Microscope à force atomique

Modes MFM/KPFM pour la caractérisation de matériaux nanométriques de haute précision

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force à balayage de pointe, à la pointe de la technologie, conçu pour offrir des capacités d'imagerie et de mesure inégalées à l'échelle nanométrique. Grâce à sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois ...

0,1 Hz - 30 Hz Microscope à force atomique 0,04 Nm Microscope de haute précision avec modes multiples

AFM Avancée avec Modes Multiples pour la Caractérisation à l'Échelle Nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la caractérisation à l'échelle nanométrique. Avec un niveau de bruit dans la ...

0.04nm Microscope de force atomique 0.1Hz - 30Hz Microscope AFM pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique précise

Microscope à force atomique pour l'analyse précise des surfaces à l'échelle nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes pour l'analyse de surface au niveau de la résolution atomique. Ce ...

Microscopie de la force atomique potentielle à l'échelle nanométrique Microscopes industriels réglables Haute résolution

Potentiel à l'échelle nanométrique avec microscope à force atomique pour l'imagerie haute résolution Description du produit: L'une des caractéristiques clés de l'AFM est sa portée de balayage impressionnante, mesurant à 100 μm X 100 μm X 10 μm. Cette large portée permet une imagerie et une analyse d...

Microscope AFM à haute stabilité 0,1 Hz - 30 Hz Systèmes AFM pour les matériaux Biologie et électronique d'imagerie

AFM haute stabilité pour l'imagerie en biologie des matériaux et en électronique Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument scientifique de pointe qui offre une imagerie haute résolution et des mesures précises pour un large éventail d'applications en nanotechnologie, ...

Automatisation de l'affichage 3D à haute stabilité AtomEdge Pro: 4096×4096 Scanner 3D à résolution + EFM/KPFM/PFM

Description du produit :Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse de surface de haute précision et la mesure électrique à l'échelle nanométrique. Réputé pour sa polyvalence et ses fonctionnalités avancées, cet AFM offre une gamme complète de fonctionnalit...

AtomEdge Pro: Microscope multi-fonctionnel de la force atomique

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse et la caractérisation de surface de haute précision à l'échelle nanométrique.Cet outil de mesure multifonctionnel intègre plusieurs techniques de microscopie avancées, y compris la microscopi...

Scanner 3D flexible pour les applications électroniques, biomatériaux et de recherche de précision

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées dans la cartographie des propriétés de surface à l'échelle nanométrique. Conçu pour répondre aux exigences des applications industrielles et de ...

Mesure Multifonctionnelle (MFM/EFM) pour des Études Scientifiques Ciblées

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y ...

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