Özelleştirilebilir AFM Sistemi Bilimsel Endüstriyel Malzemeler Yüksek Ölçeklenebilirlikle Mikroskoplar

Ürün Açıklaması:

Atomik Kuvvet Mikroskobu, çeşitli bilimsel ve endüstriyel uygulamalarda yüksek hassasiyetli görüntüleme ve analiz için tasarlanmış, son teknoloji bir araçtır. Gelişmiş teknolojisi ve üstün performansı ile bu cihaz, nanoteknoloji, malzeme bilimi ve yarı iletken araştırmaları gibi alanlarda çalışan araştırmacılar ve mühendisler için benzersiz yetenekler sunar.

Atomik Kuvvet Mikroskobunun temel özelliklerinden biri, etkileyici bir 0,4 Nm olarak derecelendirilen XY yönündeki olağanüstü gürültü seviyesidir. Bu düşük gürültü seviyesi, özellikle hassas numuneler veya küçük ölçekli yapılarla çalışırken doğru ve güvenilir ölçümler sağlar. İster yarı iletkenler üzerinde araştırma yapıyor olun, ister gelişmiş malzemelerin özelliklerini araştırıyor olun, bu mikroskobun hassas XY yönü gürültü seviyesi size ihtiyacınız olan güveni ve doğruluğu sağlayacaktır.

Üstün gürültü performansına ek olarak, Atomik Kuvvet Mikroskobu 100 μm x 100 μm x 10 μm'lik geniş bir tarama aralığı sunar. Bu geniş tarama aralığı, çeşitli numune boyutlarından ve şekillerinden ayrıntılı görüntüler ve veriler yakalamanıza olanak tanır ve onu çok çeşitli malzeme ve yapıları incelemek için ideal bir araç haline getirir. İster nanoyapıları analiz ediyor olun, ister yüzey pürüzlülüğü ölçümleri yapıyor olun, bu mikroskobun çok yönlü tarama aralığı doğru ve kapsamlı sonuçlar elde etmenizi sağlar.

Atomik Kuvvet Mikroskobu ayrıca, çeşitli görüntüleme ve analiz tekniklerini kolaylıkla gerçekleştirmenize olanak tanıyan gelişmiş çok modlu ölçüm özellikleriyle donatılmıştır. İster topografi haritalama, ister kuvvet spektroskopisi veya diğer özel ölçümler yapmanız gereksin, bu mikroskop araştırma hedeflerinize ulaşmak için ihtiyacınız olan esnekliği ve performansı sunar. Çoklu modları ve çok yönlü yetenekleri ile Atomik Kuvvet Mikroskobu, çeşitli alanlarda çalışan araştırmacılar ve mühendisler için değerli bir araçtır.

Numune boyutu uyumluluğu söz konusu olduğunda, Atomik Kuvvet Mikroskobu 25 mm'lik bir numune boyutu ile geniş bir alan sunar. Bu cömert numune boyutu, küçük ölçekli yapılardan daha büyük numunelere kadar çok çeşitli numunelerle çalışmanıza olanak tanır ve onu çeşitli araştırma uygulamaları için çok yönlü bir araç haline getirir. İster biyolojik numuneler, ister ince filmler veya yarı iletken cihazlar üzerinde çalışıyor olun, bu mikroskobun geniş numune boyutu, araştırma ihtiyaçlarınızı karşılamak için size esneklik ve kolaylık sağlar.

Atomik Kuvvet Mikroskobunun bir diğer önemli özelliği, XY yönünde %0,02 ve Z yönünde %0,08'lik doğrusallık dışı oranlarla mükemmel doğrusallık performansıdır. Bu yüksek doğrusallık seviyesi, karmaşık veya zorlu numunelerle çalışırken bile ölçümlerinizin doğru ve güvenilir olmasını sağlar. İster yüzey profillerini analiz ediyor olun, ister malzeme özelliklerini ölçüyor olun, ister kuvvet-mesafe eğrileri gerçekleştiriyor olun, bu mikroskobun olağanüstü doğrusallığı, çok çeşitli uygulamalarda hassas ve tutarlı sonuçlar garanti eder.

