logo

Άξονας Z χαμηλού θορύβου για χαρακτηρισμό υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας

Product Introduction The AtomEdge Pro Multifunctional Atomic Force Microscope enables sub-nanometer-scale 3D scanning, imaging and characterization of materials, electronic devices, biological samples, and other specimens, and is widely used in fields such as materials science, chemistry and environmental science, semiconductors, microelectronics, biomedicine, and more. Featuring multiple operating modes including contact, tapping, and non-contact, it offers users greater
Λεπτομέρειες προιόντος
Επισημαίνω:

Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης με χαμηλό θόρυβο στον άξονα Z

,

Χαρακτηρισμός υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας

,

Άξονας Z για ανάλυση σε νανοκλίμακα AFM

Βασικές ιδιότητες

Τόπος προέλευσης: Κίνα
Ονομασία μάρκας: Truth Instruments
Αριθμός μοντέλου: Ψεκασμός

Εμπορικά Ακίνητα

Ελάχιστη ποσότητα παραγγελίας: 1
Τιμή: Price Negotiable | Contact us for a detailed quote
Όροι πληρωμής: T/T
Περιγραφή προϊόντων
Εισαγωγή Προϊόντος

Το Πολυλειτουργικό Μικροσκόπιο Ατομικής Δύναμης AtomEdge Pro επιτρέπει την τρισδιάστατη σάρωση, απεικόνιση και χαρακτηρισμό υλικών, ηλεκτρονικών συσκευών, βιολογικών δειγμάτων και άλλων δειγμάτων σε κλίμακα υπονανομέτρων, και χρησιμοποιείται ευρέως σε τομείς όπως η επιστήμη των υλικών, η χημεία και η περιβαλλοντική επιστήμη, ημιαγωγοί, μικροηλεκτρονική, βιομηχανική. Διαθέτοντας πολλαπλούς τρόπους λειτουργίας, συμπεριλαμβανομένων της επαφής, του χτυπήματος και της μη επαφής, προσφέρει στους χρήστες μεγαλύτερη ευελιξία και ακρίβεια στη λειτουργία. Επιπλέον, ενσωματώνει διάφορες τεχνικές, όπως Μικροσκόπηση Μαγνητικής Δύναμης, Μικροσκοπία Ηλεκτροστατικής Δύναμης, Μικροσκοπία Σάρωσης Kelvin και Μικροσκοπία Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης, παρέχοντας στιβαρή σταθερότητα και εξαιρετική δυνατότητα επέκτασης. Επιπλέον, οι λειτουργικές μονάδες μπορούν να προσαρμοστούν ευέλικτα για να ανταποκρίνονται σε συγκεκριμένες απαιτήσεις των χρηστών, παρέχοντας προσαρμοσμένες λύσεις σε συγκεκριμένα ερευνητικά πεδία και δημιουργώντας μια εξαιρετικά αποτελεσματική πλατφόρμα επιθεώρησης πολλαπλών χρήσεων.

Απόδοση Εξοπλισμού
Είδος Προσδιορισμός
Μέγεθος δείγματος Συμβατό με δείγματα με διάμετρο 25 mm
Μέθοδος σάρωσης Σάρωση πλήρους δείγματος XYZ τριών αξόνων
Εύρος σάρωσης 100 μm × 100 μm × 10 μm
Ρυθμός σάρωσης 0,1 Hz - 30 Hz
Επίπεδο θορύβου άξονα Z 0,04 nm
Μη γραμμικότητα XY Κατεύθυνση: 0,02%; Z Κατεύθυνση: 0,08%
Σημεία δειγματοληψίας εικόνας 32×32 - 4096×4096
Λειτουργία Λειτουργία επαφής, Λειτουργία πατήματος, Λειτουργία απεικόνισης φάσης, Λειτουργία ανύψωσης, Λειτουργία σάρωσης πολλαπλών κατευθύνσεων
Πολυλειτουργικές μετρήσεις

Ηλεκτροστατικό Μικροσκόπιο Δύναμης (EFM), Μικροσκόπιο Σάρωσης Kelvin (KPFM), Μικροσκόπιο Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM), Μικροσκόπιο Χωρητικής Ατομικής Δύναμης σάρωσης (SCM), Μικροσκόπιο Μαγνητικής Δύναμης (MFM); Προαιρετικό: Μικροσκόπιο Αγωγής Ατομικής Δύναμης (C-AFM)

Εφαρμογές

Άξονας Z χαμηλού θορύβου για χαρακτηρισμό υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας 0

Τιτανικό στρόντιο (STO)Λειτουργία πατήματος

Άξονας Z χαμηλού θορύβου για χαρακτηρισμό υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας 1

Maze Domain καιSkyrmions σε στοίβα MTJ:SAF/MgO/Ta/Co/Pt)₉Μικροσκόπιο Μαγνητικής Δύναμης (MFM)

Άξονας Z χαμηλού θορύβου για χαρακτηρισμό υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας 2

Βαναδικό βισμούθιολεπτή μεμβράνη ΣάρωσηΜικροσκόπιο Kelvin (KPFM)

Άξονας Z χαμηλού θορύβου για χαρακτηρισμό υλικών σε νανοκλίμακα υψηλής ακρίβειας 3

Περοβσκίτης (FAPbI3)Αγώγιμο μικροσκόπιο ατομικής δύναμης (C-AFM)

Στείλε Ερευνά

Πάρτε μια γρήγορη προσφορά