Sistem AFM yang Dapat Disesuaikan Bahan Industri Ilmiah Mikroskop Dengan Skalabilitas Kuat

Deskripsi Produk:

Mikroskop Gaya Atom adalah alat canggih yang dirancang untuk pencitraan dan analisis presisi tinggi dalam berbagai aplikasi ilmiah dan industri. Dengan teknologi canggih dan kinerja superiornya, instrumen ini menawarkan kemampuan tak tertandingi bagi para peneliti dan insinyur yang bekerja di bidang seperti nanoteknologi, ilmu material, dan penelitian semikonduktor.

Salah satu fitur utama dari Mikroskop Gaya Atom adalah tingkat kebisingan yang luar biasa dalam arah XY, yang dinilai pada 0,4 Nm yang mengesankan. Tingkat kebisingan yang rendah ini memastikan pengukuran yang akurat dan andal, terutama saat bekerja dengan sampel sensitif atau struktur skala kecil. Baik Anda melakukan penelitian tentang semikonduktor atau menyelidiki sifat-sifat material canggih, tingkat kebisingan arah XY yang tepat dari mikroskop ini akan memberi Anda kepercayaan diri dan akurasi yang Anda butuhkan.

Selain kinerja kebisingan yang superior, Mikroskop Gaya Atom menawarkan rentang pemindaian yang luas yaitu 100 μm x 100 μm x 10 μm. Rentang pemindaian yang luas ini memungkinkan Anda untuk menangkap gambar dan data terperinci dari berbagai ukuran dan bentuk sampel, menjadikannya alat yang ideal untuk mempelajari berbagai macam material dan struktur. Baik Anda menganalisis nanostruktur atau melakukan pengukuran kekasaran permukaan, rentang pemindaian serbaguna dari mikroskop ini memastikan bahwa Anda dapat mencapai hasil yang akurat dan komprehensif.

Mikroskop Gaya Atom juga dilengkapi dengan fitur-fitur canggih untuk pengukuran multi-mode, yang memungkinkan Anda melakukan berbagai teknik pencitraan dan analisis dengan mudah. Apakah Anda perlu melakukan pemetaan topografi, spektroskopi gaya, atau pengukuran khusus lainnya, mikroskop ini menawarkan fleksibilitas dan kinerja yang Anda butuhkan untuk memenuhi tujuan penelitian Anda. Dengan berbagai mode dan kemampuan serbagunanya, Mikroskop Gaya Atom adalah alat yang berharga bagi para peneliti dan insinyur yang bekerja di berbagai bidang.

Dalam hal kompatibilitas ukuran sampel, Mikroskop Gaya Atom menawarkan ruang yang cukup dengan ukuran sampel 25 mm. Ukuran sampel yang besar ini memungkinkan Anda untuk bekerja dengan berbagai sampel, dari struktur skala kecil hingga spesimen yang lebih besar, menjadikannya alat serbaguna untuk berbagai aplikasi penelitian. Baik Anda mempelajari sampel biologis, film tipis, atau perangkat semikonduktor, ukuran sampel yang cukup dari mikroskop ini memberi Anda fleksibilitas dan kenyamanan untuk mengakomodasi kebutuhan penelitian Anda.

Atribut penting lainnya dari Mikroskop Gaya Atom adalah kinerja linearitasnya yang sangat baik, dengan peringkat non-linearitas 0,02% dalam arah XY dan 0,08% dalam arah Z. Tingkat linearitas yang tinggi ini memastikan bahwa pengukuran Anda akurat dan andal, bahkan saat bekerja dengan sampel yang kompleks atau menantang. Baik Anda menganalisis profil permukaan, mengukur sifat material, atau melakukan kurva gaya-jarak, linearitas luar biasa dari mikroskop ini menjamin hasil yang tepat dan konsisten di berbagai aplikasi.

Terakhir, Mikroskop Gaya Atom menawarkan tingkat kebisingan yang rendah dalam arah Z, yang dinilai hanya 0,04 Nm. Tingkat kebisingan minimal ini memungkinkan Anda untuk menangkap gambar dan data terperinci dengan resolusi dan kejernihan tinggi, terutama saat bekerja dengan sampel yang memerlukan pengukuran vertikal yang tepat. Baik Anda menyelidiki kekasaran permukaan, mempelajari ketebalan film, atau menganalisis film tipis, tingkat kebisingan arah Z yang rendah dari mikroskop ini memastikan bahwa Anda dapat mencapai hasil yang akurat dan andal dengan percaya diri.

Fitur:

• Nama Produk: Mikroskop Gaya Atom
• Tingkat Kebisingan dalam Arah XY: 0,4 Nm
• Metode Pemindaian: Pemindaian Sampel Penuh Tiga Sumbu XYZ
• Nonlinearitas: 0,02% Dalam Arah XY Dan 0,08% Dalam Arah Z
• Rentang Pemindaian: 100 μm X100 μm x 10 μm
• Tingkat Kebisingan dalam Arah Z: 0,04 Nm

Parameter Teknis:

Aplikasi:

Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments, model AtomEdge Pro, adalah instrumen canggih yang dirancang untuk pencitraan dan analisis presisi tinggi pada tingkat skala nano. Dengan asal dari CHINA, AFM canggih ini menawarkan kemampuan tak tertandingi untuk berbagai aplikasi di berbagai industri.

Salah satu fitur utama dari AtomEdge Pro adalah laju pemindaiannya yang luar biasa, mulai dari 0,1 hingga 30 Hz. Hal ini memungkinkan pengguna untuk menangkap gambar terperinci dengan resolusi atom, menjadikannya ideal untuk melakukan analisis skala nano di laboratorium penelitian, lembaga akademik, dan departemen R&D industri.

Nonlinearitas AtomEdge Pro sangat rendah, yaitu 0,02% dalam arah XY dan 0,08% dalam arah Z. Hal ini memastikan pencitraan yang tepat dan akurat, yang sangat penting untuk aplikasi yang memerlukan resolusi atom seperti studi topografi permukaan, karakterisasi material, dan pencitraan biologis.

Dilengkapi dengan rentang pemindaian 100 μm x 100 μm x 10 μm dan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, AtomEdge Pro menawarkan keserbagunaan dalam analisis sampel. Baik memeriksa nanostruktur, film tipis, atau sampel biologis, AFM ini memberikan wawasan terperinci tentang sifat permukaan dengan resolusi yang luar biasa.

Selanjutnya, tingkat kebisingan dalam arah Z serendah 0,04 Nm, menjamin rasio sinyal-ke-kebisingan yang tinggi dan akuisisi data yang andal. Hal ini membuat AtomEdge Pro cocok untuk aplikasi yang menuntut yang memerlukan pengukuran gaya yang tepat dan pemetaan topografi yang akurat pada skala atom.

Kesimpulannya, Mikroskop Gaya Atom Truth Instruments AtomEdge Pro adalah alat yang ampuh bagi para peneliti, ilmuwan, dan insinyur yang terlibat dalam nanoteknologi, ilmu material, dan penelitian biologi. Kemampuannya yang canggih, termasuk pencitraan resolusi atom dan analisis skala nano, menjadikannya instrumen pilihan untuk berbagai aplikasi dan skenario di mana presisi dan resolusi tinggi sangat penting.