Microscope à force atomique

AFM à haute stabilité avec modes MFM/EFM pour la recherche scientifique

Description du produit:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinant précision, souplesse et facilité d'utilisation, ce modèle ...

AtomExplorer : Microscope à force atomique à résolution sub-nanométrique

Description du produit:Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un instrument très polyvalent et fiable conçu pour fournir des images topographiques précises à l'échelle nanométrique avec une précision et une stabilité exceptionnelles.Conçu pour les chercheurs et les professionnels ...

AtomExplorer AFM: MFM, EFM et KFM intégrés pour l'analyse des matériaux

Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir des performances et une polyvalence exceptionnelles pour un large éventail d'applications d'analyse de surface.Conçu avec une technologie avancée, ce microscope AFM offre des ...

Axe Z à faible bruit pour la caractérisation de matériaux à l'échelle nanométrique de haute précision

Introduction du produit Le microscope de force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro permet de scanner, d'imager et de caractériser des matériaux, des appareils électroniques, des échantillons biologiques,et autres spécimens, et est largement utilisé dans des domaines tels que la science des mat...

Système AFM personnalisable Matériaux scientifiques industriels Microscopes avec une forte évolutivité

Système AFM personnalisable avec une forte évolutivité pour vos recherches Description du produit: Le microscope de la force atomique est un outil de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse de haute précision dans diverses applications scientifiques et industrielles.Avec sa technologie avancée et ...

Balayage 3D 100μm×100μm pour la recherche en science des matériaux à l'échelle nanométrique

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument scientifique de pointe conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une caractérisation précise des surfaces à l'échelle nanométrique. Ce microscope avancé est conçu pour répondre aux exigences des diverses ...

Modes de contact/tapotement pour l'analyse des matériaux subnanométriques à l'échelle nanométrique

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force de balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie et de mesure exceptionnelles à l'échelle nanométrique.Conçu pour la précision et la polyvalence, ce modèle AFM prend en charge une large gamme de fr...

Imagerie 3D à l'échelle nanométrique pour la recherche sur les semi-conducteurs et les matériaux avancés

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument très avancé et polyvalent conçu pour fournir une caractérisation précise des surfaces grâce à de multiples modes de fonctionnement. Ce microscope multifonctionnel intègre une gamme de techniques, notamment la microscopie ...

Axe Z à faible bruit pour la caractérisation de matériaux à l'échelle nanométrique de haute précision

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un système AFM avancé et tout-en-un conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées pour l'imagerie et les mesures à l'échelle nanométrique. Utilisant une méthode de balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ, cet ...

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