Microscope à force atomique

Microscope atomique à modulation de force à haute résolution Microscope scientifique 0,04 Nm

Microscope à force atomique à balayage par modulation de force avec haute résolution Description du produit : Le microscope à force atomique est un instrument de pointe conçu pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution au niveau nanométrique. Grâce à ses capacités avancées, ce microscope offre ...

0.1Hz - 30Hz Microscope de force atomique Microscopes de sonde à balayage à l'échelle nanométrique

Microscope à sonde à balayage avancé pour les mesures à l'échelle nanométrique Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe qui offre des capacités de mesure multi-modes avec une résolution nanométrique, ce qui en fait un instrument essentiel pour diverses ...

AtomExplorer: microscope à sonde à balayage de haute précision (SPM/AFM)

Description du produit :Le microscope à force atomique de type Basic est un microscope à l'échelle nanométrique de pointe conçu pour fournir une imagerie de haute précision et des capacités de mesure multifonctionnelles pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Cet ...

AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées

Description du produit :Le microscope à force atomique (AFM) de type basique est un instrument polyvalent et hautes performances conçu pour fournir une imagerie topographique précise à l'échelle nanométrique pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles. Conçu avec une ...

Solutions AFM polyvalentes pour l'enseignement et la recherche industrielle

Description du produit:Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un équipement de laboratoire de pointe conçu pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique.la polyvalenceAvec ses performances supérieures et ses capacités multifonctionnelles, il est le meilleur ...

AtomExplorer: le microscope de force atomique idéal pour les laboratoires de R&D

Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic est un instrument de pointe conçu pour fournir une analyse de surface précise et haute résolution grâce à des capacités de balayage avancées.Utilisation d'une méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, ce ...

Analyse fiable de la texture de surface : AFM de type AtomExplorer Basic

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un équipement AFM de laboratoire avancé conçu pour fournir une caractérisation précise et fiable des surfaces sur une large gamme de matériaux. Conçu avec la technologie AFM à haute stabilité, cet instrument offre des ...

Caractérisation de surface à l'échelle nanométrique avec AtomExplorer AFM

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type Basic est un microscope à sonde à balayage très polyvalent et fiable, conçu spécifiquement pour les laboratoires recherchant un équipement AFM avancé mais facile à utiliser. Ce modèle offre des capacités complètes pour la caract...

AtomExplorer: outil de topographie de précision pour puces et nanomatériaux

Description du produit:Le microscope de force atomique de type de base (AFM) est un instrument polyvalent et performant conçu pour répondre aux divers besoins de la recherche scientifique et des applications industrielles de R&D.Cet AFM multifonctionnel est équipé de modes de mesure avancés, y ...

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