原子力顕微鏡

AtomExplorer: R&Dラボに最適な原子間力顕微鏡

製品説明:基本型原子力顕微鏡は先端の機器で高解像度で精密な表面分析を高度なスキャニング能力でできるように設計されていますXYZ3軸全サンプルスキャン方法を使用するこの顕微鏡は,すべての次元で正確な地形マッピングを保証する,サンプルを包括的かつ詳細に検査することができます.この全サンプルスキャン能力は研究者やエンジニアたちに,表面構造を極めて細かく繰り返し分析することを可能にする幅広い科学および産業用用途に最適です基本型原子力顕微鏡の特徴の一つは,その多機能測定能力です. それは,静電力顕微鏡 (EFM) を実行するために装備されています.スキャン...

信頼性の高い表面質感分析:AtomExplorer 基本型AFM

製品の説明: Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、幅広い材料の表面特性評価を実現するために設計された、高度な研究室用AFM装置です。高安定性AFM技術を搭載しており、ナノスケールでの調査において精度、再現性、汎用性を求める研究者や科学者にとって、優れた性能を発揮します。その堅牢な設計と多機能性により、学術研究環境と産業研究環境の両方において不可欠なツールとなっています。このBasic型AFMの際立った特徴の1つは、その多様な動作モードです。これには、タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードが含まれます。これらの動作モードにより、ユーザーはさまざまな条件下で表面...

原子探査機AFMでマスターナノスケール表面特性

製品の説明: 基本型原子間力顕微鏡（AFM）は、高度でありながら使いやすいAFM装置を求める研究室向けに特別に設計された、非常に汎用性の高い信頼性の高い走査型プローブ顕微鏡です。このモデルは、材料表面の特性評価のための包括的な機能を提供し、研究者や科学者がナノスケールで詳細な地形情報と機械的情報を、卓越した精度で取得できるようにします。この基本型AFMの際立った特徴の1つは、そのマルチモード動作機能です。タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードをサポートしており、ユーザーはサンプルタイプと分析したい特定の表面特性に応じて、走査アプローチを調整できます。タップモード...

AtomExplorer: チップとナノ材料のための精密トポグラフィーツール

製品の説明:Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、科学研究および産業界の研究開発用途の多様なニーズに対応するために設計された、多用途で高性能な機器です。この多機能AFMは、静電フォース顕微鏡（EFM）、走査型ケルビン探針フォース顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）などの高度な測定モードを搭載しています。これらの機能により、研究者やエンジニアは、幅広いナノスケール表面分析を実施でき、材料科学、半導体研究、ナノテクノロジー開発に不可欠なツールとなっています。このBasic型AFMの際立った特徴の1つは、最大φ25mmのサンプルに対応できることで、さまざま...

科学研究用高安定性AFM（MFM/EFMモード搭載）

製品の説明: 基本型原子間力顕微鏡（AFM）は、産業界の研究開発環境と実験室の両方で、高度なナノ構造解析のために特別に設計された、多用途で高性能な機器です。精密さ、柔軟性、使いやすさを兼ね備えたこのAFMモデルは、ナノスケールでの詳細な表面特性評価を必要とする研究者やエンジニアに対応し、材料科学、電子工学、生物学など、さまざまな用途に包括的なソリューションを提供します。この基本型AFMの際立った特徴の1つは、タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードなど、複数の動作モードを備えていることです。これらの多様なモードにより、ユーザーは高解像度の地形画像だけでなく、表面特...

AtomExplorer AFM: 材料分析用統合 MFM、EFM & KFM

製品の説明: Basic型原子間力顕微鏡（AFM）は、幅広い表面分析用途に卓越した性能と汎用性を提供するように設計された最先端の機器です。高度な技術で設計されたこのAFM顕微鏡は、サブナノメートル分解能のAFM機能を備えており、研究者やエンジニアが表面の形状と特性を比類のない精度で観察および測定できます。わずか0.04ナノメートルの優れたZ軸ノイズレベルにより、最も微妙な表面の特徴でも正確に検出および分析できるため、ナノテクノロジー、材料科学、半導体研究に不可欠なツールとなっています。 Basic型原子間力顕微鏡の際立った特徴の1つは、その多機能な測定能力です。静電フォース顕微鏡（EFM）、走...

高精度ナノスケール材料特性評価用低ノイズZ軸

製品紹介材料や電子機器生物学的サンプルを 3Dスキャンし画像撮影し特徴付けることができます他の標本材料科学,化学,環境科学,半導体,マイクロ電子,生物医学などで広く使用されています接触を含む複数の動作モードマグネティックフォース顕微鏡などの様々な技術が統合されています.静電力顕微鏡安定性と拡張性が優れている. さらに,この技術によって,機能モジュールは,特定のユーザー要件を満たすために柔軟にカスタマイズすることができます.特定の研究分野に合わせたソリューションを提供し,高効率で多目的の検査プラットフォームを作成します. 設備の性能ポイント仕様サンプルサイズ 25mm直径のサンプル...

カスタマイズ可能なAFMシステム科学産業材料顕微鏡強力なスケーラビリティ

研究に最適な、高いスケーラビリティを備えたカスタマイズ可能なAFMシステム製品説明: 原子間力顕微鏡は、さまざまな科学および産業用途における高精度なイメージングと分析のために設計された最先端のツールです。その高度な技術と優れた性能により、この機器は、ナノテクノロジー、材料科学、半導体研究などの分野で働く研究者やエンジニアに比類のない能力を提供します。原子間力顕微鏡の重要な特徴の1つは、XY方向における優れたノイズレベルであり、0.4 nmという驚異的な評価を受けています。この低いノイズレベルは、特に感度の高いサンプルや小規模構造を扱う場合に、正確で信頼性の高い測定を保証します。半導体の研究...

サブナノメートル材料のナノスケール分析のためのコンタクト/タップモード

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は,ナノスケールでの卓越した画像と測定能力を提供するために設計された高度なスキャン力顕微鏡です.精度と多様性のために設計されたこのAFMモデルは,0.1 Hzから30 Hzまでの幅広いスキャン速度をサポートし,ユーザーは特定のアプリケーションニーズに応じてスキャン速度を調整することができます.詳細な表面分析や迅速サンプル検査を行うかどうかこのツールは最適な性能と信頼性の高いデータ収集を保証します. この原子力顕微鏡の特徴の一つは多モード操作能力です接触モード,タップモード,相画像モード,リフトモード,そして多方向スキャンモード試料の検査方法において比類の...

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