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अनुकूलन योग्य एएफएम सिस्टम वैज्ञानिक औद्योगिक सामग्री माइक्रोस्कोप मजबूत मापनीयता के साथ

Customizable AFM System with Strong Scalability for Your Research Product Description: The Atomic Force Microscope is a cutting-edge tool designed for high-precision imaging and analysis in various scientific and industrial applications. With its advanced technology and superior performance, this instrument offers unparalleled capabilities for researchers and engineers working in fields such as nanotechnology, materials science, and semiconductor research. One of the key
उत्पाद का विवरण
प्रमुखता देना:

अनुकूलन योग्य एएफएम सिस्टम

,

वैज्ञानिक सामग्री माइक्रोस्कोप

,

औद्योगिक सामग्री माइक्रोस्कोप

Name: एएफएम प्रणाली
Scanning Rate: 0.1-30 हर्ट्ज
Sample Size: 25 मिमी
Scanning Method: XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग
Noise Level In The XY Direction: 0.4 एनएम
Nonlinearity: XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%
Scanning Range: 100 μM X100 μMX 10 माइक्रोन
Noise Level In The Z Direction: 0.04 एनएम

मूल गुण

ब्रांड नाम: Truth Instruments
मॉडल संख्या: परमाणु -समर्थक

व्यापारिक संपत्तियाँ

कीमत: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
भुगतान की शर्तें: टी/टी
उत्पाद का वर्णन

आपके अनुसंधान के लिए मजबूत मापनीयता के साथ अनुकूलन योग्य एएफएम सिस्टम

उत्पाद विवरण:

परमाणु बल माइक्रोस्कोप एक अत्याधुनिक उपकरण है जिसे विभिन्न वैज्ञानिक और औद्योगिक अनुप्रयोगों में उच्च-सटीक इमेजिंग और विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया है। अपनी उन्नत तकनीक और बेहतर प्रदर्शन के साथ, यह उपकरण नैनोप्रौद्योगिकी, सामग्री विज्ञान और अर्धचालक अनुसंधान जैसे क्षेत्रों में काम करने वाले शोधकर्ताओं और इंजीनियरों के लिए अद्वितीय क्षमताएं प्रदान करता है।

परमाणु बल माइक्रोस्कोप की प्रमुख विशेषताओं में से एक XY दिशा में इसका असाधारण शोर स्तर है, जो प्रभावशाली 0.4 एनएम पर रेट किया गया है। यह कम शोर स्तर सटीक और विश्वसनीय माप सुनिश्चित करता है, खासकर संवेदनशील नमूनों या छोटे पैमाने की संरचनाओं पर काम करते समय। चाहे आप अर्धचालकों पर शोध कर रहे हों या उन्नत सामग्रियों के गुणों की जांच कर रहे हों, इस माइक्रोस्कोप का सटीक XY दिशा शोर स्तर आपको वह आत्मविश्वास और सटीकता प्रदान करेगा जिसकी आपको आवश्यकता है।

अपने बेहतर शोर प्रदर्शन के अलावा, परमाणु बल माइक्रोस्कोप 100 μm x 100 μm x 10 μm की एक उदार स्कैनिंग रेंज प्रदान करता है। यह विस्तृत स्कैनिंग रेंज आपको विभिन्न नमूना आकारों और आकारों से विस्तृत छवियों और डेटा को कैप्चर करने की अनुमति देती है, जिससे यह विभिन्न प्रकार की सामग्रियों और संरचनाओं का अध्ययन करने के लिए एक आदर्श उपकरण बन जाता है। चाहे आप नैनोस्ट्रक्चर का विश्लेषण कर रहे हों या सतह खुरदरापन माप कर रहे हों, इस माइक्रोस्कोप की बहुमुखी स्कैनिंग रेंज यह सुनिश्चित करती है कि आप सटीक और व्यापक परिणाम प्राप्त कर सकें।