Son olarak, Atomik Kuvvet Mikroskobu, sadece 0,04 Nm olarak derecelendirilen Z yönünde düşük bir gürültü seviyesine sahiptir. Bu minimum gürültü seviyesi, özellikle hassas dikey ölçümler gerektiren numunelerle çalışırken, yüksek çözünürlük ve netlikle ayrıntılı görüntüler ve veriler yakalamanıza olanak tanır. İster yüzey pürüzlülüğünü araştırıyor olun, ister film kalınlığını inceliyor olun, ister ince filmleri analiz ediyor olun, bu mikroskobun düşük Z yönü gürültü seviyesi, güvenle doğru ve güvenilir sonuçlar elde etmenizi sağlar.

Özellikler:

• Ürün Adı: Atomik Kuvvet Mikroskobu
• XY Yönündeki Gürültü Seviyesi: 0,4 Nm
• Tarama Yöntemi: XYZ Üç Eksenli Tam Numune Taraması
• Doğrusal Olmama: XY Yönünde %0,02 ve Z Yönünde %0,08
• Tarama Aralığı: 100 μm X100 μm x 10 μm
• Z Yönündeki Gürültü Seviyesi: 0,04 Nm

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Truth Instruments'ın Atomik Kuvvet Mikroskobu, model AtomEdge Pro, nanometre ölçeğinde yüksek hassasiyetli görüntüleme ve analiz için tasarlanmış, son teknoloji bir cihazdır. ÇİN'den gelen bu gelişmiş AFM, çeşitli endüstrilerdeki çok çeşitli uygulamalar için benzersiz yetenekler sunar.

AtomEdge Pro'nun temel özelliklerinden biri, 0,1 ila 30 Hz arasında değişen olağanüstü tarama hızıdır. Bu, kullanıcıların atomik çözünürlükte ayrıntılı görüntüler yakalamasına olanak tanır ve bu da onu araştırma laboratuvarlarında, akademik kurumlarda ve endüstriyel Ar-Ge departmanlarında nano ölçekli analiz yapmak için ideal hale getirir.

AtomEdge Pro'nun doğrusal olmaması, XY yönünde %0,02 ve Z yönünde %0,08 ile dikkate değer derecede düşüktür. Bu, yüzey topografyası çalışmaları, malzeme karakterizasyonu ve biyolojik görüntüleme gibi atomik çözünürlük gerektiren uygulamalar için çok önemli olan hassas ve doğru görüntüleme sağlar.

100 μm x 100 μm x 10 μm'lik bir tarama aralığı ve XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemi ile donatılan AtomEdge Pro, numune analizinde çok yönlülük sunar. İster nanoyapıları, ister ince filmleri veya biyolojik numuneleri inceleyin, bu AFM, yüzey özelliklerine olağanüstü çözünürlükle ayrıntılı bilgiler sağlar.

Ayrıca, Z yönündeki gürültü seviyesi 0,04 Nm kadar düşüktür ve yüksek sinyal-gürültü oranı ve güvenilir veri toplama sağlar. Bu, AtomEdge Pro'yu, atomik ölçekte hassas kuvvet ölçümleri ve doğru topografik haritalama gerektiren zorlu uygulamalar için uygun hale getirir.

Sonuç olarak, Truth Instruments AtomEdge Pro Atomik Kuvvet Mikroskobu, nanoteknoloji, malzeme bilimi ve biyolojik araştırmalarla uğraşan araştırmacılar, bilim insanları ve mühendisler için güçlü bir araçtır. Atomik çözünürlüklü görüntüleme ve nano ölçekli analiz dahil olmak üzere gelişmiş yetenekleri, onu yüksek hassasiyet ve çözünürlüğün gerekli olduğu çok çeşitli uygulamalar ve senaryolar için tercih edilen cihaz haline getirir.