English
Français
Deutsch
Italiano
Русский
Español
Português
Nederlandse
Ελληνικά
日本語
한국
Polski
فارسی
বাংলা
Tiếng Việt
العربية
हिन्दी
Türkçe
Indonesia
กล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณู
การสร้างภาพ 3 มิติระดับนาโนสำหรับงานวิจัยเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุขั้นสูง
รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือขั้นสูงและหลากหลายที่ออกแบบมาเพื่อให้ลักษณะพื้นผิวที่แม่นยำผ่านโหมดการทำงานหลายโหมด กล้องจุลทรรศน์มัลติฟังก์ชันนี้ผสานรวมเทคนิคต่างๆ มากมาย รวมถึงกล้องจุลทรรศน์แรงไฟฟ้าสถิต (EFM), กล้องจุลทรรศน์แรงโพรบเคลวินแบบสแกน (KPFM), กล้องจุลทรรศน์แร...
แกน Z สัญญาณรบกวนต่ำสำหรับการจำแนกวัสดุระดับนาโนที่แม่นยำสูง
คําอธิบายสินค้า:เครื่องกล้องจุลินทรีย์พลังอะตอม (AFM) เป็นระบบ AFM ที่มีความก้าวหน้าและครบวงจร ที่ถูกออกแบบมาเพื่อให้มีความแม่นยําและความหลากหลายที่ไม่มีคู่แข่งสําหรับการถ่ายภาพและการวัดขนาดนาโนการใช้วิธีสแกนตัวอย่างเต็ม 3 แกน XYZ, AFM นี้ทําให้การวิเคราะห์พื้นผิวที่ครบถ้วนและแม่นยําโดยการอนุญาตอิสร...
รูปแบบ MFM/KPFM สําหรับการระบุลักษณะวัสดุขนาดนาโนความละเอียดสูง
รายละเอียดสินค้า:กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นกล้องจุลทรรศน์แรงสแกนที่ล้ำสมัย ซึ่งออกแบบมาเพื่อมอบความสามารถในการถ่ายภาพและการวัดที่เหนือชั้นในระดับนาโน ด้วยวิธีการสแกนตัวอย่างเต็มแกน XYZ แบบสามแกนขั้นสูง AFM นี้ช่วยให้การตรวจสอบพื้นผิวตัวอย่างมีความแม่นยำและครอบคลุม ทำให้มั่นใจได้ถึงความแม่นยำส...
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม 0.1 Hz - 30 Hz ความแม่นยำสูง 0.04 nm พร้อมโหมดหลากหลาย
AFM ที่ทันสมัยที่มีหลายโหมดสําหรับการประกอบลักษณะขนาดนาโน คําอธิบายสินค้า: มิโครสโกปพลังอะตอมิค (Atomic Force Microscope) เป็นอุปกรณ์ที่มีความทันสมัย ที่ถูกออกแบบมาเพื่อการวิเคราะห์พื้นผิวด้วยความแม่นยําสูง และการแสดงลักษณะขนาดนาโนมิกรอสโกปนี้มีความรู้สึกและความแม่นยําอย่างพิเศษในการจับรายละเอียดพื้...
กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรมปรับได้สำหรับวัดศักย์ไฟฟ้าด้วยเทคนิคอะตอมมิกฟอร์ซในระดับนาโนเมตร ความละเอียดสูง
ศักยภาพระดับนาโนสเกลด้วยกล้องจุลทรรศน์แรงปรมาณูสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูง รายละเอียดสินค้า: หนึ่งในคุณสมบัติหลักของ AFM คือช่วงการสแกนที่น่าประทับใจ โดยวัดได้ 100 μm X 100 μm X 10 μm ช่วงกว้างนี้ช่วยให้สามารถถ่ายภาพและวิเคราะห์ตัวอย่างต่างๆ ได้อย่างละเอียด ตั้งแต่ขนาดอนุภาคนาโนขนาดเล็กไปจนถึงโคร...
กล้องจุลทรรศน์ AFM เสถียรภาพสูง ระบบ AFM 0.1 Hz - 30 Hz สำหรับการถ่ายภาพวัสดุ ชีววิทยา และอิเล็กทรอนิกส์
AFM ความมั่นคงสูง สําหรับวัสดุชีววิทยาและการถ่ายภาพอิเล็กทรอนิกส์ คําอธิบายสินค้า: มิกรอสโกปพลังอะตอมิค เป็นเครื่องมือวิทยาศาสตร์ที่มีความทันสมัย ที่สามารถถ่ายภาพความละเอียดสูง และการวัดที่แม่นยํา สําหรับการใช้งานที่หลากหลาย ในด้านนาโนเทคโนโลยี วิทยาศาสตร์วัสดุและวิจัยชีววิทยามิกรอสโกปที่ทันสมัยนี้ใ...
High-Stability AtomEdge Pro AFM: การสแกน 3 มิติความละเอียด 4096×4096 + EFM/KPFM/PFM
คําอธิบายสินค้า:เครื่องจองจุลินทรีย์พลังอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือที่มีความทันสมัยที่ออกแบบมาเพื่อการวิเคราะห์พื้นผิวความละเอียดสูงและการวัดไฟฟ้าขนาดนาโนชื่อเสียงสําหรับความหลากหลายและฟังก์ชันที่ทันสมัย, AFM นี้มีคุณสมบัติครบวงจรที่ทําให้มันเป็นเครื่องมือที่จําเป็นต้องใช้ในทั้งการวิจัยและการใช้งานอุ...
การสแกน 3 มิติแบบยืดหยุ่น สําหรับอิเล็กทรอนิกส์, วัสดุชีวภาพ และการใช้งานการวิจัยความแม่นยํา
คำอธิบายผลิตภัณฑ์: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือที่ทันสมัยซึ่งออกแบบมาเพื่อให้ความแม่นยำและความสามารถรอบด้านที่เหนือชั้นในการทำแผนที่คุณสมบัติพื้นผิวในระดับนาโนเมตร ออกแบบมาเพื่อตอบสนองความต้องการที่สูงของงานวิจัยขั้นสูงและการใช้งานในอุตสาหกรรม AFM นี้มีชุดคุณสมบัติที่ครอบคลุมซึ่งทำให้...
การวัดแบบหลายฟังก์ชัน (MFM/EFM) สำหรับการศึกษาทางวิทยาศาสตร์แบบเจาะจง
รายละเอียดสินค้า: กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) เป็นเครื่องมือขั้นสูงที่ออกแบบมาสำหรับการวัดแบบมัลติฟังก์ชัน มอบความสามารถรอบด้านและความแม่นยำที่เหนือชั้นในการถ่ายภาพและการวิเคราะห์ระดับนาโน เครื่องมือ AFM ที่ล้ำสมัยนี้ผสานรวมโหมดการวัดที่หลากหลาย รวมถึงกล้องจุลทรรศน์แรงไฟฟ้าสถิต (EFM), กล้องจุลทรรศน...
