
سیستم AFM قابل تنظیم مواد صنعتی علمی میکروسکوپ با مقیاس پذیری قوی
سیستم AFM قابل تنظیم,مواد علمی میکروسکوپ,مواد صنعتی میکروسکوپ
,Scientific Materials Microscopes
,Industrial Materials Microscopes
ویژگی های اساسی
املاک تجاری
سیستم AFM قابل تنظیم با مقیاس پذیری قوی برای تحقیقات شما
توضیحات محصول:
میکروسکوپ نیروی اتمی ابزاری پیشرفته است که برای تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با دقت بالا در کاربردهای علمی و صنعتی مختلف طراحی شده است. این ابزار با فناوری پیشرفته و عملکرد برتر خود، قابلیت های بی نظیری را برای محققان و مهندسانی که در زمینه هایی مانند نانوتکنولوژی، علم مواد و تحقیقات نیمه هادی کار می کنند، ارائه می دهد.
یکی از ویژگی های کلیدی میکروسکوپ نیروی اتمی، سطح نویز استثنایی آن در جهت XY است که با 0.4 نانومتر رتبه بندی شده است. این سطح نویز کم، اندازه گیری های دقیق و قابل اعتمادی را تضمین می کند، به خصوص هنگام کار با نمونه های حساس یا ساختارهای کوچک. چه در حال انجام تحقیقات روی نیمه هادی ها باشید و چه در حال بررسی خواص مواد پیشرفته، سطح نویز دقیق جهت XY این میکروسکوپ، اطمینان و دقت مورد نیاز شما را فراهم می کند.
علاوه بر عملکرد نویز برتر، میکروسکوپ نیروی اتمی محدوده اسکن سخاوتمندانه 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر را ارائه می دهد. این محدوده اسکن وسیع به شما امکان می دهد تصاویر و داده های دقیقی را از انواع اندازه ها و شکل های نمونه ها ثبت کنید و آن را به ابزاری ایده آل برای مطالعه طیف گسترده ای از مواد و ساختارها تبدیل می کند. چه در حال تجزیه و تحلیل نانوساختارها باشید و چه در حال انجام اندازه گیری های زبری سطح، محدوده اسکن همه کاره این میکروسکوپ تضمین می کند که می توانید به نتایج دقیق و جامعی دست یابید.
میکروسکوپ نیروی اتمی همچنین به ویژگی های پیشرفته برای اندازه گیری چند حالته مجهز شده است که به شما امکان می دهد انواع تکنیک های تصویربرداری و تجزیه و تحلیل را به راحتی انجام دهید. چه نیاز به انجام نقشه برداری توپوگرافی، طیف سنجی نیرو یا سایر اندازه گیری های تخصصی داشته باشید، این میکروسکوپ انعطاف پذیری و عملکرد مورد نیاز شما را برای دستیابی به اهداف تحقیقاتی خود ارائه می دهد. میکروسکوپ نیروی اتمی با حالت های متعدد و قابلیت های همه کاره خود، ابزاری ارزشمند برای محققان و مهندسانی است که در زمینه های مختلف کار می کنند.
وقتی صحبت از سازگاری اندازه نمونه می شود، میکروسکوپ نیروی اتمی فضای کافی را با اندازه نمونه 25 میلی متر ارائه می دهد. این اندازه نمونه سخاوتمندانه به شما امکان می دهد با طیف گسترده ای از نمونه ها، از ساختارهای کوچک گرفته تا نمونه های بزرگتر، کار کنید و آن را به ابزاری همه کاره برای کاربردهای تحقیقاتی مختلف تبدیل می کند. چه در حال مطالعه نمونه های بیولوژیکی، لایه های نازک یا دستگاه های نیمه هادی باشید، اندازه نمونه کافی این میکروسکوپ، انعطاف پذیری و راحتی را برای پاسخگویی به نیازهای تحقیقاتی شما فراهم می کند.
یکی دیگر از ویژگی های مهم میکروسکوپ نیروی اتمی، عملکرد خطی عالی آن است که دارای رتبه های غیر خطی 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z است. این سطح بالای خطی بودن تضمین می کند که اندازه گیری های شما دقیق و قابل اعتماد هستند، حتی هنگام کار با نمونه های پیچیده یا چالش برانگیز. چه در حال تجزیه و تحلیل پروفیل های سطح، اندازه گیری خواص مواد یا انجام منحنی های نیرو-فاصله باشید، خطی بودن استثنایی این میکروسکوپ نتایج دقیق و ثابتی را در طیف گسترده ای از کاربردها تضمین می کند.
