logo
Tel.: +86-532-89267428 E-mail: tangzhongjie@truth-instruments.com
Kwaliteit Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen fabriek
Kwaliteit Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen fabriek

Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen

Product Introduction The AtomEdge Pro Multifunctional Atomic Force Microscope enables sub-nanometer-scale 3D scanning, imaging and characterization of materials, electronic devices, biological samples, and other specimens, and is widely used in fields such as materials science, chemistry and environmental science, semiconductors, microelectronics, biomedicine, and more. Featuring multiple operating modes including contact, tapping, and non-contact, it offers users greater
Markeringen:

AFM -microscoop

AFM-systemen

Microscoop met scannerprobe
Productdetails
Markeren:

Ruisarme Z-as atoomkrachtmicroscoop

,

Hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen

,

Z-as voor AFM-nanoschaalanalyse

Basiseigenschappen

Plaats van herkomst: China
Merknaam: Truth Instruments
Modelnummer: Atomedge Pro

Handelsgoederen

Minimale bestelhoeveelheid: 1
Prijs: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Betalingsvoorwaarden: T/T
Productomschrijving
Product Introductie

De AtomEdge Pro Multifunctionele Atomic Force Microscoop maakt 3D-scanning, beeldvorming en karakterisering van materialen, elektronische apparaten, biologische monsters en andere specimens op sub-nanometerschaal mogelijk en wordt veel gebruikt in gebieden als materiaalkunde, chemie en milieuwetenschappen, halfgeleiders, micro-elektronica, biomedische wetenschap en meer. Met meerdere werkingsmodi, waaronder contact, tapping en non-contact, biedt het gebruikers meer flexibiliteit en precisie in de bediening. Bovendien integreert het verschillende technieken zoals Magnetic Force Microscopy, Electrostatic Force Microscopy, Scanning Kelvin Microscopy en Piezoelectric Force Microscopy, wat zorgt voor robuuste stabiliteit en uitstekende uitbreidbaarheid. Verder kunnen functionele modules flexibel worden aangepast om aan specifieke gebruikersvereisten te voldoen, waardoor op maat gemaakte oplossingen worden geleverd voor specifieke onderzoeksgebieden en een zeer efficiënt, multifunctioneel inspectieplatform wordt gecreëerd.

Apparatuur Prestaties
Item Specificatie
Monstergrootte Compatibel met monsters met een diameter van 25 mm
Scanningsmethode XYZ Drie-Assige Volledige-Monster Scanning
Scanningsbereik 100 μm × 100 μm × 10 μm
Scansnelheid 0.1 Hz - 30 Hz
Z-As Ruisniveau 0.04 nm
Non-lineariteit XY-richting: 0.02%; Z-richting: 0.08%
Beeld Bemonsteringspunten 32×32 - 4096×4096
Werkingsmodus Contactmodus, Tapmodus, Fasebeeldmodus, Liftmodus, Multi-Directionele Scanningsmodus
Multifunctionele Metingen

Electrostatic Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), Scanning Capacitive Atomic Force Microscope (SCM), Magnetic Force Microscope (MFM); Optioneel: Conductive Atomic Force Microscope (C-AFM)

Toepassingen

Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen 0

Strontiumtitanaat(STO)Tapmodus

Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen 1

Doolhofdomein enSkyrmions in MTJ Stack:SAF/MgO/Ta/Co/Pt)⁹Magnetic Force Microscope(MFM)

Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen 2

Bismutvanadaatdunne filmScanningKelvin Microscope(KPFM)

Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen 3

Perovskiet (FAPbI₃) Conductive Atomic ForceMicroscope (C-AFM)

Stuur een aanvraag

Krijg een snel citaat