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Microscope à force atomique

Qualité Microscope atomique à modulation de force à haute résolution Microscope scientifique 0,04 nm usine

Microscope atomique à modulation de force à haute résolution Microscope scientifique 0,04 nm

Microscope à force atomique à balayage par modulation de force avec haute résolution Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution au niveau nanométrique. Grâce à ses capacités avancées, ce microscope offre ...

Qualité 0,1 Hz - microscopes à sonde à balayage à l'échelle nanométrique de microscope à force atomique de 30 Hz usine

0,1 Hz - microscopes à sonde à balayage à l'échelle nanométrique de microscope à force atomique de 30 Hz

Microscope à sonde à balayage avancé pour les mesures à l'échelle nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes avec une résolution nanométrique, ce qui en fait un instrument essentiel pour diverses ...

Qualité 0Microscope de force atomique de 0,04 nm pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique précise usine

0Microscope de force atomique de 0,04 nm pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique précise

Microscope de force atomique pour l'analyse de surface à l'échelle nanométrique précise Description du produit: Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe qui offre des capacités de mesure en plusieurs modes pour l'analyse de surface au niveau de la résolution atomique.Ce ...

Qualité Balayage 3D 100 μm×100 μm pour la recherche en science des matériaux à l'échelle nanométrique usine

Balayage 3D 100 μm×100 μm pour la recherche en science des matériaux à l'échelle nanométrique

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument scientifique de pointe conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une caractérisation précise des surfaces à l'échelle nanométrique. Ce microscope avancé est conçu pour répondre aux exigences des diverses ...

Qualité AtomEdge Pro: Microscope multi-fonctionnel de la force atomique usine

AtomEdge Pro: Microscope multi-fonctionnel de la force atomique

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument de pointe conçu pour l'analyse et la caractérisation de surface de haute précision à l'échelle nanométrique.Cet outil de mesure multifonctionnel intègre plusieurs techniques de microscopie avancées, y compris la microscopi...

Qualité AtomExplorer : Microscope à force atomique à résolution sub-nanométrique usine

AtomExplorer : Microscope à force atomique à résolution sub-nanométrique

Description du produit: Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un instrument très polyvalent et fiable conçu pour fournir des images topographiques précises à l'échelle nanométrique avec une précision et une stabilité exceptionnelles.Conçu pour les chercheurs et les professionnels ...

Qualité Solutions AFM polyvalentes pour l'enseignement et la recherche industrielle usine

Solutions AFM polyvalentes pour l'enseignement et la recherche industrielle

Description du produit: Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un équipement de laboratoire de pointe conçu pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique.la polyvalenceAvec ses performances supérieures et ses capacités multifonctionnelles, il est le meilleur ...

Qualité AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées usine

AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un instrument polyvalent et performant conçu pour fournir une imagerie topographique à l'échelle nanométrique précise pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles. Conçu avec une technologie de ...

Qualité AtomExplorer: microscope à sonde à balayage de haute précision (SPM/AFM) usine

AtomExplorer: microscope à sonde à balayage de haute précision (SPM/AFM)

Description du produit: The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsCet instrument avancé utilise une méthode de ...

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