche Scanning-Methode sorgt für eine gründliche und detaillierte Analyse der Probe, die wertvolle Einblicke in seine Eigenschaften liefern.

Der Scanbereich des Atomkraftmikroskops erstreckt sich über 100 μm x 100 μm x 10 μm, so dass auch die kleinsten Merkmale der Probenoberfläche detailliert untersucht werden können.Diese große Reichweite ermöglicht es Forschern, feine Details und komplexe Strukturen mit hoher Auflösung zu erfassen.

Dieses Mikroskop, das mit einer Scanning-Rate von 0,1 bis 30 Hz arbeitet, bietet die Flexibilität, Oberflächendaten mit unterschiedlichen Geschwindigkeiten zu erfassen.Das Atomic Force Microscope kann unterschiedliche Scanning-Geschwindigkeiten bieten, um Ihren spezifischen Anforderungen gerecht zu werden..

Zusammenfassend ist das Atomkraftmikroskop ein leistungsfähiges Werkzeug für Oberflächenanalysen und Charakterisierung auf Nanoskala.Bereitstellung einer ausgeklügelten Plattform für die Erforschung der Oberflächenverhältnisse und die Durchführung detaillierter OberflächenkartenMit seiner hohen Empfindlichkeit, großzügiger Probengröße, fortschrittlichen Scanningmethode, breiterem Scanningbereich und flexibler ScanningrateDieses Mikroskop ist ein unschätzbares Gut für Forscher, die in die komplizierte Welt der Nanostrukturen und Oberflächenmerkmale eintauchen wollen..

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Geräuschpegel in der XY-Richtung: 0,4 Nm
• Probegröße: 25 mm
• Scanning-Methode: XYZ Dreiachsige Vollprobenscanning
• Nichtlinearität: 0,02% in der Richtung XY und 0,08% in der Richtung Z
• Messbereich: 100 μm X 100 μm x 10 μm

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Atomkraftmikroskop von Truth Instruments, AtomEdge Pro, aus China,ist ein hochmodernes Instrument, das für die präzise Kartierung von Oberflächenverhältnissen in einer Vielzahl von wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen entwickelt wurde.

Mit einer Scanrate von 0,1 bis 30 Hz ist der AtomEdge Pro AFM in der Lage, detaillierte Oberflächen-Topographie und mechanische Eigenschaften mit außergewöhnlicher Genauigkeit zu erfassen.Der Geräuschpegel in Z-Richtung ist so niedrig wie 0.04 Nm, die eine hohe Bildqualität gewährleisten.

Die vom AtomEdge Pro eingesetzte Scanmethode ist ein dreiachsiger XYZ-Full-Sample-Scan, der ein umfassendes Scannen von Proben mit Abmessungen von bis zu 100 μm x 100 μm x 10 μm ermöglicht.Diese vielseitige Scanning-Fähigkeit macht es ideal für eine breite Palette von Forschungs- und Entwicklungsszenarien.

Mit einer Nichtlinearität von nur 0,02% in der XY-Richtung und 0,08% in der Z-Richtung liefert der AtomEdge Pro zuverlässige und präzise Messungen für verschiedene Oberflächenanalysenaufgaben.

Das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope eignet sich besonders gut für Anwendungen, die detaillierte Oberflächenbildgebung und -analyse erfordern, wie z. B. Nanotechnologieforschung, Materialwissenschaftsstudien,und biologische ProbecharakterisierungSeine hochauflösenden Bildverarbeitungskapazitäten machen es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die in Bereichen arbeiten, die eine genaue Kartierung der Oberflächenverhältnisse erfordern.

Ob in akademischen Laboratorien, Industrieforschungseinrichtungen oder Qualitätskontrollabteilungen,Das AtomEdge Pro AFM liefert wesentliche Daten zum Verständnis von Oberflächenstrukturen und -eigenschaften im NanobereichDie fortschrittliche Mikroskoptechnologie bietet eine unübertroffene Präzision und Empfindlichkeit für eine Vielzahl wissenschaftlicher Untersuchungen.