Sistema AFM personalizzabile per materiali scientifici e industriali, microscopi con forte scalabilità

Descrizione del prodotto:

Il microscopio della forza atomica è uno strumento all'avanguardia progettato per l'imaging e l'analisi ad alta precisione in varie applicazioni scientifiche e industriali.Con la sua tecnologia avanzata e prestazioni superiori, questo strumento offre capacità ineguagliabili per ricercatori e ingegneri che lavorano in settori quali la nanotecnologia, la scienza dei materiali e la ricerca sui semiconduttori.

Una delle caratteristiche chiave del microscopio delle forze atomiche è il suo eccezionale livello di rumore nella direzione XY, che è valutato a un impressionante 0,4 Nm.Questo basso livello di rumore garantisce misure accurate e affidabili, specialmente quando si lavorano con campioni sensibili o strutture su piccola scala.il livello di rumore preciso della direzione XY di questo microscopio vi fornirà la sicurezza e la precisione di cui avete bisogno.

Oltre alle sue prestazioni di rumore superiori, il microscopio Atomic Force offre una gamma di scansione generosa di 100 μm x 100 μm x 10 μm.Questa ampia gamma di scansione consente di catturare immagini dettagliate e dati da una varietà di dimensioni e forme di campione, che lo rende uno strumento ideale per studiare una vasta gamma di materiali e strutture.la gamma di scansione versatile di questo microscopio garantisce che si possano ottenere risultati accurati e completi.

Il microscopio della forza atomica è inoltre dotato di funzionalità avanzate per la misurazione multi-modo, consentendo di eseguire una varietà di tecniche di analisi e imaging con facilità.Se è necessario condurre la mappatura topografica, spettroscopia di forza, o altre misure specializzate, questo microscopio offre la flessibilità e le prestazioni necessarie per raggiungere i vostri obiettivi di ricerca.Con le sue molteplici modalità e le sue capacità versatili, il microscopio della forza atomica è uno strumento prezioso per ricercatori e ingegneri che lavorano in diversi campi.

Quando si tratta di compatibilità delle dimensioni del campione, il microscopio Atomic Force offre ampio spazio con una dimensione del campione di 25 mm.da strutture su piccola scala a esemplari più grandi, che lo rende uno strumento versatile per varie applicazioni di ricerca.la grande dimensione del campione di questo microscopio offre la flessibilità e la comodità per soddisfare le vostre esigenze di ricerca.

Un altro attributo importante del microscopio è la sua eccellente performance di linearità, con valori di non linearità dello 0,02% nella direzione XY e dello 0,08% nella direzione Z.Questo elevato livello di linearità garantisce che le misure siano accurate e affidabili, anche quando si lavorano con campioni complessi o difficili, sia che si analizzino profili superficiali, si misurino proprietà dei materiali o si effettuino curve di forza-distanza,l' eccezionale linearità di questo microscopio garantisce risultati precisi e coerenti in una vasta gamma di applicazioni.

Infine, il microscopio della forza atomica vanta un basso livello di rumore nella direzione Z, di soli 0,04 Nm.Questo livello di rumore minimo consente di catturare immagini e dati dettagliati con elevata risoluzione e chiarezza, in particolare quando si lavora con campioni che richiedono precise misurazioni verticali.il basso livello di rumore della direzione Z di questo microscopio garantisce di ottenere risultati accurati e affidabili con fiducia.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica
• Livello di rumore nella direzione XY: 0,4 Nm
• Metodo di scansione: XYZ Scansione completa del campione a tre assi
• Non linearità: 0,02% nella direzione XY e 0,08% nella direzione Z
• Distanza di scansione: 100 μm x 100 μm x 10 μm
• Livello di rumore nella direzione Z: 0,04 Nm

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il microscopio di forza atomica di Truth Instruments, modello AtomEdge Pro, è uno strumento all'avanguardia progettato per l'imaging e l'analisi ad alta precisione a livello nanometrico.Questo avanzato AFM offre capacità senza pari per una vasta gamma di applicazioni in vari settori.

Una delle caratteristiche chiave dell'AtomEdge Pro è la sua eccezionale velocità di scansione, che va da 0,1 a 30 Hz.rendendolo ideale per condurre analisi su nanoscala nei laboratori di ricerca, istituti accademici e dipartimenti di ricerca e sviluppo industriali.

La non linearità dell'AtomEdge Pro è notevolmente bassa, pari allo 0,02% nella direzione XY e allo 0,08% nella direzione Z. Questo garantisce un'immagine precisa e accurata,fondamentale per le applicazioni che richiedono una risoluzione atomica, come gli studi di topografia superficiale, caratterizzazione del materiale e imaging biologico.

Dotato di una gamma di scansione di 100 μm x 100 μm x 10 μm e di un metodo di scansione di campioni completi a tre assi XYZ, l'AtomEdge Pro offre una versatilità nell'analisi dei campioni.film sottili, o campioni biologici, questo AFM fornisce informazioni dettagliate sulle proprietà superficiali con una risoluzione eccezionale.

Inoltre, il livello di rumore nella direzione Z è inferiore a 0,04 Nm, garantendo un elevato rapporto segnale/rumore e un'acquisizione dei dati affidabile.Questo rende l'AtomEdge Pro adatto per applicazioni impegnative che richiedono misure di forza precise e una mappatura topografica accurata su scala atomica.

In conclusione, l'AtomEdge Pro Atomic Force Microscope di Truth Instruments è uno strumento potente per ricercatori, scienziati e ingegneri coinvolti in nanotecnologia, scienza dei materiali,e ricerca biologicaLe sue capacità avanzate, comprese le immagini a risoluzione atomica e le analisi su scala nanometrica,rendere lo strumento di scelta per una vasta gamma di applicazioni e scenari in cui è essenziale un'elevata precisione e risoluzione.