परमाणु बल माइक्रोस्कोप मल्टी-मोड माप के लिए उन्नत सुविधाओं से भी लैस है, जो आपको आसानी से विभिन्न प्रकार की इमेजिंग और विश्लेषण तकनीकों को करने की अनुमति देता है। चाहे आपको टोपोग्राफी मैपिंग, बल स्पेक्ट्रोस्कोपी, या अन्य विशेष माप करने की आवश्यकता हो, यह माइक्रोस्कोप आपको अपने शोध उद्देश्यों को पूरा करने के लिए आवश्यक लचीलापन और प्रदर्शन प्रदान करता है। अपने कई मोड और बहुमुखी क्षमताओं के साथ, परमाणु बल माइक्रोस्कोप विभिन्न क्षेत्रों में काम करने वाले शोधकर्ताओं और इंजीनियरों के लिए एक मूल्यवान उपकरण है।

नमूना आकार संगतता की बात करें तो, परमाणु बल माइक्रोस्कोप 25 मिमी के नमूना आकार के साथ पर्याप्त स्थान प्रदान करता है। यह उदार नमूना आकार आपको छोटे पैमाने की संरचनाओं से लेकर बड़े नमूनों तक, विभिन्न प्रकार के नमूनों के साथ काम करने की अनुमति देता है, जिससे यह विभिन्न शोध अनुप्रयोगों के लिए एक बहुमुखी उपकरण बन जाता है। चाहे आप जैविक नमूनों, पतली फिल्मों या अर्धचालक उपकरणों का अध्ययन कर रहे हों, इस माइक्रोस्कोप का पर्याप्त नमूना आकार आपको अपनी शोध आवश्यकताओं को समायोजित करने के लिए लचीलापन और सुविधा प्रदान करता है।

परमाणु बल माइक्रोस्कोप का एक और महत्वपूर्ण गुण इसका उत्कृष्ट रैखिकता प्रदर्शन है, जिसमें XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08% की गैर-रैखिकता रेटिंग है। रैखिकता का यह उच्च स्तर यह सुनिश्चित करता है कि आपके माप सटीक और विश्वसनीय हैं, यहां तक कि जटिल या चुनौतीपूर्ण नमूनों पर काम करते समय भी। चाहे आप सतह प्रोफाइल का विश्लेषण कर रहे हों, सामग्री के गुणों को माप रहे हों, या बल-दूरी वक्र का संचालन कर रहे हों, इस माइक्रोस्कोप की असाधारण रैखिकता विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोगों में सटीक और सुसंगत परिणाम की गारंटी देती है।

अंत में, परमाणु बल माइक्रोस्कोप Z दिशा में एक कम शोर स्तर का दावा करता है, जो केवल 0.04 एनएम पर रेट किया गया है। यह न्यूनतम शोर स्तर आपको उच्च रिज़ॉल्यूशन और स्पष्टता के साथ विस्तृत छवियों और डेटा को कैप्चर करने की अनुमति देता है, खासकर उन नमूनों पर काम करते समय जिन्हें सटीक ऊर्ध्वाधर माप की आवश्यकता होती है। चाहे आप सतह खुरदरापन की जांच कर रहे हों, फिल्म की मोटाई का अध्ययन कर रहे हों, या पतली फिल्मों का विश्लेषण कर रहे हों, इस माइक्रोस्कोप का कम Z दिशा शोर स्तर यह सुनिश्चित करता है कि आप आत्मविश्वास के साथ सटीक और विश्वसनीय परिणाम प्राप्त कर सकें।

 

विशेषताएँ:

  • उत्पाद का नाम: परमाणु बल माइक्रोस्कोप
  • XY दिशा में शोर स्तर: 0.4 एनएम
  • स्कैनिंग विधि: XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग
  • गैर-रैखिकता: XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%
  • स्कैनिंग रेंज: 100 μm X100 μm x 10 μm
  • Z दिशा में शोर स्तर: 0.04 एनएम
 

