Konfigurowalny system AFM dla materiałów naukowych i przemysłowych, mikroskopy o dużej skalowalności

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych to najnowocześniejsze narzędzie przeznaczone do precyzyjnego obrazowania i analizy w różnych zastosowaniach naukowych i przemysłowych. Dzięki zaawansowanej technologii i doskonałej wydajności, to urządzenie oferuje niezrównane możliwości dla naukowców i inżynierów pracujących w takich dziedzinach jak nanotechnologia, nauka o materiałach i badania nad półprzewodnikami.

Jedną z kluczowych cech mikroskopu sił atomowych jest jego wyjątkowy poziom szumów w kierunku XY, który wynosi imponujące 0,4 Nm. Ten niski poziom szumów zapewnia dokładne i niezawodne pomiary, szczególnie podczas pracy z wrażliwymi próbkami lub strukturami o małej skali. Niezależnie od tego, czy prowadzisz badania nad półprzewodnikami, czy badasz właściwości zaawansowanych materiałów, precyzyjny poziom szumów w kierunku XY tego mikroskopu zapewni Ci pewność i dokładność, której potrzebujesz.

Oprócz doskonałej wydajności w zakresie szumów, mikroskop sił atomowych oferuje duży zakres skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm. Ten szeroki zakres skanowania pozwala na przechwytywanie szczegółowych obrazów i danych z różnych rozmiarów i kształtów próbek, co czyni go idealnym narzędziem do badania szerokiej gamy materiałów i struktur. Niezależnie od tego, czy analizujesz nanostruktury, czy prowadzisz pomiary chropowatości powierzchni, wszechstronny zakres skanowania tego mikroskopu zapewnia uzyskanie dokładnych i kompleksowych wyników.

Mikroskop sił atomowych jest również wyposażony w zaawansowane funkcje do pomiarów wielomodowych, co pozwala na łatwe wykonywanie różnych technik obrazowania i analizy. Niezależnie od tego, czy chcesz przeprowadzić mapowanie topografii, spektroskopię sił, czy inne specjalistyczne pomiary, ten mikroskop oferuje elastyczność i wydajność potrzebną do osiągnięcia celów badawczych. Dzięki wielu trybom i wszechstronnym możliwościom, mikroskop sił atomowych jest cennym narzędziem dla naukowców i inżynierów pracujących w różnych dziedzinach.

Jeśli chodzi o kompatybilność z rozmiarem próbek, mikroskop sił atomowych oferuje dużą przestrzeń z rozmiarem próbki 25 mm. Ten duży rozmiar próbki pozwala na pracę z szeroką gamą próbek, od struktur o małej skali po większe okazy, co czyni go wszechstronnym narzędziem do różnych zastosowań badawczych. Niezależnie od tego, czy badasz próbki biologiczne, cienkie warstwy, czy urządzenia półprzewodnikowe, duży rozmiar próbki tego mikroskopu zapewnia elastyczność i wygodę, aby dostosować się do potrzeb badawczych.

Kolejną ważną cechą mikroskopu sił atomowych jest jego doskonała liniowość, z ocenami nieliniowości 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z. Ten wysoki poziom liniowości zapewnia, że pomiary są dokładne i niezawodne, nawet podczas pracy ze złożonymi lub wymagającymi próbkami. Niezależnie od tego, czy analizujesz profile powierzchni, mierzysz właściwości materiałów, czy prowadzisz krzywe siła-odległość, wyjątkowa liniowość tego mikroskopu gwarantuje precyzyjne i spójne wyniki w szerokim zakresie zastosowań.

Wreszcie, mikroskop sił atomowych charakteryzuje się niskim poziomem szumów w kierunku Z, wynoszącym zaledwie 0,04 Nm. Ten minimalny poziom szumów pozwala na przechwytywanie szczegółowych obrazów i danych z wysoką rozdzielczością i przejrzystością, szczególnie podczas pracy z próbkami, które wymagają precyzyjnych pomiarów pionowych. Niezależnie od tego, czy badasz chropowatość powierzchni, grubość filmu, czy analizujesz cienkie warstwy, niski poziom szumów w kierunku Z tego mikroskopu zapewnia uzyskanie dokładnych i niezawodnych wyników z pewnością.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop sił atomowych
• Poziom szumów w kierunku XY: 0,4 Nm
• Metoda skanowania: XYZ, trójosiowe skanowanie całej próbki
• Nieliniowość: 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z
• Zakres skanowania: 100 μm X100 μm x 10 μm
• Poziom szumów w kierunku Z: 0,04 Nm

Parametry techniczne:

Zastosowania:

Mikroskop sił atomowych Truth Instruments, model AtomEdge Pro, to najnowocześniejsze urządzenie przeznaczone do precyzyjnego obrazowania i analizy na poziomie nanometrycznym. Pochodzący z Chin, ten zaawansowany AFM oferuje niezrównane możliwości dla szerokiego zakresu zastosowań w różnych branżach.

Jedną z kluczowych cech AtomEdge Pro jest jego wyjątkowa szybkość skanowania, wynosząca od 0,1 do 30 Hz. Pozwala to użytkownikom na przechwytywanie szczegółowych obrazów z rozdzielczością atomową, co czyni go idealnym do przeprowadzania analizy w nanoskali w laboratoriach badawczych, instytucjach akademickich i działach badawczo-rozwojowych.

Nieliniowość AtomEdge Pro jest niezwykle niska, wynosząc 0,02% w kierunku XY i 0,08% w kierunku Z. Zapewnia to precyzyjne i dokładne obrazowanie, kluczowe dla zastosowań wymagających rozdzielczości atomowej, takich jak badania topografii powierzchni, charakterystyka materiałów i obrazowanie biologiczne.

Wyposażony w zakres skanowania 100 μm x 100 μm x 10 μm i metodę skanowania całej próbki XYZ, trójosiową, AtomEdge Pro oferuje wszechstronność w analizie próbek. Niezależnie od tego, czy badane są nanostruktury, cienkie warstwy czy próbki biologiczne, ten AFM zapewnia szczegółowy wgląd we właściwości powierzchni z wyjątkową rozdzielczością.

Ponadto poziom szumów w kierunku Z wynosi zaledwie 0,04 Nm, co gwarantuje wysoki stosunek sygnału do szumu i niezawodne pozyskiwanie danych. To sprawia, że AtomEdge Pro nadaje się do wymagających zastosowań, które wymagają precyzyjnych pomiarów siły i dokładnego mapowania topograficznego w skali atomowej.

Podsumowując, mikroskop sił atomowych Truth Instruments AtomEdge Pro to potężne narzędzie dla naukowców, badaczy i inżynierów zajmujących się nanotechnologią, nauką o materiałach i badaniami biologicznymi. Jego zaawansowane możliwości, w tym obrazowanie w rozdzielczości atomowej i analiza w nanoskali, czynią go instrumentem z wyboru dla szerokiego zakresu zastosowań i scenariuszy, w których niezbędna jest wysoka precyzja i rozdzielczość.