Anpassungsfähiges AFM-System Wissenschaftliche industrielle Materialien Mikroskope mit hoher Skalierbarkeit

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop ist ein hochmodernes Werkzeug, das für präzise Bildgebung und Analyse in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen entwickelt wurde.Mit seiner fortschrittlichen Technologie und überlegenen LeistungDieses Instrument bietet Forschern und Ingenieuren, die in Bereichen wie Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Halbleiterforschung arbeiten, unvergleichliche Möglichkeiten.

Einer der wichtigsten Merkmale des Atomkraftmikroskops ist sein außergewöhnliches Geräuschniveau in der XY-Richtung, das auf beeindruckende 0,4 Nm geschätzt wird.Dieser geringe Geräuschpegel sorgt für genaue und zuverlässige Messungen, vor allem bei der Arbeit mit sensiblen Proben oder kleinschaligen Strukturen, ob Sie Forschungen über Halbleiter oder die Eigenschaften von fortschrittlichen Materialien durchführen,Das genaue Geräuschniveau der XY-Richtung dieses Mikroskops wird Ihnen die nötige Sicherheit und Genauigkeit bieten..

Zusätzlich zu seiner überlegenen Geräuschleistung bietet das Atomic Force Microscope einen großzügigen Scanning-Bereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm.Dieser große Scanbereich ermöglicht es Ihnen, detaillierte Bilder und Daten aus einer Vielzahl von Stichprobengrößen und Formen zu erfassen, so dass es ein ideales Werkzeug für die Untersuchung einer Vielzahl von Materialien und Strukturen ist.Das vielseitige Scanning-Bereich dieses Mikroskops sorgt dafür, dass Sie genaue und umfassende Ergebnisse erzielen können.

Das Atomkraftmikroskop ist auch mit fortschrittlichen Funktionen für mehrmodische Messungen ausgestattet, die es Ihnen ermöglichen, eine Vielzahl von Bildgebungs- und Analysetechniken problemlos durchzuführen.Ob Sie Topographie-Mapping durchführen müssen, Kraftspektroskopie oder andere spezielle Messungen, bietet dieses Mikroskop die Flexibilität und Leistung, die Sie benötigen, um Ihre Forschungsziele zu erreichen.Mit seinen vielfältigen Modi und vielseitigen FähigkeitenDas Atomkraftmikroskop ist ein wertvolles Werkzeug für Forscher und Ingenieure, die in verschiedenen Bereichen arbeiten.

Wenn es um die Kompatibilität der Probengröße geht, bietet das Atomic Force Microscope mit einer Probengröße von 25 mm viel Platz.von kleinen Strukturen zu größeren Exemplaren, was es zu einem vielseitigen Werkzeug für verschiedene Forschungsanwendungen macht.Die große Stichprobengröße dieses Mikroskops bietet Ihnen die Flexibilität und Bequemlichkeit, Ihren Forschungsbedürfnissen gerecht zu werden..

Ein weiteres wichtiges Merkmal des Atomkraftmikroskops ist seine ausgezeichnete Linearität, mit einer Nichtlinearität von 0,02% in der XY-Richtung und 0,08% in der Z-Richtung.Diese hohe Linearität stellt sicher, dass Ihre Messungen genau und zuverlässig sind, auch wenn Sie mit komplexen oder anspruchsvollen Proben arbeiten. Ob Sie Oberflächenprofile analysieren, Materialeigenschaften messen oder Kraft-Distanzkürben durchführen,Die außergewöhnliche Linearität dieses Mikroskops garantiert präzise und konsistente Ergebnisse für eine Vielzahl von Anwendungen..

Schließlich verfügt das Atomkraftmikroskop über einen geringen Geräuschpegel in der Z-Richtung von nur 0,04 Nm.Dieser minimale Geräuschpegel ermöglicht es Ihnen, detaillierte Bilder und Daten mit hoher Auflösung und Klarheit zu erfassen, insbesondere bei der Arbeit mit Proben, die präzise vertikale Messungen erfordern.Das geringe Geräuschniveau in Z-Richtung dieses Mikroskops sorgt dafür, dass Sie mit Zuversicht genaue und zuverlässige Ergebnisse erzielen können.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop
• Geräuschpegel in der XY-Richtung: 0,4 Nm
• Scanning-Methode: XYZ Dreiachsige Vollprobenscanning
• Nichtlinearität: 0,02% in der Richtung XY und 0,08% in der Richtung Z
• Messbereich: 100 μm X 100 μm x 10 μm
• Geräuschpegel in der Z-Richtung: 0,04 Nm

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Atomic Force Microscope von Truth Instruments, Modell AtomEdge Pro, ist ein hochmodernes Instrument, das für präzise Bildgebung und Analyse auf Nanoskala entwickelt wurde.Diese fortschrittliche AFM bietet unvergleichliche Fähigkeiten für eine breite Palette von Anwendungen in verschiedenen Branchen..

Eine der wichtigsten Eigenschaften des AtomEdge Pro ist seine außergewöhnliche Scanrate, die von 0,1 bis 30 Hz reicht.Sie ist daher ideal für die Durchführung von Nanomonitoren in Forschungslabors geeignet., akademische Einrichtungen und industrielle FuE-Abteilungen.

Die Nichtlinearität des AtomEdge Pro ist bemerkenswert niedrig, bei 0,02% in der XY-Richtung und 0,08% in der Z-Richtung.entscheidend für Anwendungen, die eine atomare Auflösung erfordern, wie z. B. Oberflächentopografiestudien, Materialcharakterisierung und biologische Bildgebung.

Mit einem Scanningbereich von 100 μm x 100 μm x 10 μm und der dreiachsigen XYZ-Full-Sample-Scanning-Methode bietet der AtomEdge Pro Vielseitigkeit bei der Probenanalyse.dünne Folien, oder biologische Proben, bietet dieses AFM detaillierte Einblicke in die Oberflächeneigenschaften mit außergewöhnlicher Auflösung.

Darüber hinaus beträgt der Geräuschpegel in der Z-Richtung nur 0,04 Nm, was ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis und eine zuverlässige Datenerfassung gewährleistet.Dies macht den AtomEdge Pro für anspruchsvolle Anwendungen geeignet, die präzise Kraftmessungen und genaue topographische Kartierung auf atomarer Skala erfordern.

Abschließend ist das AtomEdge Pro Atomic Force Microscope von Truth Instruments ein mächtiges Werkzeug für Forscher, Wissenschaftler und Ingenieure, die sich mit Nanotechnologie, Materialwissenschaften,und biologische Forschung- seine fortschrittlichen Fähigkeiten, einschließlich Atom-Auflösungs-Bildgebung und Nanoskala-Analyse,Es wird zum Instrument der Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen und Szenarien gemacht, bei denen hohe Präzision und Auflösung unerlässlich sind..