तकनीकी पैरामीटर:

स्कैनिंग दर 0.1-30 हर्ट्ज
गैर-रैखिकता XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08%
स्कैनिंग रेंज 100 μm x 100 μm x 10 μm
XY दिशा में शोर स्तर 0.4 एनएम
Z दिशा में शोर स्तर 0.04 एनएम
नमूना आकार 25 मिमी
स्कैनिंग विधि XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग
 

अनुप्रयोग:

ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स का परमाणु बल माइक्रोस्कोप, मॉडल एटमएज प्रो, नैनोस्केल स्तर पर उच्च-सटीक इमेजिंग और विश्लेषण के लिए डिज़ाइन किया गया एक अत्याधुनिक उपकरण है। चीन में इसकी उत्पत्ति के साथ, यह उन्नत एएफएम विभिन्न उद्योगों में विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोगों के लिए अद्वितीय क्षमताएं प्रदान करता है।

एटमएज प्रो की प्रमुख विशेषताओं में से एक इसकी असाधारण स्कैनिंग दर है, जो 0.1 से 30 हर्ट्ज तक है। यह उपयोगकर्ताओं को परमाणु रिज़ॉल्यूशन के साथ विस्तृत छवियों को कैप्चर करने की अनुमति देता है, जिससे यह अनुसंधान प्रयोगशालाओं, शैक्षणिक संस्थानों और औद्योगिक आर एंड डी विभागों में नैनोस्केल विश्लेषण करने के लिए आदर्श बन जाता है।

एटमएज प्रो की गैर-रैखिकता उल्लेखनीय रूप से कम है, जो XY दिशा में 0.02% और Z दिशा में 0.08% है। यह सटीक और सटीक इमेजिंग सुनिश्चित करता है, जो सतह टोपोग्राफी अध्ययन, सामग्री लक्षण वर्णन और जैविक इमेजिंग जैसे अनुप्रयोगों के लिए महत्वपूर्ण है।

100 μm x 100 μm x 10 μm की स्कैनिंग रेंज और XYZ तीन-अक्ष पूर्ण नमूना स्कैनिंग विधि से लैस, एटमएज प्रो नमूना विश्लेषण में बहुमुखी प्रतिभा प्रदान करता है। चाहे नैनोस्ट्रक्चर, पतली फिल्मों या जैविक नमूनों की जांच की जा रही हो, यह एएफएम असाधारण रिज़ॉल्यूशन के साथ सतह गुणों में विस्तृत अंतर्दृष्टि प्रदान करता है।

इसके अतिरिक्त, Z दिशा में शोर स्तर 0.04 एनएम जितना कम है, जो उच्च सिग्नल-टू-शोर अनुपात और विश्वसनीय डेटा अधिग्रहण की गारंटी देता है। यह एटमएज प्रो को उन मांग वाले अनुप्रयोगों के लिए उपयुक्त बनाता है जिनके लिए सटीक बल माप और परमाणु पैमाने पर सटीक टोपोग्राफिकल मैपिंग की आवश्यकता होती है।

निष्कर्ष में, ट्रुथ इंस्ट्रूमेंट्स एटमएज प्रो परमाणु बल माइक्रोस्कोप नैनोप्रौद्योगिकी, सामग्री विज्ञान और जैविक अनुसंधान में शामिल शोधकर्ताओं, वैज्ञानिकों और इंजीनियरों के लिए एक शक्तिशाली उपकरण है। इसकी उन्नत क्षमताएं, जिसमें परमाणु रिज़ॉल्यूशन इमेजिंग और नैनोस्केल विश्लेषण शामिल हैं, इसे विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोगों और परिदृश्यों के लिए पसंद का उपकरण बनाती हैं जहां उच्च परिशुद्धता और रिज़ॉल्यूशन आवश्यक हैं।

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