در نهایت، میکروسکوپ نیروی اتمی دارای سطح نویز کم در جهت Z است که تنها 0.04 نانومتر رتبه بندی شده است. این سطح نویز حداقل به شما امکان می دهد تصاویر و داده های دقیقی را با وضوح و شفافیت بالا ثبت کنید، به ویژه هنگام کار با نمونه هایی که نیاز به اندازه گیری های عمودی دقیق دارند. چه در حال بررسی زبری سطح، مطالعه ضخامت فیلم یا تجزیه و تحلیل لایه های نازک باشید، سطح نویز کم جهت Z این میکروسکوپ تضمین می کند که می توانید به نتایج دقیق و قابل اعتمادی با اطمینان دست یابید.
ویژگی ها:
- نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی
- سطح نویز در جهت XY: 0.4 نانومتر
- روش اسکن: اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ
- غیر خطی بودن: 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z
- محدوده اسکن: 100 میکرومتر X100 میکرومتر x 10 میکرومتر
- سطح نویز در جهت Z: 0.04 نانومتر
پارامترهای فنی:
سرعت اسکن | 0.1-30 هرتز |
غیر خطی بودن | 0.02٪ در جهت XY و 0.08٪ در جهت Z |
محدوده اسکن | 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر |
سطح نویز در جهت XY | 0.4 نانومتر |
سطح نویز در جهت Z | 0.04 نانومتر |
اندازه نمونه | 25 میلی متر |
روش اسکن | اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ |
کاربردها:
میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments، مدل AtomEdge Pro، ابزاری پیشرفته است که برای تصویربرداری و تجزیه و تحلیل با دقت بالا در مقیاس نانو طراحی شده است. این AFM پیشرفته با منشاء خود در چین، قابلیت های بی نظیری را برای طیف گسترده ای از کاربردها در صنایع مختلف ارائه می دهد.
یکی از ویژگی های کلیدی AtomEdge Pro، سرعت اسکن استثنایی آن است که از 0.1 تا 30 هرتز متغیر است. این به کاربران اجازه می دهد تا تصاویر دقیقی را با وضوح اتمی ثبت کنند و آن را برای انجام تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو در آزمایشگاه های تحقیقاتی، موسسات دانشگاهی و بخش های تحقیق و توسعه صنعتی ایده آل می کند.
غیر خطی بودن AtomEdge Pro به طور قابل توجهی کم است و در جهت XY 0.02٪ و در جهت Z 0.08٪ است. این امر تصویربرداری دقیق و دقیقی را تضمین می کند که برای کاربردهایی که به وضوح اتمی نیاز دارند، مانند مطالعات توپوگرافی سطح، مشخصه یابی مواد و تصویربرداری بیولوژیکی، بسیار مهم است.
AtomEdge Pro که به محدوده اسکن 100 میکرومتر x 100 میکرومتر x 10 میکرومتر و روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ مجهز شده است، تطبیق پذیری را در تجزیه و تحلیل نمونه ارائه می دهد. این AFM چه در حال بررسی نانوساختارها، لایه های نازک یا نمونه های بیولوژیکی باشد، بینش های دقیقی را در مورد خواص سطح با وضوح استثنایی ارائه می دهد.
علاوه بر این، سطح نویز در جهت Z به اندازه 0.04 نانومتر است که نسبت سیگنال به نویز بالا و جمع آوری داده های قابل اعتماد را تضمین می کند. این امر AtomEdge Pro را برای کاربردهای پر تقاضایی که نیاز به اندازه گیری های دقیق نیرو و نقشه برداری توپوگرافی دقیق در مقیاس اتمی دارند، مناسب می کند.
در نتیجه، میکروسکوپ نیروی اتمی Truth Instruments AtomEdge Pro ابزاری قدرتمند برای محققان، دانشمندان و مهندسانی است که در زمینه نانوتکنولوژی، علم مواد و تحقیقات بیولوژیکی فعالیت می کنند. قابلیت های پیشرفته آن، از جمله تصویربرداری با وضوح اتمی و تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو، آن را به ابزار انتخابی برای طیف گسترده ای از کاربردها و سناریوها تبدیل می کند که در آن دقت و وضوح بالا ضروری است.