میکروسکوپ نیروی اتمی
میکروسکوپ اسکن نیروی نوسان میکروسکوپ اتمی با وضوح بالا میکروسکوپ علمی 0.04 nm
میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح بالا توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی ابزار پیشرفته ای است که برای تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با وضوح بالا در سطح نانو طراحی شده است.این میکروسکوپ عملکرد بی نظیر را در تحقیقات و توسعه نانو تکنولوژی ارائه می دهد. یکی از ویژگی های اصلی میکروسکوپ نیروی اتمی، دامنه سرعت ...
میکروسکوپ کاوشگر اسکن نانومقیاس 0.1 هرتز - 30 هرتز میکروسکوپ نیروی اتمی
میکروسکوپ پروب اسکن پیشرفته برای اندازهگیریهای نانومقیاس توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که قابلیتهای اندازهگیری چند حالته را با وضوح نانومتری ارائه میدهد و آن را به یک ابزار ضروری برای کاربردهای مختلف تحقیقاتی و صنعتی تبدیل میکند. با وضوح قابل توجه 0.04 نانومتر، ...
0میکروسکوپ نیروی اتمی برای تجزیه و تحلیل دقیق سطح در مقیاس نانو
میکروسکوپ نیروی اتمی برای تجزیه و تحلیل دقیق سطح در مقیاس نانو توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که قابلیت اندازه گیری چند حالت را برای تجزیه و تحلیل سطح در سطح وضوح اتمی ارائه می دهد.این میکروسکوپ پیشرفته اجازه می دهد تا نمونه هایی با اندازه تا 25 میلی متر را به طور دقی...
100μm×100μm اسکن سه بعدی برای مواد نانو
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار علمی پیشرفته است که برای ارائه تصویربرداری با وضوح بالا و توصیف دقیق سطح در مقیاس نانو طراحی شده است.این میکروسکوپ پیشرفته برای پاسخگویی به الزامات سختگیرانه تحقیقات مختلف و کاربردهای صنعتی طراحی شده است، به ویژه در زمینه هایی مانند نیمه هادی، علوم م...
AtomEdge Pro: میکروسکوپ نیروی اتمی چند منظوره – تصویربرداری سه بعدی برای مواد
توضیحات محصول:میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک ابزار پیشرفته است که برای تجزیه و تحلیل و توصیف سطح با دقت بالا در مقیاس نانومتر طراحی شده است.این ابزار اندازه گیری چند منظوره چندین تکنیک پیشرفته میکروسکوپی را ادغام می کند، از جمله میکروسکوپی نیروی الکترواستاتیک (EFM) ، اسکن میکروسکوپی پروب کلوین (KPFM) ...
AtomExplorer: میکروسکوپ نیروی اتمی با وضوح کمتر از نانومتر
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک ابزار بسیار متنوع و قابل اعتماد است که برای ارائه تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو با دقت و پایداری استثنایی طراحی شده است. این AFM که برای محققان و متخصصانی که به قابلیتهای اسکن با کارایی بالا نیاز دارند، مهندسی شده است، مجموعهای جامع ا...
راه حل های همه کاره AFM برای آموزش و تحقیقات صنعتی
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک تجهیزات پیشرفته AFM آزمایشگاهی است که برای پاسخگویی به نیازهای دقیق تحقیقات علمی طراحی شده است. این میکروسکوپ AFM دقت، تطبیق پذیری و قابلیت اطمینان را با هم ترکیب می کند و آن را به انتخابی ایده آل برای محققانی تبدیل می کند که به تجزیه و تحلیل ...
AtomExplorer: یک AFM قابل تنظیم برای اندازهگیریهای پیشرفته مغناطیسی و الکتریکی
توضیحات محصول: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applications. با تکنولوژی پیشرفته طراحی شدهاین مدل AFM قابلیت های تصویربرداری استثنایی را ار...
AtomExplorer: میکروسکوپ سنجه اسکن با دقت بالا (SPM/AFM)
توضیحات محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) نوع پایه یک میکروسکوپ نانومقیاس پیشرفته است که برای ارائه تصویربرداری با دقت بالا و قابلیتهای اندازهگیری چند منظوره برای طیف گستردهای از کاربردهای علمی و صنعتی طراحی شده است. این ابزار پیشرفته از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ استفاده میکند و به کاربرا...