Microscopio a forza atomica

Imaging 3D su scala nanometrica per la ricerca sui semiconduttori e sui materiali avanzati

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato e versatile progettato per fornire una precisa caratterizzazione della superficie attraverso molteplici modalità operative. Questo microscopio multifunzionale integra una serie di tecniche tra cui la ...

Asse Z a basso rumore per la caratterizzazione di materiali su scala nanometrica ad alta precisione

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un sistema AFM avanzato e completo, progettato per offrire precisione e versatilità senza pari per l'imaging e le misurazioni su scala nanometrica. Utilizzando un metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ, questo AFM ...

Modalità MFM/KPFM per la caratterizzazione di materiali nanoscopici ad alta precisione

Descrizione del prodotto: Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) è un microscopio a forza a scansione all'avanguardia progettato per fornire capacità di imaging e misurazione senza pari a scala nanometrica. Con il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ avanzato, questo AFM ...

Microscopio a forza atomica 0,1 Hz - 30 Hz, microscopio di alta precisione 0,04 nm con modalità multiple

AFM avanzato con modalità multiple per la caratterizzazione su scala nanometrica Descrizione del prodotto: Il microscopio a forza atomica è uno strumento all'avanguardia progettato per l'analisi di superfici ad alta precisione e la caratterizzazione su scala nanometrica. Con un livello di rumore ...

Microscopi industriali regolabili ad alta risoluzione per microscopia a forza atomica potenziale su scala nanometrica

Potenziale Nanoscopico con Microscopio a Forza Atomica per Imaging ad Alta Risoluzione Descrizione del Prodotto: Una delle caratteristiche principali dell'AFM è la sua impressionante gamma di scansione, che misura 100 μm X 100 μm X 10 μm. Questa ampia gamma consente l'imaging e l'analisi dettagliati ...

Microscopio AFM ad alta stabilità 0,1 Hz - 30 Hz Sistemi AFM per materiali Biologia e Imaging elettronico

AFM ad alta stabilità per la biologia dei materiali e l'imaging elettronico Descrizione del prodotto: Il microscopio della forza atomica è uno strumento scientifico all'avanguardia che offre immagini ad alta risoluzione e misurazioni precise per una vasta gamma di applicazioni in nanotecnologia, ...

High-Stability AtomEdge Pro AFM: 4096×4096 Risoluzione di scansione 3D + EFM/KPFM/PFM

Descrizione del prodotto: Il microscopio a forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per l'analisi di superfici ad alta precisione e la misurazione elettrica su scala nanometrica. Rinomato per la sua versatilità e funzionalità avanzate, questo AFM offre una suite completa di ...

Scansione 3D flessibile per applicazioni di ricerca elettronica, biomateriali e di precisione

Descrizione del prodotto:Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento all'avanguardia progettato per fornire una precisione e una versatilità senza pari nella mappatura delle proprietà superficiali a nanoscala.Progettato per soddisfare i requisiti più esigenti della ricerca avanzata e ...

Misurazione multifunzionale (MFM/EFM) per studi scientifici mirati

Descrizione del prodotto:Il microscopio della forza atomica (AFM) è uno strumento altamente avanzato progettato per la misurazione multifunzionale, offrendo una versatilità e precisione senza pari nell'imaging e nell'analisi su scala nanometrica.Questo AFM all'avanguardia integra una varietà di ...

« ‹ 1 2 3 4 5 › »