Atomik kuvvet mikroskobu

Kuvvet Modülasyonu Tarama Atomik Mikroskop Yüksek çözünürlüklü Bilim Mikroskobu 0.04 nm

Yüksek çözünürlüklü kuvvet modülasyonu tarama atomik kuvvet mikroskobu Ürün Tanımı: Atomik Kuvvet Mikroskopu, yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve analiz için tasarlanmış en gelişmiş bir enstrüman.Bu mikroskop nanoteknoloji araştırma ve geliştirmede eşsiz bir performans sunuyor.. Atomik Kuvvet ...

0,1 Hz - 30 Hz Atomik Kuvvet Mikroskobu Nano Ölçekli Taramalı Prob Mikroskopları

Nanoboyut Ölçümleri için Gelişmiş Taramalı Prob Mikroskobu Ürün Açıklaması: Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre çözünürlüğe sahip çok modlu ölçüm yetenekleri sunan, çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamalar için vazgeçilmez bir araçtır. 0,04 nm'lik olağanüstü bir çözünürlükle AFM, nanometre ...

0.04 nm Atomik Kuvvet Mikroskobu

Atomik Kuvvet Mikroskopu, Nanoscale Yüzey Analizleri için Ürün Tanımı: Atomik Kuvvet Mikroskopu (AFM), atomik çözünürlük düzeyinde yüzey analizi için çok modlu ölçüm yetenekleri sunan en gelişmiş bir enstrüman.Bu gelişmiş mikroskop, ölçüsü 25 mm'ye kadar olan numunelerin ayrıntılı bir şekilde ...

100 μm×100 μm Nano Ölçekli Malzeme Bilimi Araştırmaları için 3D Tarama

Ürün Açıklaması:Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nano ölçekte yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve hassas yüzey karakterizasyonu sağlamak için tasarlanmış son teknoloji ürünü bir bilimsel araçtır. Bu gelişmiş mikroskop, özellikle yarı iletkenler, malzeme bilimi ve nanoteknoloji gibi alanlardaki çeşitli ...

AtomEdge Pro: Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskobu – Malzemeler için 3D Görüntüleme

Ürün Açıklaması: Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre ölçeğinde yüksek hassasiyetli yüzey analizi ve karakterizasyonu için tasarlanmış, son teknoloji bir cihazdır. Bu çok işlevli ölçüm aracı, Elektrostatik Kuvvet Mikroskobisi (EFM), Taramalı Kelvin Prob Mikroskobisi (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet ...

AtomExplorer: Sub-Nanometre Çözümlü Atomik Kuvvet Mikroskobu

Ürün Açıklaması: Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), olağanüstü doğruluk ve kararlılıkla hassas nano ölçekli topografi görüntüleme sağlamak üzere tasarlanmış, son derece çok yönlü ve güvenilir bir cihazdır. Yüksek performanslı tarama yetenekleri talep eden araştırmacılar ve profesyoneller için ...

Eğitim ve Endüstriyel Araştırma için Çok Yönlü AFM Çözümleri

Ürün Tanımı: Temel Tipi Atomik Kuvvet Mikroskopu (AFM), bilimsel araştırmanın katı taleplerini karşılamak için tasarlanmış bir laboratuvar AFM ekipmanının gelişmiş bir parçasıdır.Çeşitlilik, ve güvenilirliği sayesinde, nano ölçekli ayrıntılı yüzey analizi gerektiren araştırmacılar için ideal bir se...

AtomExplorer: Gelişmiş Manyetik ve Elektriksel Ölçümler için Özelleştirilebilir AFM

Ürün Tanımı: The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsGelişmiş teknolojiyle tasarlanmış.Bu AFM modeli, kullanıcıların nanometre ölçe...

AtomExplorer: Yüksek Hassasiyetli Taramalı Prob Mikroskobu (SPM/AFM)

Ürün Açıklaması: Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu, çok çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalar için yüksek hassasiyetli görüntüleme ve çok işlevli ölçüm yetenekleri sağlamak üzere tasarlanmış, son teknoloji ürünü bir nano ölçekli mikroskoptur. Bu gelişmiş cihaz, kullanıcıların numune y...

« ‹ 1 2 3 4 5 › »