Mikroskop siły atomowej

Nanowymiarowe obrazowanie 3D do badań nad półprzewodnikami i zaawansowanymi materiałami

Opis produktu: Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane i wszechstronne urządzenie zaprojektowane do precyzyjnej charakterystyki powierzchni za pomocą wielu trybów pracy. Ten wielofunkcyjny mikroskop integruje szereg technik, w tym Mikroskopię Sił Elektrostatycznych (EFM), Skaningową Mikroskopi...

Oś Z o niskim poziomie hałasu do dokładnej charakterystyki materiałów w nanoskali

Opis produktu:Mikroskop siły atomowej (AFM) to zaawansowany, kompleksowy system AFM zaprojektowany w celu zapewnienia niezrównanej precyzji i wszechstronności w zakresie obrazowania i pomiarów w nanoskali.Wykorzystanie trzyosiowej metody skanowania pełnej próbki XYZ, ten AFM umożliwia kompleksową i ...

Moduły MFM/KPFM do wysokoprecyzyjnej charakterystyki materiałów w nanoskali

Opis produktu:Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejszy mikroskop sił skaningowych zaprojektowany w celu zapewnienia niezrównanych możliwości obrazowania i pomiarów w nanoskali. Dzięki zaawansowanej, trójosiowej metodzie skanowania pełnej próbki XYZ, ten AFM umożliwia precyzyjne i ...

0.1 Hz - 30 Hz Mikroskop siły atomowej 0,04 nm Mikroskop wysokiej precyzji z wieloma trybami

Zaawansowane AFM z wieloma trybami charakterystyki w nanoskali Opis produktu: Mikroskop sił atomowych to najnowocześniejszy instrument zaprojektowany do analizy powierzchni o wysokiej precyzji i charakterystyki w nanoskalach.ten mikroskop oferuje wyjątkową czułość i dokładność w wychwytywaniu szczeg...

Mikroskopy przemysłowe o regulowanej rozdzielczości atomowej siłowej potencjału w skali nano

Potencjał Nanoskali z Mikroskopem Sił Atomowych dla Obrazowania o Wysokiej Rozdzielczości Opis produktu: Jedną z kluczowych cech AFM jest imponujący zakres skanowania, mierzący 100 μm X 100 μm X 10 μm. Ten szeroki zakres pozwala na szczegółowe obrazowanie i analizę różnych próbek, od małych nanocz...

Mikroskop AFM o wysokiej stabilności 0,1 Hz - 30 Hz Systemy AFM do obrazowania materiałów, biologii i elektroniki

Wysokostabilny AFM dla biologii materiałów i obrazowania elektronowego Opis produktu: Mikroskop sił atomowych to najnowocześniejsze urządzenie naukowe, które oferuje obrazowanie o wysokiej rozdzielczości i precyzyjne pomiary dla szerokiego zakresu zastosowań w nanotechnologii, nauce o materiałach i ...

Wysokostabilny mikroskop AtomEdge Pro AFM: skanowanie 3D o rozdzielczości 4096×4096 + EFM/KPFM/PFM

Opis produktu:Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejszy instrument przeznaczony do analizy powierzchni o wysokiej precyzji i pomiarów elektrycznych w nanoskali.Znany ze swojej wszechstronności i zaawansowanej funkcjonalności, ten AFM oferuje kompleksowy zestaw funkcji, które czynią go ...

Elastyczne skanowanie 3D dla elektroniki, biomateriałów i aplikacji badawczych precyzyjnych

Opis produktu:Mikroskop sił atomowych (AFM) to najnowocześniejszy instrument zaprojektowany w celu zapewnienia niezrównanej precyzji i wszechstronności w mapowaniu właściwości powierzchni w skali nanometrycznej.Zaprojektowane w celu spełnienia wymagań zaawansowanych badań naukowych i zastosowań ...

Wielofunkcyjne pomiary (MFM/EFM) dla ukierunkowanych badań naukowych

Opis produktu: Mikroskop Sił Atomowych (AFM) to zaawansowane urządzenie przeznaczone do wielofunkcyjnych pomiarów, oferujące niezrównaną wszechstronność i precyzję w obrazowaniu i analizie w nanoskali. Ten najnowocześniejszy AFM integruje szereg trybów pomiaru, w tym Mikroskop Sił Elektrostatycznych ...

« ‹ 1 2 3 4 5 › »