原子力顕微鏡

力変調走査型原子間力顕微鏡高分解能科学顕微鏡 0.04 nm

高解像度の原子力顕微鏡製品説明: 原子力顕微鏡はナノスケールでの高解像度画像と分析のために設計された最先端機器ですこの顕微鏡は,ナノ技術の研究開発において,比類のない性能を提供します.. 原子力顕微鏡の重要な特徴の"つは 0.1 Hz から 30 Hz までの正確な画像を効率的に撮影できる印象的なスキャン速度ですこの幅広い範囲は,ユーザがダイナミックなプロセスや複雑な詳細を極めて明確で正確に捉えるようにします. サンプルサイズに関しては,原子力顕微鏡は 25mm までのサンプルを収納できる多用性と柔軟性があります.この寛大なサンプルサイズ能力は,様々な産業の幅広いアプリケーション...

0.1 Hz ～ 30 Hz 原子間力顕微鏡ナノスケール走査型プローブ顕微鏡

ナノスケール測定のための先端スキャン探査機顕微鏡製品説明: 原子力顕微鏡 (AFM) はナノメートルの解像度で多モード測定能力を提供する最先端のツールです様々な研究や産業用アプリケーションにとって不可欠なツールとなる. 0.04nmの驚くべき解像度で,AFMはナノスケールレベルで高精度画像と表面地形の測定を提供します.この卓越した解像度により研究者や科学者は試料を未曾有の詳細と精度で調査し分析することができます. AFMは,コンタクト,タッピング,非コンタクト,横向き力,力調節モードを含む汎用的なスキャンモードを提供しています.この多機能性により,使用者はAFMを異なる実験要件に適合...

0.04nm 精密なナノスケール表面分析のための原子力顕微鏡

精密なナノスケール表面分析のための原子力顕微鏡製品説明: 原子力顕微鏡 (AFM) は,原子解像度のレベルでの表面分析のための多モード測定能力を提供する最先端機器です.この先進的な顕微鏡は,最大25mmのサンプルを詳細に調べることができます研究者たちに様々な材料や構造に関する貴重な洞察を与えてくれます原子力顕微鏡の重要な特徴の一つは,地形,相,摩擦,横向き力,磁力,静電力画像を含む,その汎用的なイメージングモードです.この幅広い画像処理モードにより,研究対象のサンプルの物理的および化学的特性に関する包括的なデータを収集できます.様々な分野の研究者にとって不可欠なツールです原子力顕微鏡は ...

100μm×100μm ナノスケール材料のための3Dスキャン科学研究

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) はナノスケールで高解像度画像と精密な表面特性を提供するために設計された最先端の科学機器ですこの先端な顕微鏡は,様々な研究や産業用の要求に応えるよう設計されています半導体,材料科学,ナノテクノロジーなどの分野においてAFMは,比類のない多用性と精度を提供しています原子解像度で表面特性を調べることができる. この原子力顕微鏡の特徴の1つは 100 μm * 100 μm * 10 μm の印象的なスキャン範囲で,さまざまなサンプルを収納することができます.このシステムは,直径25mmまでのサンプルに対応します.半導体ウエー...

AtomEdge Pro: 多機能原子間力顕微鏡 – 材料の3Dイメージング

製品説明:原子力顕微鏡 (AFM) は,ナノメートルのスケールで高精度な表面分析と特徴付けのために設計された最先端の機器です.この多機能測定ツールには,いくつかの高度な顕微鏡技術が統合されています電気静止力顕微鏡 (EFM),スキャニングケルヴィン探査機顕微鏡 (KPFM),ピエゾ電気力顕微鏡 (PFM),磁力顕微鏡 (MFM),および力曲線測定を含む.半導体などの分野で働く研究者や技術者にとって不可欠なツールですナノメートルの解像度での表面特性を理解することが重要です. このAFMの特徴の一つは,Z方向での騒音レベルが非常に低く,わずか0.04nmで測定されています.この超低騒音床は,非常に...

アトム・エクスプローラー: サブナノメートルの解像度原子力顕微鏡

製品説明: 基本型原子力顕微鏡 (AFM) は,特殊な精度と安定性をもってナノスケール上の正確な地形画像を提供するために設計された高度に汎用的で信頼性の高い機器です.高性能のスキャン能力を要求する研究者や専門家向けに設計されたこのAFMは,ナノテクノロジーと材料科学の分野において不可欠なツールとなるような,包括的な機能を提供しています. この基本型原子力顕微鏡の特徴の一つは,印象的なスキャン範囲です.この顕微鏡は 2 つの操作モードをサポートします.100 μm * 100 μm * 10 μm の広いスキャニング範囲と,より集中したこの柔軟性によ...

教育と産業研究のための汎用的なAFMソリューション

製品説明: 基本型原子力顕微鏡 (AFM) は,科学研究の厳格な要求を満たすために設計された研究室AFM機器の先進的な部品です.このAFM顕微鏡は,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度,精度汎用性ナノスケールでの詳細な表面分析を必要とする研究者にとって理想的な選択です.基本型AFMは,幅広い用途における材料の特性に関する包括的な洞察を提供するように設計されています.. このAFMの科学研究における特徴の一つはわずか0.04nmの Z軸の例外的なノイズレベルですこの超低騒音レベルは,非常に正確な表面地形測定...

AtomExplorer: 高度な磁気と電気測定のためのカスタマイズ可能なAFM

製品説明: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applications先端技術で設計されたこのAFMモデルでは優れた画像処理能力がありユーザがナノメートルのスケールで表面構造を驚くほど明確で正確に調べることができます堅牢なデザインにより...

AtomExplorer: 高精度スキャン探査機顕微鏡 (SPM/AFM)

製品説明: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsこの高度な機器は,XYZ3軸全サンプルスキャン方法を採用し,ユーザは例外的な精度と詳細でサンプル表面を細かく分析することができます.材料科学...

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